一种用于红外成像芯片基准校正的微型模组制造技术

技术编号:26593379 阅读:15 留言:0更新日期:2020-12-04 21:14
本发明专利技术适用于红外芯片校正技术领域,提供了一种用于红外成像芯片基准校正的微型模组,包括:中部设有通孔的底座,用于透过红外光线以使红外成像芯片采集图像,底座上设有凸轴;两件挡片,两件挡片上均设有与凸轴可滑动连接的条形槽;驱动机构,用于驱动两件挡片沿凸轴相向或相背滑动;隔板,用于避免两件挡片之间发生摩擦而卡死。本发明专利技术采用两件挡片隔绝外界环境对红外成像芯片的影响,减少了模组的零部件,降低了模组的组装难度;模组采用相对运动模式,减小了行程,增加了响应速度,产品外形也随之缩小;驱动机构为开放式磁路+双激励线圈+双臂式,满足模组作动需求的条件下减小了作动范围,使得模组进一步微型化。

【技术实现步骤摘要】
一种用于红外成像芯片基准校正的微型模组
本专利技术属于红外芯片校正
,尤其涉及一种用于红外成像芯片基准校正的微型模组。
技术介绍
当物体的温度高于绝对零度时,就会不断向外辐射电磁波,其中包含波段位于0.75~100μm的红外线,并且红外辐射的能量会随着温度升高而增强,红外成像芯片可以将探测到的红外辐射转变为人眼可见的图像信息。红外成像芯片采集完红外线后,需要隔绝外界的环境对红外成像芯片的影响,使红外成像芯片通过设备及软件的运算自动校正周边温度。目前行业内的红外成像芯片校正模组大多采用3个以上挡片的设计结构隔绝外界因素,模组的零部件数量较多,组装困难;模组的运动方式也多采用旋转式的运动模式,运动行程大,不利于模组的小型化。
技术实现思路
本专利技术实施例的目的在于提供一种用于红外成像芯片基准校正的微型模组,旨在解决
技术介绍
中所提到的问题。本专利技术实施例是这样实现的,一种用于红外成像芯片基准校正的微型模组,所述微型模组包括:中部设有通孔的底座,用于透过红外光线以使红外成像芯片采集图像;所述底座上设有凸轴;两件挡片,两件所述挡片上均设有与所述凸轴可滑动连接的条形槽;驱动机构,用于驱动两件所述挡片沿所述凸轴相向或相背滑动,以通过两件所述挡片使所述通孔关闭或打开;隔板,所述隔板设置在两件所述挡片之间;所述隔板上设有凸台,用于避免两件所述挡片之间发生摩擦而卡死。优选的,所述凸轴设有两件;每件所述挡片上均设有两件条形槽;两件所述挡片均通过其上的两件条形槽滑动设置在两件凸轴上。优选的,所述底座上设有滑轨;其中一件所述挡片位于所述滑轨上。优选的,所述底座上设有FPC板,用于与外接电源电性连接;所述驱动机构与所述FPC板电性连接。优选的,所述驱动机构包括:转动设置在所述底座上的双臂连杆;所述双臂连杆的两个连杆分别与两件挡片相连;磁环动力组件,用于驱动所述双臂连杆进行转动,以使所述双臂连杆带动两件所述挡片相向或相背滑动。优选的,所述磁环动力组件包括:转动设置在所述底座上的磁环;所述双臂连杆设置在所述磁环上;两件导磁体;两件所述导磁体位于所述磁环的两侧;两件所述导磁体相对面的极性相反;两件线圈;两件所述线圈分别缠绕设置在两件所述导磁体上。优选的,其特征在于,所述磁环的转动角度为0~35°。优选的,所述微型模组还包括:与所述底座上的通孔相连通的光幕;所述光幕呈两端开口的斗状;所述光幕的大口端与所述底座相连;所述光幕位于所述底座上远离两件所述挡片的一侧。优选的,所述微型模组还包括:固定盖;所述固定盖锁附在所述底座上,用于保护两件所述挡片和驱动机构。本专利技术实施例提供的一种用于红外成像芯片基准校正的微型模组,采用两件挡片隔绝外界环境对红外成像芯片的影响,减少了模组的零部件,降低了模组的组装难度;模组采用相对运动模式,减小了行程,增加了响应速度,产品外形也随之缩小;驱动机构也由传统的闭式磁路+单激励线圈+单臂式转变为开放式磁路+双激励线圈+双臂式,满足模组作动需求的条件下减小了作动范围,使得模组进一步微型化。附图说明图1为本专利技术实施例提供的底座的结构示意图;图2为本专利技术实施例提供的挡片的结构示意图;图3为本专利技术实施例提供的驱动机构的结构示意图;图4为本专利技术实施例提供的隔板的结构示意图;图5为本专利技术实施例提供的一种用于红外成像芯片基准校正的微型模组的结构示意图;图6为本专利技术实施例提供的微型模组打开时的状态示意图;图7为本专利技术实施例提供的微型模组关闭时的状态示意图;图8为本专利技术实施例提供的微型模组的工作原理示意图;图9为本专利技术实施例提供的底座和挡片的结构示意图;图10为本专利技术实施例提供的FPC板和驱动机构的结构示意图;图11为本专利技术实施例提供的驱动机构和挡片的结构示意图;图12为本专利技术实施例提供的带有幕布的微型模组的仰视图;图13为本专利技术实施例提供的带有固定盖的微型模组的结构示意图;图14为本专利技术实施例提供的闭式磁路+单激励线圈的原理示意图;图15为本专利技术实施例提供的开放式磁路+双激励线圈的原理示意图。