用于测试薄膜电池组件电性能的探针制造技术

本实用新型专利技术涉及一种用于测试薄膜电池组件电性能的探针，包括探针柄及与导线电连接的探头，所述探头由导电薄膜固定包覆在非导电弹性元件的表面组成，通过导电薄膜实现所述导线与探头间的电连接，由于本实用新型专利技术的探头由非导电的弹性元件及包覆在所述弹性元件表面的导电薄膜两部分固定连接组成，导电薄膜可以采用与被测对象导电层相同的材料，因此，测试时探头与被测对象的导电层间无电势差，测值准确，同时弹性元件及导电薄膜易购得。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种用于测试薄膜电池组件电性能的探针。
技术介绍
目前，测试薄膜电池组件电性能的探针，由探针柄及电连接导线且其材质 为导电橡胶的探头组成，此种结构的测试薄膜电池组件电性能的探针，虽然不 会刺伤薄膜电池的导电层，但由于薄膜电池组件的导电层与探头的材质不同， 测试薄膜电池组件的电性能时，导电层与探头间产生接触电势，造成测试结果 不准确，影响对薄膜电池组件质量的判定，给检验工作造成困难，同时，由于 目前在巿场上无专用的测试探针，给生产带来不必要的麻烦。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术中测试薄膜电池组件电性能时探头与被 测对象间产生电势差，致使测量值不准确及探头所用材料不易购得的不足，提 供一种测量值精确、探头材料易购得且测试时不刺伤被测对象的测试薄膜电池 组件电性能的探针。本技术的目的是通过下述技术方案实现的一种用于测试薄膜电池组件电性能的探针，包括探针柄及与导线电连接的 探头，其特征在于所述探头由导电薄膜固定包覆在非导电弹性元件的表面组 成，通过导电薄膜实现所述导线与探头间的电连接。所述导电薄膜与弹性元件间的固定包覆是通过螺栓副固定连接镶有弹性元 件的夹持板及包覆夹持板的导电薄膜实现的。由于本技术的探头由非导电的弹性元件及包覆在所述弹性元件表面的 导电薄膜两部分固定连接组成，导电薄膜可以釆用与被测对象导电层相同的材料，因此，测试时探头与被测对象的导电层间无电势差，测值准确，同时弹性 元件及导电薄膜易购得。以下结合附图对本技术作进一步的描述附图说明图1为釆用本技术结构的测试薄膜电池组件电性能的探针工作状态示意图2为采用本技术优选结构的探头结构示意图。具体实施方式如图1所示，本技术测试薄膜电池组件电性能的探针由弹性元件2表 面固定包覆导电薄膜l组成，导线4与导电薄膜1电连接，导电薄膜l与弹性 元件2间可釆用粘接、焊接的方式固定，也可采用如图2所示的结构固定将 弹性元件2镶入夹持板7，由导电薄膜1包覆弹性元件2与夹持板7后，通过螺 栓副5固定连接导电薄膜1与夹持板7，导线4固定连接在螺栓副5上，也可以 固定连接在垫片6上实现导线与导电薄膜1间的电连接。工作时，探针成对使 用，其通过导线4与测试仪3对应连接，由导电薄膜1包覆有弹性元件2的一 端与薄膜电池组件8的导电层9按触，其中一个探头接触在薄膜电池组件8的 正极上，另一个探头接触在薄膜电池组件8的负极上，完成对薄膜电池组件电 性能的测定。采用本技术结构的探针可测试任何一种薄膜电池组件的电性 能，如非晶硅、铜铟锡、铜铟硫、碲化镉、染料敏化二氧化钛等薄膜电池组件, 测试不同的薄膜电池组件时，选择与薄膜电池导电层9相同的材料作为导电薄 膜1的材料，这样，导电薄膜1与导电层9相接触时，二者间不会产生电势差， 使测试值准确可靠，弹性元件2可采用任何一种巿面上容易购买的非导电弹性 材料，本结构的探针材料易得，给生产带来了极大的方便，容易形成批量生产。 比如，采用本技术结构的测试薄膜电池组件电性能的探针测试非晶硅电池 组件的电性能时，弹性元件2可采用橡胶，导电薄膜1选用与非晶硅导电层9 相同的铝薄膜。权利要求1、一种用于测试薄膜电池组件电性能的探针，包括探针柄及与导线(4)电连接的探头，其特征在于所述探头由导电薄膜(1)固定包覆在非导电弹性元件(2)的表面组成，通过导电薄膜(1)实现所述导线(4)与探头间的电连接。2、 如权利要求l所述的用于测试薄膜电池组件电性能的探针，其特征在于: 所述导电薄膜(1)与弹性元件间(2)的固定包覆是通过螺栓副(5)固定连接 镶有弹性元件(2)的夹持板(7)及包覆夹持板(7)的导电薄膜(1)实现的。专利摘要本技术涉及一种用于测试薄膜电池组件电性能的探针，包括探针柄及与导线电连接的探头，所述探头由导电薄膜固定包覆在非导电弹性元件的表面组成，通过导电薄膜实现所述导线与探头间的电连接，由于本技术的探头由非导电的弹性元件及包覆在所述弹性元件表面的导电薄膜两部分固定连接组成，导电薄膜可以采用与被测对象导电层相同的材料，因此，测试时探头与被测对象的导电层间无电势差，测值准确，同时弹性元件及导电薄膜易购得。文档编号G01R1/067GK201184889SQ20072013901公开日2009年1月21日 申请日期2007年8月19日 优先权日2007年8月19日专利技术者曹耀辉 申请人:曹耀辉本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测试薄膜电池组件电性能的探针，包括探针柄及与导线（４）电连接的探头，其特征在于：所述探头由导电薄膜（１）固定包覆在非导电弹性元件（２）的表面组成，通过导电薄膜（１）实现所述导线（４）与探头间的电连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：曹耀辉，
申请(专利权)人：曹耀辉，
类型：实用新型
国别省市：13[中国|河北]