一种半导体致冷组件的试验装置及其试验方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种半导体致冷组件的试验装置，其包括内装有水的试验容器、对试验容器水的温度进行调控的水温调控系统、置于试验容器内的半导体致冷组件、与水温调控系统及半导体致冷组件连接的试验控制器，水温调控系统将半导体致冷组件控制于一温度范围内，试验控制器对半导体致冷组件进行极性切换、通电及断电循环控制，并利用一电脑测试仪检测试验结果。本发明专利技术可靠性高、试验结果准确。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及，更具体地说是 涉及半导体冰箱主要电器零部件的试验装置及试验方法。
技术介绍
对于半导体冰箱家电产品，进行关键零部件的可靠性试验是非常有必要的。试验结果是否有效取决于3个方面试验方法(多特性应力的仿真程度决定方 法)的正确度。试验手段(多特性应力的自动化程度、模拟精度决定试验手段) 的有效度。试验技术的先进程度(控制手段可编程性，试验观察、记录的自动化 程度)。通常的试验手段有两种， 一是采用半导体水箱整机试验；二是直接用半 导体致冷组件进行模拟试验。半导体水箱整机试验模拟用户使用情况，在特定的环境中连续致冷或致热， 依靠试验过程观测温度、功率曲线图判定整机的性能变化情况；对于半导体致 冷组件试验时热面温度《8(TC的限定条件则靠限温器来保护。不具备电致冷、 电致热交变寿命试验、电耐久性寿命试验条件1) 半导体致冷组件在较短的时间内频繁的改变电源4及性，会使散热器上的 限温器常常处于超温保护状态，影响试验效果。2) 用较大的散热器，热面溫度小于8(TC同样影响试验效果。3) 半导体致冷组件生产厂要求在工作参数下，热端的温度必须低于80 °C,(.含改变电流方向冷端变成热端)。否则由于热端温度太高，极易造成器件 短路或断缆使致冷器报废。
技术实现思路
针对现有技术的缺点，本专利技术的目的是提供一种可靠性高、试验结果准确 的半导体致冷组件的试验装置及其试验方法。为实现上述目的，本专利技术的技术方案为 一种半导体致冷组件的试-睑装置， 包括内装有水的试验容器、对试验容器水的温度进行调控的水温调控系统、置 于试验容器内的半导体致冷组件、与水温调控系统及半导体致冷组件连接的试 验控制器，水温调控系统将试验中的半导体致冷组件控制于一温度范围内，试 验控制器对半导体致冷组件进行极性切换、通电及断电循环控制，并利用一电 脑测试仪检测试验结果。该试验控制器包括电源、脉冲信号源及中间继电器，电源的正极通过一中 间继电器的常开触点连接至半导体致冷组件的正极，半导体致冷组件的负极分 别连接至电源负极及通过另——一 中间继电器的常开触点连接至电源正极，脉冲信 号源用于控制中间继电器的常开触点的闭合或断开。8个中间继电器组成D0 D7脉冲分配矩阵，半导体致冷组件的数量为4, 电源的正极分别通过中间继电器DO ~ D3的常开触点与半导体致冷组件的正极连 接，半导体致冷组件的负极连接至电源负极，半导体致冷组件的负极还分别通 过中间继电器D4 D7的常开触点与电源的正;fel连"^妄。该水温调控系统包括设于试验容器内的加热器及温度传感器，且该加热器 及温度传感器与试验控制器连接。该水温调控系统还包括冷却水源及^1于冷却水源内的第一水泵，该第一水 泵通过管道与试验容器连通，且该第一水泵与试验控制器连接，冷却水源由冷 冻拒自身的制冷系统和外接增冷压缩机的蒸发器对冷拒内水进行制冷形成。该试验容器还设有一与试验控制器连接的水位开关，该7jC位开关检测到试 验容器缺水时，则启动设于冷却水源中的第二水泵补水。另外，本专利技术提供了一种半导体致冷组件的试验方法，其包括以下步骤a. 将半导体致冷组件置于装有水的试验容器内，利用水温调控系统将试验 中的半导体致冷组件控制于一温度范围内；b. 利用试验控制器对半导体致冷组件进行极性切换、通电及断电循环控制；c. ;险测半导体致冷组件的电阻、最大温差变化范围是否小于或等于试验前 的10%,是则合格，否则不合格。上述半导体致冷组件的温度控制在65r~80°C,并利用电源、脉冲信号源 及多个中间继电器组成的脉冲分配矩阵，对组件正向通电、断电，再反向通电、 断电，并循环多次。