具有上下调节的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种具有上下调节的测试装置，由蜗轮、蜗杆、燕尾槽组成，检测平台（１）上有一升降装置（２），在其两侧有一垂直外框（３），框上部内侧有一条燕尾槽（４），升降装置上面有一模板座（５），两侧有燕尾榫（６），模板座内装有蜗杆（７），升降装置（２）腔内装有蜗轮（８），蜗轮与蜗杆相吻合，蜗轮杆端装有调节轮（９）。克服了目前测试探头与检测平台间运行速度慢、效率低之不足，具有上下运行速度快、工效高、制作工艺简单等优点。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测试工具领域，更确切地说是一种可以上下调节 功能的电路板测试装置。
技术介绍
挠性电路板加工过程中，都需经过开、断路测试这道工序，目前 通用的做法是，在检测平台上放着被测试挠性电路板，将测试探头下 移至电路板上，检测完毕，再将测试探头升上，测试探头与检测平台间约有200mm距离，测试探头运行速度慢、效率低，往往运行时间大于测试时间，影响检测速度。
技术实现思路
本技术的目的在于克服上述之不足，提供一种运行速度快的 具有上下调节功能的测试装置。本技术的目的是采用以下技术措施来实现的本技术由 蜗轮、蜗杆、燕尾槽组成，其特征在于在检测平台上有一升降装置， 在其两侧有一垂直外框，框上部内侧有一条燕尾槽，升降装置上面有 一模板座,两侧有燕尾榫，榫嵌入外框燕尾槽内，可上下移动，模板 座内装有蜗杆，升降装置腔内装有蜗轮，蜗轮与蜗杆相吻合，蜗轮杆端装有调节轮，轮上有摇把，模板座与测试探头的距离为10-50mrn。本技术的显著效果，由于模板座与测试探头的距离縮短，上 下运行速度快、工效高、制作工艺简单。附图说明附图1为本技术柳，结构圆； 附图2为本技术的俯视图。 以下结合附图对本技术作进一步的阐述。具体实施方式参见图，检测平台1上有一升降装置2，在其两侧有一垂直外框 3，框上部内侧有一条燕尾槽4,升降装置上面有一模板座5，两侧有 燕尾榫6，榫嵌入外框燕尾槽内，模板座内装有蜗杆7，升降装置2 腔内装有蜗轮8,蜗轮与蜗杆相吻合，蜗轮杆端装有调节轮9，轮上 有摇把10，模板座与测试探头11的距离为10-50mm。权利要求1、一种具有上下调节的测试装置，由蜗轮、蜗杆、燕尾槽组成，其特征在于检测平台(1)上有一升降装置(2)，在其两侧有一垂直外框(3)，框上部内侧有一条燕尾槽(4)，升降装置上面有一模板座(5)，两侧有燕尾榫(6)，模板座内装有蜗杆(7)，升降装置(2)腔内装有蜗轮(8)，蜗轮与蜗杆相吻合，蜗轮杆端装有调节轮(9)。2、 按权利要求1所述的具有上下调节的测试装置，其特征在于 模板座与测试探头01)的距离为10-50mm。3、 按权利要求l或2所述的具有上下调节的测试装置，其特征在 于调节轮(9)上有摇把卿。专利摘要本技术涉及一种具有上下调节的测试装置，由蜗轮、蜗杆、燕尾槽组成，检测平台(1)上有一升降装置(2)，在其两侧有一垂直外框(3)，框上部内侧有一条燕尾槽(4)，升降装置上面有一模板座(5)，两侧有燕尾榫(6)，模板座内装有蜗杆(7)，升降装置(2)腔内装有蜗轮(8)，蜗轮与蜗杆相吻合，蜗轮杆端装有调节轮(9)。克服了目前测试探头与检测平台间运行速度慢、效率低之不足，具有上下运行速度快、工效高、制作工艺简单等优点。文档编号G01R31/02GK201251613SQ20082003967公开日2009年6月3日 申请日期2008年9月10日 优先权日2008年9月10日专利技术者马洪伟 申请人:昆山华扬电子有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有上下调节的测试装置，由蜗轮、蜗杆、燕尾槽组成，其特征在于：检测平台（１）上有一升降装置（２），在其两侧有一垂直外框（３），框上部内侧有一条燕尾槽（４），升降装置上面有一模板座（５），两侧有燕尾榫（６），模板座内装有蜗杆（７），升降装置（２）腔内装有蜗轮（８），蜗轮与蜗杆相吻合，蜗轮杆端装有调节轮（９）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：马洪伟，
申请(专利权)人：昆山华扬电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：32[中国|江苏]