显示面板用的测试平台结构制造技术

本实用新型专利技术是一种应用于显示面板检测用的测试平台结构，其具有复数个薄膜模块，其中每一薄膜模块还包含绝缘基片；导电线路层，设置于该绝缘基片上，并具有复数个接触点及与该复数个接触点相对应的复数个导接垫片（ＰＡＤ）；其中该复数个薄膜模块分别设置于待测显示面板与测试平台相接的两边，以作为该测试平台及该待测显示面板之间的传输媒介；使该复数个接触点与该待测显示面板电接，而该复数个导接垫片（ＰＡＤ）与该测试平台电接，由该导电线路层的布线传导使该待测显示面板与该测试平台的两边相接触而形成电性相接，进而通过该复数个薄膜模块与该测试平台的信号输出输入端形成电连接。（*该技术在2015年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术是关于一种测试平台结构，尤指一种显示面板用的测试平台结构。
技术介绍
显示器的发展逐渐由大体积的阴极射线管(CRT)，转型为较为轻薄的液晶平面显示器(LCD)，并且朝着面板大型化与大面积化发展。由于高分辨率与高画面品质的要求，LCD的画素越做越小，对于LCD面板成品的品质检验就愈加困难。目前大部份的生产厂商仍是依赖人工目视检测，来检验画面的品质，这对于检测的速度、效能及产品的品质稳定性有相当大的影响。在已知测LCD的测试技术中，显示面板于进行电性测试时，是利用弹性金属类的探针作为待测显示面板与测试机台间的测试信号媒介，藉此以通过该弹性金属探针来输入一信号电压到每一显示面板中连接IC的ITO电极，以使该显示面板得以被驱动，再通过计算机的分析后将显示结果予以识别出该显示面板内的电路连通性。但是由于LCD中的ITO电极相当薄且脆弱，而这类的弹性金属探针的测试端是呈尖锐状，使得在测试过程中，测试者必须格外小心，以防弹性金属探针刮伤ITO电极，否则便会破坏了待测显示面板的电性而降低其优良率。再者，由于该弹性金属探针的形状是呈一倒角弯折状，故十分容易因某根弹性金属探针的翘起而末能完全接触到ITO电极，进而造成某部份的ITO电极未受到测试而忽略了该显示面板的不良性，导致有瑕疵的显示面板依然可顺利出厂。另一方面，随着ITO电极的密集化，已知技术所制作的弹性金属探针亦趋细微，除了脆弱易弯、易断裂外，亦无法将测试弹性金属探针的排置密度做相对性的提高，因而造成检测用具上制作的困难，且其成本也相对提高许多。概略而言，现有显示面板的检测方式主要有全画面检查(FULL CONTACT)、导通检查(SHORTENG BAR)等方法。然而以已知弹性金属探针进行检测媒介时，其缺点为(1)以已知弹性金属探针进行全画面检查(FULL CONTACT)的检测率虽可达100％，但其使用成本高(每组约NT$100万以上)；(2)以已知弹性金属探针进行导通检查(SHORTENG BAR)的检测率仅达95％-99％，但其使用成本低(每组约NT$1万)；(3)无论以上述二种方法或其它方法等，面板业者会因考虑制程或其它因素，于光罩阶段中完成线路布设，将相关线路布设于面板周缘，以供做测试接线使用，待完成测试后，即以雷射切除(LASER CUT)线路，或将面板边缘切除，以进入下一制程.然而若在往后制程欲再做测试时，因先前已将面板边缘所布设的线路切除，故无法随即再进行连接测试；(4)无论面板尺寸大小(尤以小尺寸)其边缘所预留的线路布设面积受限制，形成布设上的不易。申请人有鉴于已知技术的缺点，经悉心试验与研究，研发出本技术的一种应用于显示面板检测用的测试平台结构，以取代传统弹性金属探针来解决因IC、LCD的轻薄短小化、复杂化产生的测试问题。而该测试平台结构更具检测精度高、速度快、寿命长、维修或更换简单化等优点，更可应用于显示面板的全画面检查(FULL CONTACT)、导通检查(SHORTENG BAR)或其它检测方法。
技术实现思路
