间隔环正反放置状态的检测方法技术

本发明专利技术涉及一种间隔环的正反放置状态的检测方法，其包括步骤：提供一个用于产生激光光束的激光产生装置以及一个用于探测所述激光光束的激光探测装置；将待测间隔环置于所述激光光束光路中的预定位置，该预定位置的设置可使待测间隔环在正反两种放置状态时允许或阻止激光光束透过其透光孔，相应的，所述激光探测装置则能或不能探测到激光光束；启动激光产生装置以产生激光光束并利用激光探测装置探测激光束，根据激光探测装置是否探测到激光光束检测间隔环的放置状态。该间隔环正反放置状态的检测方法可快速、准确地检测间隔环的正反放置状态。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种。技术背景随着光学成像技术的发展，镜头模组在各种成像装置如数码相 机、摄像机中得到广泛的应用，而整合有镜头模组的手机、笔记本 电脑等电子装置，则更是得到众多消费者的青睐。现有的镜头模组通常包括收容于镜筒内的多个透镜、滤光片等 光学元件，以及间隔环等。所述间隔环设置于两相邻的光学元件之 间，其用于控制各光学元件之间距离，以防止相邻光学元件之间发 生摩擦或碰撞，从而避免透镜、滤光片等光学元件受损。如图1所示，常见的间隔环10包括相对设置的第一表面101 及第二表面102，用于与镜筒内壁接触的圓周侧面103,以及可供光 线透过的直径沿间隔环10厚度方向渐变的圆台状透光孔104。所述 圆台状透光孔104连通所述第一表面IOI及第二表面102,并且该 圓台状透光孔104的直径从第 一表面101 —侧至第二表面102 —侧 沿间隔环厚度方向逐渐变小。在此，定义间隔环10的第一表面101 为间隔环10的正面，定义间隔10的第二表面102为间隔环10的反 面。参见图2及图3，当间隔环10的正面朝向发散透镜20的出射 面时，间隔环10将会阻挡部分经由发散透镜20发散的有效光线， 从而会影响镜头模组的成像质量；而当间隔环10的反面朝向发散透 镜20的出射面时，由于圆台状透光孔104的直径沿光线的传播方向 逐渐变大，从而可避免遮挡经由发散透镜20发散的有效光线。因此， 在将间隔环组装入镜头模组之前，需要检测待组装间隔环的正反放 置状态，以防止将间隔环的方向装反。有鉴于此，有必要提供一种， 其可快速、准确地检测间隔环的正反放置状态。
技术实现思路
下面将以实施例说明一种间隔环正反放置状态的^r测方法，其 可快速、准确地检测间隔环的正反放置状态。一种，其包括步骤提供一个 用于产生激光光束的激光产生装置以及一个用于探测所述激光光束 的激光探测装置；将待测间隔环置于所述激光光束光路中的预定位 置，该预定位置的设置可使待测间隔环在正反两种放置状态时允许 或阻止激光光束透过其透光孔，相应的，所述激光探测装置则能或 不能探测到激光光束；启动激光产生装置以产生激光光束并利用激 光探测装置探测激光束，根据激光探测装置是否探测到激光光束检 测间隔环的放置状态。相较于现有技术，所述，其采 用激光光束照射待测间隔环，由于待测间隔环处于正反两种不同的 放置状态时将允许或阻止激光光束穿过间隔环的透光孔，进而可根 据激光探测装置是否探测到激光光束来判别间隔环的放置状态，其 可快速、准确地;险测间隔环的正反放置状态。附图说明图l是现有的间隔环的结构示意图。图2是图l所示间隔环与发散透镜以第一种状态配合组装时的入 射光线光路图。图3是图1所示间隔环与发散透镜以第二种状态配合组装时的入 射光线光路图。图4是本专利技术实施例激光探测装置探测到激光光束的示意图。 图5是本专利技术实施例激光探测装置未探测到激光光束的示意图。具体实施方式下面将结合附图对本专利技术实施例作进一步详细说明。参见图4至图5,本专利技术实施例提供的间隔环10正反放置状态 的检测方法包括步骤(1) 提供一个激光产生装置30及一个激光探测装置40。 该激光产生装置30用于产生激光光束(图中箭头所示)。所述激光产生装置30可采用红外波段的激光器，如二氧化碳激光器，二极 管激光器，以及掺钕钇铝石榴石(Nd-YAG)激光器、镱钇铝石榴石 (Yd-YAG)激光器、钕钒酸盐(Nd-Vanadate)激光器等固态激光器。该 激光探测装置40用于探测激光产生装置30产生的激光光束，从而 所述激光产生装置30与激光探测装置40之间形成激光光束的光路 (图中箭头所示)。该激光探测装置40可为激光感测器。