利用视觉模型检测平面显示器的方法与装置制造方法及图纸

本发明专利技术为一种利用视觉模型检测平面显示器的方法与装置，是为突显平面显示器中ＭＵＲＡ瑕疵，即藉一以硬件或软件实现的差异辨识产生系统，由取像系统得到待测显示器的影像画面，再由背景仿真系统得出一背景值，由一检测信息产生系统产生检测参考信息。其步骤包括有：撷取待测面板图像；调整撷取图像，并产生待测图像与参考的背景图像；将待测图像与参考图像经一产生辨识流程，其中有前置处理、估计图像信息与整合图像信息步骤；最后结合各测试信息产生一检测图与一检测值；利用检测值与检测图作为平面显示器影像品质的评断，以判断面板优劣。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是一利用视觉模型检测平面显示器的方法与装置，藉视觉模型产生检测图与检测值以评断显示器品质，针对整体显示面板考量，并且能直接通过检测方法得知整体面板的品质优劣。
技术介绍
随着平面显示器的普遍应用，如液晶显示器(LCD)大量使用在电视、计算机监视器、行动电话、各种家电上，液晶显示器面板的品质在大量生产下也愈需要重视，如色彩、对比、反应时间、亮度等，而关于LCD背景均匀度则观察LCD亮度(luminance)异常(MURA)状况，MURA是指显示器亮度不均匀造成各种痕迹的现象，最简单的判断方法就是在切换到黑色画面以及其它灰阶画面，然后从各种不同的角度仔细去看，随着各式各样的制程瑕疵，液晶显示器就有各式各样的MURA，各样瑕疵如横向条纹或四十五度角条纹、方块、圆形块，也可能是某个角落出现一块，此类瑕疵低对比、不规则显示，故MURA的严重程度也为判断液晶显示器面板品质的重要参考。然而现有技术中，针对MURA的判断是直接观察液晶显示器画面的瑕疵，其仍有下列缺点1.不易检测、取像。2.不易对各种情况的MURA分类，且各家厂商定义不一致，而欠缺指针。3.并无描述MURA严重程度的标准，或是太过粗糙。国际组织VESA(Video Electronics Standards Association)有针对各类型MURA作定义(VESA FPDM2 303-8)，但也仅止于简单的定义，并无定义其严重程度与其判断的解决方案。而现有相关的技术中有部分提出MURA的侦测装置与方法，其中US6,154,561案中有定义MURA类别，如图1A所示一包括有瑕疵的平面显示器10的线条型MURA，其为与邻近相异且不正常的像素(pixel)，产生如直线、曲线c、L型线条a、垂直线条b、细线条e、粗线条f等MURA。又如图1B所示区块型MURA，包括暗点区块i、亮点区块g等MURA，还有面板边界产生的边缘区块h与边缘亮点区块j等MURA。而如美国专利US5,917,935案则通过设定一门限值，将MURA瑕疵与背景值作一比较，因而得出MURA瑕疵的程度，作成统计表格，并藉图2所示流程与此统计表格来分类与定义各种不同的MURA瑕疵状态。步骤包括由显示面板取样一原始画面(步骤201)；由此原始画面产生多个子样本画面(步骤202)；依不同需求过滤每一子样本画面，如依据画面的各样特性图(histogram)作特定的特征过滤(步骤203)；再对每一画面设定一门限值，藉以产生特征区块(Blob)(步骤204)；并由特征区块的分析，判断该原始画面的MURA瑕疵(步骤205)；并特征化(characterize)其MURA瑕疵(步骤206)；之后，执行最后调整动作，藉消除错误侦测来决定某MURA类别(步骤207)。藉上述专利的步骤仅将各种MURA分类，如线条MURA(Line Mura)、斑点MURA(Spot Mura)、填充MURA(Fill Port Mura)、边缘MURA(Panel EdgeMura)、区块MURA(Block Mura)等，并无针对各样图像(pattern)判断显示面板的品质。于2003年国际显示器研讨会(International Display Workshops，IDW)中发表一种利用最小可觉差异JND(Just Noticeable Difference)与SEMU定义作为MURA分析的方法(Mura Analysis Method by Using JNDluminance and the SEMU definition)，针对各式MURA计算严重程度，但也过于简单与仅包含少数参考依据，不足藉以判断面板品质。上述最小可觉差异JND是已知的，表示人眼观察的差异性的方法。