附图中:1、底座;11、凸轴;12、滑轨;2、驱动机构;21、双臂连杆;22、导磁体;23、线圈;24、磁环;3、挡片;31、条形槽;4、隔板;41、凸台;5、固定盖;6、FPC板;7、光幕。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。以下结合具体实施例对本专利技术的具体实现进行详细描述。如附图1~8所示,为本专利技术一个实施例提供的一种用于红外成像芯片基准校正的微型模组,所述微型模组包括:中部设有通孔的底座1,用于透过红外光线以使红外成像芯片采集图像;所述底座1上设有凸轴11;两件挡片3,两件所述挡片3上均设有与所述凸轴11可滑动连接的条形槽31;驱动机构2,用于驱动两件所述挡片3沿所述凸轴11相向或相背滑动,以通过两件所述挡片3使所述通孔关闭或打开;隔板4,所述隔板4设置在两件所述挡片3之间;所述隔板4上设有凸台41,用于避免两件所述挡片3之间发生摩擦而卡死。在实际应用中,本专利技术实施例的微型模组放置于红外成像芯片和镜头之间,首先使两件挡片3处于打开状态,如附图6所示;物体发出的红外光线通过镜头进入到微型模组,再进而被红外成像芯片采集,形成图形,如附图8所示;然后通过驱动机构2使两件挡片3相向滑动关闭通孔,如附图7所示,以隔绝外界因素对芯片的影响,提供芯片校正必备的环境,芯片通过设备及软件的运算自动校正周边温度。当驱动机构2使两件挡片3打开通孔时,芯片继续采集图像。挡板可以减小两件挡片3之间的摩擦力,防止两件挡片3之间发生摩擦导致卡死。本专利技术实施例采用两件挡片3隔绝外界环境对红外成像芯片的影响,减少了模组的零部件,降低了模组的组装难度;模组采用相对运动模式(通过驱动机构2驱动两件所述挡片3沿凸轴11相向或相背滑动),减小了行程,增加了响应速度,产品外形也随之缩小。如附图9所示,作为本专利技术的一种优选实施例,所述凸轴11设有两件;每件所述挡片3上均设有两件条形槽31;两件所述挡片3均通过其上的两件条形槽31滑动设置在两件凸轴11上。具体的,其中一件挡片3直接通过自身上的两件条形槽31设置在底座1上,隔板4位于两件挡片3之间,两件凸轴11穿过隔板4设置在另一件挡片3的两件条形槽31内。通过驱动机构2带动两件挡片3在两件凸轴11上稳定滑动,从而实现通孔的关闭和打开。如附图1所示,作为本专利技术的一种优选实施例,所述底座1上设有滑轨12;其中一件所述挡片3位于所述滑轨12上。具体的,底座1上设有条形的护轨,靠近底座1的挡片3本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于红外成像芯片基准校正的微型模组,其特征在于,所述微型模组包括:/n中部设有通孔的底座,用于透过红外光线以使红外成像芯片采集图像;所述底座上设有凸轴;/n两件挡片,两件所述挡片上均设有与所述凸轴可滑动连接的条形槽;/n驱动机构,用于驱动两件所述挡片沿所述凸轴相向或相背滑动,以通过两件所述挡片使所述通孔关闭或打开;/n隔板,所述隔板设置在两件所述挡片之间;所述隔板上设有凸台,用于避免两件所述挡片之间发生摩擦而卡死。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于红外成像芯片基准校正的微型模组,其特征在于,所述微型模组包括:
中部设有通孔的底座,用于透过红外光线以使红外成像芯片采集图像;所述底座上设有凸轴;
两件挡片,两件所述挡片上均设有与所述凸轴可滑动连接的条形槽;
驱动机构,用于驱动两件所述挡片沿所述凸轴相向或相背滑动,以通过两件所述挡片使所述通孔关闭或打开;
隔板,所述隔板设置在两件所述挡片之间;所述隔板上设有凸台,用于避免两件所述挡片之间发生摩擦而卡死。


2.根据权利要求1所述的一种用于红外成像芯片基准校正的微型模组,其特征在于,所述凸轴设有两件;每件所述挡片上均设有两件条形槽;两件所述挡片均通过其上的两件条形槽滑动设置在两件凸轴上。


3.根据权利要求1所述的一种用于红外成像芯片基准校正的微型模组,其特征在于,所述底座上设有滑轨;其中一件所述挡片位于所述滑轨上。


4.根据权利要求1所述的一种用于红外成像芯片基准校正的微型模组,其特征在于,所述底座上设有FPC板,用于与外接电源电性连接;所述驱动机构与所述FPC板电性连接。


5.根据权利要求1或3所述的一种用于红外成像芯片基准校正的微型模组,其特征在于,所述驱动机构包括:<...

【专利技术属性】
技术研发人员:林海荣杨光欧埒君
申请(专利权)人:台州盛林光电科技有限公司
类型:发明
国别省市:浙江;33

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