用来测量辐射的一种设备和一种方法技术

一种用来测量来自一个试样载体（６、６＃＋［Ｉ］）上提供的试样的低能辐射的方法和设备。试样定位在两个相对对准的盖格－弥勒计数管（１１、１２）之间的屏蔽空腔（８）中，从而试样辐射或者到达管的两个或者到达管的一个，在后一种情况下另一个管仅用来测量背景辐射。两个管用来测量忽略的重合脉冲。使用一个历史背景辐射值或两个历史背景辐射值、和一个在实际试样测量期间得到的背景辐射值，确定为得到一个试样辐射值要减去的一个背景辐射值。在两个管测量试样辐射的情况下，能提供一个仅用来测量背景辐射的第三盖格－弥勒计数管（１３）。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用来测量从包含一种辐射物质的试样发出的辐射的一种设备和一种方法。通过分析呼出的空气试样以确立一定物质的浓度，能指示一定的状态和疾病。一个例子是通过在呼出的CO2中测量在测量之前吞入的用作用于脲制品标记的14C的浓度、检测胃肠道中的幽门螺旋菌-胃溃疡的一种良好指示-的方法。该浓度通过测量从14C发出的β-辐射确定。然而，由于来自14C的浓度是低能β-辐射，所以该方法当今要求昂贵、耗时及笨重设备的使用。用在分散健康保健中的简单和便宜方法的提供仍然没有适当解决。因而，有对用来检测低能辐射，特别是用在健康保健中，的方法和改进设备的需要，该设备简单、便宜、体积小，并且提供满意的诊断精度。本专利技术的一个目的在于，提供一种用来测量从试样中的辐射物质发出的低能辐射，特别是用来测量从14C标记化合物发出的β-辐射，的方法，该方法快速、简单并且提供满意的精度。本专利技术进一步的目的在于，提供一种用来测量从试样中的辐射物质发出的低能辐射的设备，该设备便宜、重量轻及尺寸小。本专利技术的另一个目的在于，提供一种为了对制造和服务有利而绝不包括运动部分的设备。根据本专利技术，通过具有在附属权利要求书中定义的特征的一种方法、一种设备、和一种设备和试样装置的组合，实现上述目的。根据本专利技术的第一方面，这里公开了一种用来测量从包含一种辐射物质的试样发出的低能试样辐射的一种设备，该设备包括第一和第二辐射检测器，用来测量所述辐射和背景辐射，所述第一和第二辐射检测器基本上平行于其彼此在对准位置中面对着的相应活性表面、以允许平面配置的试样装置临时插入在检测器之间的测量空腔中的距离定位；外部屏蔽装置，包围着辐射检测器，所述屏蔽装置减小测量空腔中存在的背景辐射，所述屏蔽装置装有用来接收所述试样装置的一个开口；电子处理装置，用来处理从辐射检测器接收的衰减脉冲、由所述脉冲计算源于试样的辐射及估计所述计算的结果；及用来记录和／或显示所述估计结果的装置。根据本专利技术的第二方面，这里公开了一种上述设备和一种试样装置的组合，该试样装置具有平面配置且包括一个试样载体和由所述试样载体携带的辐射试样物质，所述辐射试样物质提供在所述试样载体上，从而从所述试样载体的两个表面侧发出试样辐射，当试样装置已经插入在所述设备中时，所述表面侧面对着所述第一和第二辐射检测器。根据本专利技术的第三方面，这里公开了一种上述设备和一种试样装置的组合，该试样装置具有平面配置且包括一个试样载体和由所述试样载体携带的辐射试样物质，所述辐射试样物质提供在所述试样载体上，从而基本上仅从所述试样载体的一个表面侧发出试样辐射，当试样装置已经插入在所述设备中时，所述一个表面侧面对着所述第一辐射检测器。根据本专利技术的第四方面，这里公开了一种用来测量从包含一种辐射物质的试样发出的低能试样辐射的方法，该方法包括步骤把一个试样插入在两个彼此面对着的对准辐射检测器之间的测量空腔中，从而所述试样辐射仅到达所述辐射检测器的一个第一检测器；在一个预定时间周期期间，测量源于发生在相应辐射检测器中的电离事件的输出脉冲的相应数量；提供一个从来自所述第一检测器的脉冲数量得到的第一辐射值、和一个从来自第二检测器的脉冲数量得到的第二辐射值；通过从所述第一值上减去一个背景辐射值提供一个试样辐射值，其中所述背景辐射值基于在插入试样之前借助于所述第二检测器、以及所述第二辐射值得到的历史背景辐射值；估计所述试样辐射值，由此确定试样中辐射物质的量。根据本专利技术的第五方面，这里公开了一种用来测量从包含一种辐射物质的试样发出的低能试样辐射的方法，该方法包括步骤把一个试样插入在两个彼此面对着的对准辐射检测器之间的测量空腔中；在一个预定时间周期期间，测量源于发生在相应辐射检测器中的电离事件的输出脉冲的相应数量；提供一个从来自所述第一检测器的脉冲数量得到的第一辐射值、和一个从来自第二检测器的脉冲数量得到的第二辐射值；通过从所述第一和第二辐射值之和上减去一个背景辐射值提供一个试样辐射值，其中所述背景辐射值基于在插入试样之前得到的历史背景辐射值；及估计所述试样辐射值，由此确定试样中辐射物质的量。