电路板功能测试装置制造方法及图纸

一种电路板功能测试装置，其主要包括有一针床装置及一测试电路板，其测试电路板包含微处理器控制电路（ＣＰＵ），ＣＰＵ接存储器电路、作为微处理器控制电路传送资料及控制信号给功能测试电路通道或由微处理器控制电路读取该功能测试电路资料的通道的Ｉ／Ｏ接口控制电路以及功能测试电路接ＣＰＵ及Ｉ／Ｏ接口控制电路；ＣＰＵ还接有显示电路以及电源电路。本实用新型专利技术缩短功能测试时间，携带方便、易于查找错误维修。（*该技术在2008年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本技术涉及一种电路板功能测试装置，尤指一种以微处理机控制的测试电路板与待测电路板形成测试路，以电子模拟信号取代实际量测的模拟信号，以达缩短测试时间、简化测试装置及易于查找错误维修等优点。在现今的企业组织均希望竞争力的提在竞争力的提高方法中，效率的提高为其主要方法之一，对于现今的系统厂中，其最终产品的产出，在其电路板的功能测试中，时间上占了相当的比例，若有一测试装置能缩短对其产品的电路板的功能测试时间，则刘该产品的系统厂，在其产出效率上有莫大的助益，进而提高其竞争力。以目前扫描器的制造业而言，对其扫描器的电路板的功能测试方式，以实际的模拟方式，藉由一测试图像经扫描后输入于待测电路板，并将其输入电脑处理显像，再籍由人工目测方式，以查核该待测电路板功能是否正常，请参见附图说明图1所示，即为该电路板功能测试装置的方框图，该待测电路板11置入针床装置12后，籍由接头将扫描装置13连接，以实际扫描方式，再藉由电脑14显象以判断该待侧电路板功能正常与否，如此方式则有下述缺点，在测试时间上须花数分钟(约2一分钟)，且所使用的测试设备包含了针床装置12、电脑14及扫描装置13，故不易于携带，且无功能查找错误的提示信号，不易查找错误维修等缺点。本技术的主要目的在于提供一种缩短功能测试时间的电路板功能测试装置。本技术的另一目的在于提供一种携带方便、易于查找错误维修的电路板功能测试装置。本技术的目的是这样实现的一种电路板功能测试装置，其主要包括有一针床装置及一测试电路板，其测试电路板包含微处理器控制电路(CPU)，CPU接内储存整个测试系统的控制程序并提供微处理器控制电路在运作时暂存资料、参数的存储器电路，CPU接作为微处理器控制电路传送资料及控制信号给功能测试电路通道或由微处理器控制电路读取该功能测试电路资料的通道的I/O接口控制电路，将待测电路板的功能测量的资料处理转换、以让微处理器控制电路进行比较、判断该待测电路板功能正常与否的功能测试电路接CPU及I/O接口控制电路；CPU还接有显示电路以及电源电路。I/O接口控制电路包含缓冲电路及资料闩锁电路。功能测试电路包含作为侦测侍测电路板端电压的选择开关的继电器组合电路、模拟数字转换电路、SCSl控制电路、时序侦测电路、CCD信号摸拟电路。该继电器组合电路启动时只有一继电器被启动。模拟数字电路转换包含限压电路以及电流放大电路。综上所述，本技术具有下述的优点1、对于测试时间本技术需要15秒，而现有技术需要2-3分钟。2、使用设备本技术使用针床及测试电路，而现有技术需要个人电脑以及针床、扫描设备。3、占用空间本技术占用小，而现有技术占用较大。4、维修时间本技术可缩短维修人员的摸索时间，而现有技术需要较长的摸索时间。5、本技术便于携带。以下结合附图和具体实施方案对本技术做进一步的详细说明。图1为习用电路板功能测试架构方块图。图2为本技术电路板功能测试装置概念方块图。图3为本技术电路板功能测试装置的测试电路板方块图。图4为本技术电路板功能测试装置的I/O接口控制电路的详细电路图。图5、6、7为本技术电路板功能测试装置的功能测试电路的详细电路图。请参见图2所示，为本技术电路板功能测试装置概念方块图，本技术测试装置2利用针床装置22上的测试电路板21与待侧电路板23形成测试路方式，以电子模拟信号来取代实际量测的模拟信号，以缩短量测时间与省略测试时所须的设备。请参见图3所示，为本技术电路板功能测试装置的测试电路板方块图，该测试电路板21包含CPU控制电路31、存储器32、I/O接口控制电路33、功能测试电路34、显示器35及电源供应器36，兹将各方块图功能。