8个中间继电器组成DO ~ D7脉冲分配矩阵，利用J3^沖信号源对中间继电器 D0 D7进行序列控制，在对中间继电器DO、 Dl、 D2、 D3时序控制时，分别对应 为半导体致冷组件E1、 E2、 E3、 E4正向通电6S,当对中间继电器D4、 D5、 D6、 D7时序控制时，分別为半导体致冷组件El ~ E4反向通电6S，组件El在中间继 电器DO时序控制下正向通电6秒后，在中间继电器Dl、 D2、 D3时序控制时组 刊M停电18秒，中间继电器D4反向通电6杪后，在中间继电器D5、 D6、 D7 时序控制时组件El再停电18秒，以此类推组件E2 、 E3、 E4在中间继电器Dl、 D2、 D3及中间继电器D5、 D6、 D7的时序控制下完成对半导体致冷组件的一个极 性切纟灸周期。试-验控制器根据设定温度，通过控制冷却水源中的第 一水泵及试验容器内 的加热器，来达到试验过程中半导体致冷组件的热面温度控制在65。C 80。C之 间。与现有技术相比，本专利技术的试验装置及其试验方法，在控制半导体致冷组 件的热面温度后，使得半导体致冷组件的快速模拟可靠性试-睑条件可行，并利 用电源、脉冲信号源及多个中间继电器组成的脉冲分配矩阵，对组件正向通电、 断电，再反向通电、断电，并循环多次试验，试验控制器通过对水温调控系统 的控制从而可产生温度不同的试验工况，通过调整脉冲信号源发出信号的脉冲 宽度调整组件极性切换的特性，故该试验过程适用性强，具有良好的控制效果， 试验结果准确。 附图说明图1为本专利技术半导体致冷组件极性控制的原理示意图； 图2为本专利技术半导体致冷组件的试l^装置的结构示意图。 具体实施例方式本专利技术的电致冷、电致热交变寿命试验装置按试验条件进行供电^L性的切换、通电时间的控制、循环次数计数，致冷组件热面温度的工况控制。如图l及图2所示， 一种半导体致冷组件的试验装置，包括内装有水的试 验容器、对试验容器水的温度进#^控的水温调控系统、置于试验容器内的半 导体致冷组件、与水温调控系统及半导体致冷组件连接的试验控制器，水温调 控系统将半导体致冷组件控制于一温度范围内，试验控制器对半导体致冷组件 进行极性切换、通电及断电循环控制，并利用一电脑测试仪检测试验结果。该试验控制器包括电源、脉沖信号源及多个中间继电器，电源的正极通过 一中间继电器的常开触点连接至半导体致冷组件的正极，半导体致冷组件的负 极分别连接至电源负极及通过另—中间继电器的常开触点连接至电源正板，脉 冲信号源用于控制中间继电器的开通或关闭。8个中间继电器组成D0 D7脉冲分配矩阵，半导体致冷组件的数量为4， 电源的正极分别通过中间继电器DO ~ D3的常开触点与半导体致冷组件的正才及连 接，半导体致冷组件的负极连接至电源负极，半导体致冷组件的负极还分别竭 过中间继电器D4 ~ D7的常开触点与电源的正才及连接。该水温调控系统包括设于试验客器内的加热器及温度传感器，且该加热器 及温度传感器与试-险控制器连才姿。该水温调控系统还包括冷却水源及设于冷却水源内的第 一水泵，该第 一水 泵通过管道与试验容器连通，且该第一水泵与试验控制器连接，冷却水源由冷冻拒自身的制冷系统和外接增冷压缩机的蒸发器对冷拒内水 进行制冷形成，用于保证冷却水源的温度与试验容器中水温有较大的温差置换 空间。试验装置为防止因试验过程中容器缺水造成被试验半导体致冷组件的损 坏，该试验容器还i殳有一与试验控制器连接的水位开关，该水位开关^r测到试 验容器缺水时，则启动设于冷却水源中的第二水泵补水，保证试验容器内的水 容积。试本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体致冷组件的试验装置，其特征在于包括内装有水的试验容器、对试验容器水的温度进行调控的水温调控系统、置于试验容器内的半导体致冷组件、与水温调控系统及半导体致冷组件连接的试验控制器，水温调控系统将试验中的半导体致冷组件控制于一温度范围内，试验控制器对半导体致冷组件进行极性切换、通电及断电循环控制，并利用一电脑测试仪检测试验结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：鲍德君，
申请(专利权)人：海信科龙电器股份有限公司，海信容声广东冰箱有限公司，
类型：发明
国别省市：44[中国|广东]