本技术的主要目的是为提供一种应用于显示面板检测用的测试平台结构，其结构简单，组装容易，检测精度高、速度快、寿命长、维修或更换简单，并可取代传统弹性金属探针来解决因IC、LCD的轻薄短小化、复杂化产生的测试问题，广泛地应用于显示面板的全画面检查(FULL CONTACT)、导通检查(SHORTENG BAR)或其它检测方法。为达上述目的，本技术提供一种应用于显示面板检测的测试平台结构，其结构包含复数个薄膜模块，其中每一薄膜模块还包含绝缘基片；导电线路层，设置于该绝缘基片上，并具有复数个接触点及与该复数个接触点相对应的复数个导接垫片(PAD)；其中该复数个薄膜模块分别设置于待测显示面板与测试平台相接的两边，以作为该待测显示面板及该测试平台的间的传输媒介；使该复数个接触点与该待测显示面板电接，而该复数个导接垫片(PAD)与该测试平台电接，由该导电线路层的布线传导使该待测显示面板与该测试平台的两边相接触而形成电性相接，进而通过该复数个薄膜模块与该测试平台的信号输出输入端形成电连接。其中该复数个接触点是与该待测显示面板上的RGB像素点的侦测点对应接触。其中该绝缘基片由可挠性绝缘材质所构成。其中该导电线路层是由弹性导电材质所构成。其中该待测显示面板是为液晶显示面板、电浆显示面板、场发射显示面板、有机电激发光显示面板或无机电激发光显示面板。其中该导电线路层还包含复数组线路图样，分别电连接该复数个接触点及与该复数个接触点相对应的该复数个导接垫片(PAD)。其中该复数组线路图样是由微影蚀刻方式所制得。其中该待测显示面板与该测试平台相接的两边，是为该待测显示面板的X轴及Y轴。其中该X轴是为闸极(Gate)端子侧。其中该Y轴是为源极(Source)端子侧。其中该X轴与Y轴分别设有10个及4个该薄膜模块。本技术的另一目的是为提供一种应用于显示面板检测用的测试平台结构，其结构简单，组装容易，检测精度高、速度快、寿命长、维修或更换简单，并可取代传统弹性金属探针来解决因IC、LCD的轻薄短小化、复杂化产生的测试问题，进行显示面板的全画面检查(FULL CONTACT)、导通检查(SHORTENG BAR)或其它检测方法的应用。为达上述目的，本技术提供一种应用于显示面板检测的测试平台结构，其结构包含测试平台基座，其具有容置空间，用以容置待测显示面板；以及复数个薄膜模块，分别设置于该待测显示面板与该测试平台基座相接的两边，以作为该测试平台基座及该待测显示面板之间的传输媒介，其中每一薄膜模块还包含绝缘基片；导电线路层，设置于该绝缘基片上，并具有复数个接触点及与该复数个接触点相对应的复数个导接垫片(PAD)；以使该复数个接触点与该待测显示面板电接，而该复数个导接垫片(PAD)与该测试平台基座电接，由该导电线路层的布线传导使该待测显示面板与该测试平台基座的两边相接触而形成电性相接，进而通过该复数个薄膜模块与该测试平台基座的信号输出输入端形成电连接。其中该复数个接触点是与该待测显示面板上的RGB像素点的侦测点对应接触。其中该绝缘基片由可挠性绝缘材质所构成。其中该导电线路层是由弹性导电材质所构成。其中该待测显示面板是为液晶显示面板、电浆显示面板、场发射显示面板、有机电激发光显示面板或无机电激发光显示面板。其中该导电线路层更包含复数组线路图样，分别电连接该复数个接触点及与该复数个接触点相对应的该复数个导接垫片(PAD)。其中该复数组线路图样是由微影蚀刻方式所制得。其中该待测显示面板与该测试平台基座相接的两边，是为该待测显示面板的X轴及Y轴。其中该X轴是为闸极(Gate)端子侧。其中该Y轴是为源极(Source)端子侧。其中该X轴与Y轴分别设有10个及4个该薄膜模块。技术由下列图标与实施例说明，以便更清楚的了解。附图说明图1是揭示本技术较佳实施例应用于显示面板检测用的测试平台结构。图2揭示本技术较佳实施例的测试平台结构组装应用的测试平台结构。符号说明1 薄膜模块11 绝缘基片12 导电线路层 121 接触点122 导接垫片2 待测显示面板21 X轴 22 Y轴3 测试平台具体实施方式本段所叙述的实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种应用于显示面板检测的测试平台结构，其特征在于该结构包含：测试平台基座，其具有容置空间，用以容置待测显示面板；以及复数个薄膜模块，分别设置于该待测显示面板与该测试平台基座相接的两边，以作为该测试平台基座及该待测显示面板之间的传输媒介，其中每一薄膜模块还包含绝缘基片；导电线路层，设置于该绝缘基片上，并具有复数个接触点及与该复数个接触点相对应的复数个导接垫片；由该导电线路层的布线传导使该待测显示面板与该测试平台基座的两边相接触而形成电性相接，进而通过该复数个薄膜模块与该测试平台基座的信号输出输入端形成电连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：柯颖和，
申请(专利权)人：旭贸股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]