而SEMI国际标准也发表一种平面显示屏幕画质MURA检查的计量定义(SEMI D31-1102)。但以上针对Mura定义或是分析皆限于显示器的面积、对比、背景亮度来考虑，是过于简单而不能完整呈现平面显示器的瑕疵。现有技术有下列缺点1.采用人工检测，故可信赖度不高，时有争议。2.仅得到MURA物理上的描述或分类，并无考虑人本身的感知，模型太简单。3.仅针对MURA的严重性加以描述，并无对显示器品质作判断。4.多数自动检测技术仰赖分段(segmentation)检测，即针对各种不同MURA的图像检测，有太多参数无法决定，若一旦有新的MURA，则需要新的算法。然本专利技术的较佳实施例乃引用已知JND图，其已知应用可参阅美国专利US6,285,797揭露一种藉产生JND图来估计影像品质的方法。本专利技术是一利用视觉模型检测平面显示器的方法与装置，利用感光组件取像，如电荷耦合组件(Charge Coupled Device，CCD)或金氧互补半导体(CMOS)等感光组件达成，再引入一参考图像，避免人工检测的缺点，再利用特定演算方式与视觉模型产生一检测图与一检测值，如最小可觉差异图(JND map)及JND值，藉以评断显示器品质，即针对整体显示面板考量，且并不针对MURA定义，而直接通过检测方法得知整体面板的品质优劣。
技术实现思路
本专利技术是一利用视觉模型检测平面显示器的方法与装置，藉一取像系统摄取影像，再利用视觉模型产生一检测图(如JND map)及一检测值(如JND值)，藉以评断显示器品质，针对整体显示面板考量，并且能直接通过检测方法得知整体面板的品质优劣。本专利技术所述的装置包括有一差异辨识产生系统；耦接差异辨识产生系统的一取像系统；耦接差异辨识产生系统的一背景仿真系统，以产生一参考图像；一视觉模型系统，是导入一视觉模型至差异辨识产生系统；以及一检测信息产生系统，是耦接于差异辨识产生系统，以产生检测参考信息。其检测方法步骤包括有由一取像系统撷取待测面板图像产生待测面板图像；由背景仿真产生参考图像；将待测面板图像与该参考图像经一差异辨识产生系统产生辨识流程；结合辨识流程产生的测试信息产生一检测图；将辨识流程产生的测试信息取一平均值产生检测值；以及利用该检测图与该检测值作为该显示器的品质评断该平面显示器的优劣。附图说明图1A与图1B是现有技术MURA侦测方法中MURA的类别示意图；图2是现有技术MURA的侦测方法流程图；图3所示是本专利技术利用视觉模型检测平面显示器的装置示意图；图4所示是本专利技术各部系统连接示意图；图5是本专利技术利用视觉模型检测平面显示器的方法步骤流程；图6是本专利技术调整撷取图像步骤流程；图7是本专利技术前置处理步骤流程；图8是本专利技术估计图像信息步骤流程。主要组件符号说明a L形线条b 垂直线条c 曲线e 细线条 f粗线条h边缘区块g亮点区块i暗点区块j边缘亮点区块10 平面显示器31 面板32 取像系统33 背景仿真系统34 图像撷取系统35 差异辨识产生系统36 输出系统37 检测图38 检测值41 取像系统43 背景仿真系统45 差异辨识产生系统46 观点条件47 视觉模型48 模型调校49 检测信息产生系统具体实施方式本专利技术是一利用视觉模型检测平面显示器的方法与装置，利用感光组件，如电荷耦合组件(CCD)或金氧互补半导体(CMOS)等感光组件达成取像，再利用视觉模型本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种利用视觉模型检测平面显示器的方法，该方法步骤包括有：产生一待测面板图像，是由一取像系统撷取该待测面板图像产生；产生一参考图像，是由一背景仿真系统产生；产生一辨识流程，是将该待测面板图像与该参考图像经一差异辨识产生 系统产生该辨识流程；产生一检测图，是结合该辨识流程产生的测试信息产生；产生一检测值，是将该辨识流程产生的测试信息取一平均值产生；以及判断一该平面显示器的优劣，是利用该检测图与该检测值作为该显示器的品质评断。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：温照华，郭家豪，张子健，
申请(专利权)人：台湾薄膜电晶体液晶显示器产业协会，中华映管股份有限公司，友达光电股份有限公司，广辉电子股份有限公司，瀚宇彩晶股份有限公司，奇美电子股份有限公司，财团法人工业技术研究院，统宝光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]