一种用热成像测温判断孵化鸡蛋好坏的方法技术

本发明专利技术公开了一种用热成像测温判断孵化鸡蛋好坏的方法，包括步骤一：温度矩阵采集模块的处理：每个蛋托上设置有42个鸡蛋，在蛋托的上方设置以矩阵排列形式排列的红外热成像探头，所有测温点覆盖整个蛋托，从中挑出照射在42个鸡蛋上的测温点；步骤二：温度矩阵转像素矩阵的处理：利用算法实现测温点成像，在一组测温点中的高温显红色，低温显蓝色；步骤三：温度点校准模块的处理：采用平滑滤波，对温度进行均值处理；采用黑体炉对测量值t

【技术实现步骤摘要】
一种用热成像测温判断孵化鸡蛋好坏的方法
本专利技术涉及鸡蛋孵化检测
，具体为一种用热成像测温判断孵化鸡蛋好坏的方法。
技术介绍
鸡蛋孵化检测是用来判断鸡蛋在孵化的过程中的好坏，普遍的办法是用手电筒挨个照射判断好坏，效率低。目前也有用单点红外测温的方法来判断鸡蛋的好坏，即在每一个鸡蛋的正下方放置一个红外测温传感器，再把所有的传感器连接起来采集温度，缺陷是：存在采集时间较长，一般需要3-5分钟，故障率较高和监测效果不理想的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种用热成像测温判断孵化鸡蛋好坏的方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，专利技术提供如下技术方案：一种用热成像测温判断孵化鸡蛋好坏的方法，具体包括以下步骤：步骤一：温度矩阵采集模块的处理：每个蛋托上设置有42个鸡蛋，在蛋托的上方20～30cm处设置以矩阵排列形式排列的红外热成像探头，其中的红外热成像探头的分辨率为32*32，能够辐射出1024个测温点，其中的1024个测温点根据高度的不同均匀分布在一个平面上，使所有测温点覆盖整个蛋托，从中挑出照射在42个鸡蛋上的测温点；步骤二：温度矩阵转像素矩阵的处理：利用算法实现测温点成像，在一组测温点中的高温显红色，低温显蓝色，并将温度点对应到色谱中；步骤三：温度点校准模块的处理：采用平滑滤波，同一个温度点通过指令采集多个组温度值，对温度进行均值处理；用黑体炉对温度点的数据进行校准，控制误差在±0.2，补偿温度插值，使温度达到真实值；步骤四：温度点显示与处理模块的处理：取到蛋托上的每个鸡蛋的温度值，一个鸡蛋的温度采集n次，对同一个鸡蛋的n个温度进行排序，并取平均值作为鸡蛋的温度测量值t0，采用黑体炉对测量值t0和真实值rel_t进行比较，多次重复3-4步骤，采集测量值和真实值，通过多组测量值和真实值，生成测量值和真实值的关系方程rel_t＝f(t0)，将关系方程带入软件，软件将测量值的平均值代入方程算出真实值。优选的，步骤一中测温点的挑选设置在鸡蛋孵化18d时。优选的，步骤四中的n＞10。与现有技术相比，专利技术的有益效果是：1、该用热成像测温判断孵化鸡蛋好坏的方法，通过设置在蛋托的上方20～30cm处设置以矩阵排列形式排列的红外热成像探头，其中的红外热成像探头的分辨率为32*32，能够辐射出1024个测温点，其中的1024个测温点根据高度的不同均匀分布在一个平面上，使所有测温点覆盖整个蛋托，从中挑出照射在42个鸡蛋上的测温点，使之测温点能够更全面的覆盖待测鸡蛋上，保证采集数据的准确性和全面性。2、该用热成像测温判断孵化鸡蛋好坏的方法，利用算法实现测温点成像，在一组测温点中的高温显红色，低温显蓝色，并将温度点对应到色谱中，保证精确对比以及利用成像的原理，提高分析的准确性和效率。3、该用热成像测温判断孵化鸡蛋好坏的方法，采用平滑滤波，同一个温度点通过指令采集多个组温度值，对温度进行均值处理；用黑体炉对温度点的数据进行校准，控制误差在±0.2，补偿温度插值，使温度达到真实值，对采集的数据进行校准处理，避免外界的影响，提高测量真实值的精度。4、该用热成像测温判断孵化鸡蛋好坏的方法，取到蛋托上的每个鸡蛋的温度值，一个鸡蛋的温度采集n次，对同一个鸡蛋的n个温度进行排序，并取平均值作为鸡蛋的温度测量值t0，采用黑体炉对测量值t0和真实值rel_t进行比较，多次重复3-4步骤，采集测量值和真实值，通过多组测量值和真实值，生成测量值和真实值的关系方程rel_t＝f(t0)，将关系方程带入软件，软件将测量值的平均值代入方程算出真实值，对采集的测量值以及真实值进行推导，获得二者的关系方程，将方程关系带入软件中进行计算，直接获得更准确的真实值，使得监测精度高和效率较高。