(2) 提供一个间隔环10，将该间隔环IO置于所述激光光束光路 中的预定位置。所述间隔环10为环状，其具有第一表面101，第二表面102及 圓台状透光孔104。所述透光孔104的直径沿间隔环IO的厚度方向 渐变，并且该透光孔104与间隔环10的第一表面101及第二表面 102的交接处分别形成第 一开口 1041及第二开口 1042。所述第一开 口 1041的直径大于第二开口 1042的直径。间隔环10的第一开口 1041在第二表面102上的投影与第二开口 1042之间形成 一 个环形 区域1020。间隔环10的第二开口 1042在第一表面101所处平面上 的投影与第 一开口 1041之间形成一个虚拟的环形区域1010。将间隔环IO置于激光产生装置30与激光探测装置40之间的激 光光束光路中时，该间隔环IO具有两种放置状态(a).正放置状态， 即间隔环10的第 一表面101朝向激光产生装置30，而第二表面102 朝向激光探测装置40(如图4所示)。(b).反放置状态，即间隔环10 的第二表面102朝向激光产生装置30，而第一表面101朝向激光探 测装置40(如图5所示)。所述预定位置使得间隔环10处于正放置状态时，激光光束可穿 过间隔环IO的透光孔104;间隔环IO处于反放置状态时，激光光束不能穿过间隔环10的透光孔104。参见图4，当间隔环10处于正放置状态时，激光产生装置30 产生的激光光束照向环形区域1010，并且该激光光束与透光孔104 轴截面的母线AA'平行。所述激光光束入射至虚拟的环形区域1010 后，可穿过透光孔104进而到达激光探测装置40。参见图5，当间隔环IO处于反放置状态时，激光产生装置30 产生的激光光束照向环形区域1020。所述激光光束入射至环形区域 1020后，被环形区域1020阻挡而无法穿过透光孔104，从而激光探 测装置40无法探测到激光光束。(3)启动激光产生装置30以产生激光光束并利用激光探测装皇 40探测激光束，根据激光探测装置40是否探测到激光光束检测间 隔环10的放置状态。参照第(2)步的预定位置设置原则当激光探 测装置40可以#1测到激光光束时，则间隔环IO处于正力丈置状态； 当激光探测装置40不能探测到激光光束时，则间隔环10处于反放 置状态。需要说明的是，上述间隔环正反放置状态检测方法的步骤(2) 中，入射的激光光束并不局限于与透光孔104轴截面的母线AA'平 行，该激光光束的入射方向也可根据其在环形区域1010内入射点的 不同而作适当调整，只要能保证"间隔环IO处于正放置状态时，激 光光束可穿过间隔环10的透光孔104;间隔环10处于反放置状态 时，激光光束不能穿过间隔环10的透光孔104"即可。所述，其采用激光光束照射待 测间隔环10,由于待测间隔环10处于正反两种不同的放置状态时 将允许或阻止激光光束穿过间隔环10的透光孔104,进而可根据激 光探测装置40是否探测到激光光束来判别间隔环10的放置状态， 其可快速、准确地检测间隔环的正反放置状态。另外，本领域技术人员还可在本专利技术精神内做其它变化，如适当变换激光产生装置的种类，激光光束入射的位置、角度等，只要 其不偏离本专利技术的技术效果均可。这些依据本专利技术精神所做的变化，都应包含在本专利技术所要求保护的范围之内。权利要求1. 一种，其包括步骤 提供一个用于产生激光光束的激光产生装置以及一个用于探测所 述激光光束的激光探测装置； . 将待测间隔环置于所述激光光束光路中的预定位置，该预定位置 的设置可使待测间隔本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种间隔环正反放置状态的检测方法，其包括步骤：提供一个用于产生激光光束的激光产生装置以及一个用于探测所述激光光束的激光探测装置；将待测间隔环置于所述激光光束光路中的预定位置，该预定位置的设置可使待测间隔环在正反两种放置状态时允许或阻止激光光束透过其透光孔，相应的，所述激光探测装置则能或不能探测到激光光束；启动激光产生装置以产生激光光束并利用激光探测装置探测激光束，根据激光探测装置是否探测到激光光束检测间隔环的放置状态。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：萧博元，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]