详述如下CPU控制电路31依存储器32中的程序来执行测试的动作及一切的控制与处理。存储器32内部储存著整个测试系统的控制程序，并提供CPU在运作时暂存资料、参数用。I/O接口控制电路33作为CPU控制电路31送资料及控制信号给功能测试电路34的通道，或由CPU控制电路31读取该功能测试电路34资料的通道。功能测试电路34是将该待测电路板23各功能测量的资料作处理转换等，以让CPU控制电路31进行比较、判断该待测电路板23的功能正常与否。显示器35是用来显示测试过程中，各功能测试的项目及测试结果。电源供应器36该电路提供各种正负的电压给整个测试系统。进行测试时，该待测电路板23置入于针床装置22，与测试电路板21形成回路，CPU控制电路31根据存储器32的测试模式的程序，来执行其功能测试模式，I/O接口控制电路33将CPU控制电路31的资料与控制信号，引送至功能测试电路34，该功能测试电路34依据其资料及控制信号作处理，再将其处理后的资料及控制信号传送至待测电路板23，以执行其功能测试模式，并将测试结果经由I/O接口控制电路33和功能测试电路34处理，再传送至CPU控制电路31作比较判断其测试结果正常与否，该功能模式测试完成后，再进行另一功能模式测试，直到执行完存储器32中所有的功能测试摸。请参见图4所示，为本技术电路板功能测试装置的I/O接口控制电路的详细电路图，其中该电路包含缓冲电路401及资料闩锁电路402，CPU控制电路31藉由该缓冲电路401读取资料，该闩锁电路402将CPU控制电路31引送的信号，适时引送至功能测试电路34或待测电路板23，以作其模式的测试处理。请参见图5、6、7所示，为本技术电路板功能测试装置的各功能测试电路的详细电路图，待测电路板23各端电压的功能测试，系藉由图5的继电器(Re1ay)组台电路及图六的模拟转换数字(A/D)电路来完成，图5的继电器组合电路的每一继电器K连接待测电路板23中每一电压端(PWR-SGNL)，藉由CPU控制电路31控制IC501、502，使图五的继电器组合电路每一次只有一继电器K被启动，起动时将PWR-SGNL电压以图6的电阻601、602及二极管603、604的限压电路，将PWR-SGNL电压准位限制在一范围区间，以免因该PWR SGNL电压过大而损坏电路的IC，该。PWR-SGNL经限压后，再由电容605、606及IC607的电流放大电路将PWR-SGNL的电流放大，然后送至模拟转换数字(A/D)电路608，将PWR-SGNL的模拟电压转换成数字电压值，以供CPU控制电路31比较待测电压值正确与否。图7中包含SCSl控制电路、时序侦测电路、CCD信号摸拟电路，该SCSl控制电路系用来测试待测电路板23中的SCSl电路控制器，CPU控制电路31发出位址、控制等信号以控制IC701，然后送出D0～D7的测试信号给IC701，而IC701再将D0～D7的测试信号送给待测电路板23中的SCSl电路，然后CPU控制电路31再读回SCSl电路送回的测试信号，以比较正确与否；该时序侦测电路用来测试待测电路板23的CCD时序信号频率，该待测电路板23的CCD时序G信号经IC702选择后，由IC703除频，再达到CPU控制电路31作比较，以判断待测的CCD时序信号正确与否；该CCD信号摸拟电路用来测试待测电路板23中的CCD信号处理电路，CPU控制电路31将模拟CCD的测试信号送给IC704，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路板功能测试装置，其主要包括有一针床装置及一测试电路板，其特征在于：该测试电路板的微处理器控制电路（ＣＰＵ）端口接有内储存整个测试系统的控制程序并提供微处理器控制电路在运作时暂存资料参数的存储器电路，ＣＰＵ端口还接有作为ＣＰＵ传送资料及控制信号给功能测试电路通道或由ＣＰＵ读取该功能测试电路资料的通道的Ｉ／Ｏ接口控制电路；ＣＰＵ端口还接有显示电路以及电源电路。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：郑奕炫，钟武勋，
申请(专利权)人：力捷电脑股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]