附图说明图1为实施例中的监测模块示意图；图2为实施例中的多点温度校准流程图；图3为本实施例中蛋托上鸡蛋第一排测温显示示意图；图4为本实施例中蛋托上鸡蛋第二排测温显示示意图；图5为本实施例中蛋托上鸡蛋第三排测温显示示意图；图6为本实施例中蛋托上鸡蛋第四排测温显示示意图；图7为本实施例中蛋托上鸡蛋第五排测温显示示意图；图8为本实施例中蛋托上鸡蛋第六排测温显示示意图；图9为本实施例中蛋托上鸡蛋第七排测温显示示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1，专利技术提供一种技术方案：一种用热成像测温判断孵化鸡蛋好坏的方法，具体包括以下步骤：步骤一：温度矩阵采集模块的处理：每个蛋托上设置有42个鸡蛋，在蛋托的上方20～30cm处设置以矩阵排列形式排列的红外热成像探头，其中的红外热成像探头的分辨率为32*32，能够辐射出1024个测温点，其中的1024个测温点根据高度的不同均匀分布在一个平面上，使所有测温点覆盖整个蛋托，从中挑出照射在42个鸡蛋上的测温点；步骤二：温度矩阵转像素矩阵的处理：利用算法实现测温点成像，在一组测温点中的高温显红色，低温显蓝色，并将温度点对应到色谱中；步骤三：温度点校准模块的处理：采用平滑滤波，同一个温度点通过指令采集多个组温度值，对温度进行均值处理；用黑体炉对温度点的数据进行校准，控制误差在±0.2，补偿温度插值，使温度达到真实值，如图2所示为多点温度校准流程图；步骤四：温度点显示与处理模块的处理：取到蛋托上的每个鸡蛋的温度值，一个鸡蛋的温度采集n次，对同一个鸡蛋的n个温度进行排序，并取平均值作为鸡蛋的温度测量值t0，采用黑体炉对测量值t0和真实值rel_t进行比较，多次重复3-4步骤，采集测量值和真实值，通过多组测量值和真实值，生成测量值和真实值的关系方程rel_t＝f(t0)，将关系方程带入软件，软件将测量值的平均值代入方程算出真实值，如图3至图9所示为软件显示实时测温数据矩阵画面，分析发现，图9中也就是蛋托上鸡蛋第七排测温显示出来温度相对较低的数值，因此，判断存在失活的孵化鸡蛋。本实施例中，步骤一中测温点的挑选设置在鸡蛋孵化18d时。本实施例中，步骤四中的n＞10。技术效果：该用热成像测温判断孵化鸡蛋好坏的方法，通过设置在蛋托的上方20～30cm处设置以矩阵排列形式排列的红外热成像探头，其中的红外热成像探头的分辨率为32*32，能够辐射出1024个测温点，其中的1024个测温点根据高度的不同均匀分布在一个平面上，使所有测温点覆盖整个蛋托，从中挑出照射在42个鸡蛋上的测温点，使之测温点能够更全面的覆盖待测鸡蛋上，保证采集数据的准确性和全面性。该用热成像测温判断孵化鸡蛋好坏的方法，利用算法实现测温点成像，在一组测温点中的高温显红色，低温显蓝色，并将温度点对应到色谱中，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用热成像测温判断孵化鸡蛋好坏的方法，其特征在于：具体包括以下步骤：/n步骤一：温度矩阵采集模块的处理：每个蛋托上设置有42个鸡蛋，在蛋托的上方20～30cm处设置以矩阵排列形式排列的红外热成像探头，其中的红外热成像探头的分辨率为32*32，能够辐射出1024个测温点，其中的1024个测温点根据高度的不同均匀分布在一个平面上，使所有测温点覆盖整个蛋托，从中挑出照射在42个鸡蛋上的测温点；/n步骤二：温度矩阵转像素矩阵的处理：利用算法实现测温点成像，在一组测温点中的高温显红色，低温显蓝色，并将温度点对应到色谱中；/n步骤三：温度点校准模块的处理：采用平滑滤波，同一个温度点通过指令采集多个组温度值，对温度进行均值处理；用黑体炉对温度点的数据进行校准，控制误差在±0.2，补偿温度插值，使温度达到真实值；/n步骤四：温度点显示与处理模块的处理：取到蛋托上的每个鸡蛋的温度值，一个鸡蛋的温度采集n次，对同一个鸡蛋的n个温度进行排序，并取平均值作为鸡蛋的温度测量值t

【技术特征摘要】
1.一种用热成像测温判断孵化鸡蛋好坏的方法，其特征在于：具体包括以下步骤：
步骤一：温度矩阵采集模块的处理：每个蛋托上设置有42个鸡蛋，在蛋托的上方20～30cm处设置以矩阵排列形式排列的红外热成像探头，其中的红外热成像探头的分辨率为32*32，能够辐射出1024个测温点，其中的1024个测温点根据高度的不同均匀分布在一个平面上，使所有测温点覆盖整个蛋托，从中挑出照射在42个鸡蛋上的测温点；
步骤二：温度矩阵转像素矩阵的处理：利用算法实现测温点成像，在一组测温点中的高温显红色，低温显蓝色，并将温度点对应到色谱中；
步骤三：温度点校准模块的处理：采用平滑滤波，同一个温度点通过指令采集多个组温度值，对温度进行均值处理；用黑体炉对温度点的数据进行校准，控制误差在±0....

【专利技术属性】
技术研发人员：庄道福，
申请(专利权)人：陕西辛巴达智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西;61