根据本专利技术的第六方面，这里公开了一种用来测量从包含一种辐射物质的试样发出的低能试样辐射的方法，该方法包括提供一个第一辐射检测器和一个第二辐射检测器，从而两个辐射检测器都基本测量相同的背景辐射；使用用来测量一个历史背景辐射平均值的所述第二辐射检测器；此后相对于所述辐射检测器定位试样，从而试样辐射仅达到所述第一辐射检测器；既测量来自所述第一辐射检测器的输出脉冲又测量来自所述第二辐射检测器的输出脉冲；及通过从来自所述第一辐射检测器的输出脉冲测量数量上减去基于所述历史背景辐射平均值和来自所述第二辐射检测器的输出脉冲测量数量的相应背景辐射值，计算试样辐射值。根据本专利技术的第七方面，这里公开了一种用来测量从包含一种辐射物质的试样发出的低能试样辐射的方法，该方法包括提供一个第一辐射检测器和一个第二辐射检测器，从而两个辐射检测器都基本测量相同的背景辐射；使用用来测量一个历史背景辐射平均值的所述辐射检测器；此后相对于所述辐射检测器定位试样，从而试样辐射仅达到两个辐射检测器；既测量来自所述第一辐射检测器的输出脉冲又测量来自所述第二辐射检测器的输出脉冲；及通过从来自所述检测器的输出脉冲测量数量上减去基于所述历史背景辐射平均值的相应背景辐射值，计算试样辐射值。因而，第一和第二辐射检测器定位于在对准位置中基本平行的测量空腔中，其相应活性表面彼此面对着。检测器适于使他们能够测量从基本上具有平面配置、插入在测量空腔中的试样装置发出的辐射，试样尽可能靠近检测器定位且与其基本上平行，从而使散射最小，并且从试样发出的基本上所有辐射能够达到检测器。其中检测器与插入其之间的试样装置彼此面对着的这种配置，保证不发生通过其他检测器屏蔽试样辐射。所述第一和第二辐射检测器都能用来测量试样辐射。这使得能够检测从平面配置试样装置两侧的辐射表面发出的辐射，并且增大测量的电离事件的数量。因而，能达到较高的诊断精度。在这种情况下，要从试样测量结果减去的背景辐射构成一个历史背景辐射值，所述历史值在试样装置每次插入测量空腔之前得到和更新。使用用来测量背景辐射的两个辐射检测器能得到该历史值。另外，第二辐射检测器仅能用来测量背景辐射。这提供了电离事件的较低计数，而不是给出关于要减去的背景辐射的测量量的较高精度，这归因于在测量空腔中存在的背景辐射量随时间变化的事实。然而，已经惊奇地发现，当从试样辐射测量上减去背景时，如果与背景辐射相对应的值是从在试样辐射测量期间进行的背景辐射测量的结果、和历史背景辐射值计算的加权平均值，则能实现测量精度的相当改进，所述历史值在在试样装置每次插入测量空腔之前得到和更新。为了保证试样辐射不由第二辐射检测器测量，在第二检测器布置成仅测量背景辐射的情况下，能提供有内部屏蔽装置。所述屏蔽装置能是设备的一部分、试样装置的一部分或两者。最好可拆除地安装试样辐射屏蔽(如果在试样装置中固有)，从而如果被污染，则能容易地更换它。为了得到在测量空腔中存在的背景辐射量的可靠值，重要的是第二检测器的内部屏蔽高效地防止来自试样的辐射到达第二检测器，同时防止尽可能少的背景辐射到达第二检测器。因此，必须相对于测量的试样辐射本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用来测量从包含一种辐射物质的试样发出的低能试样辐射的一种设备（１），包括： 第一和第二辐射检测器（１１、１２），用来测量所述辐射和背景辐射，所述第一和第二辐射检测器基本上平行于其彼此在对准位置中面对着的相应活性表面（１１ａ、１２ａ）、以允许平面配置的试样装置（６、６↑［Ｉ］）临时插入在检测器之间的一个测量空腔（８）中的距离定位； 外部屏蔽装置（７），包围着辐射检测器，所述屏蔽装置（７）减小测量空腔（８）中存在的背景辐射，所述屏蔽装置（７）装有用来接收所述试样装置（６、６↑［Ｉ］）的一个开口（５）； 电子处理装置（５０），用来处理从辐射检测器（１１、１２）接收的衰减脉冲、由所述脉冲计算源于试样的辐射及估计所述计算的结果；及 用来记录和／或显示所述估计结果的装置。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：欧勒夫安德森，阿尔夫勒朱恩达赫尔，科特斯蒂芬奎斯特，勒那特瓦尔穆，
申请(专利权)人：韦德霍尔姆医疗股份公司，
类型：发明
国别省市：SE[瑞典]