探针量测卡制造技术

一种探针量测卡，该探针量测卡包括一本体、多数个探针、一第一缺口以及一第二缺口。本体呈平板状，包括一第一表面、一第一侧面以及平行该第一侧面的一第二侧面。探针设于该第一表面之上，其中，该等探针沿一基准线排列，该基准线为一直线，该等探针彼此之间具有一探针间距。第一缺口形成于该第一侧面之上。第二缺口形成于该第二侧面之上。其中，该第一缺口与最邻近该第一缺口的探针的距离为该探针间距的倍数。（*该技术在2015年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术有关于一种探针量测卡，特别有关于一种用于量测面板电性的探针量测卡。
技术介绍
参照图1a，其显示已知的探针量测卡10，包括一本体11以及多数个探针12。本体11具有一第一表面(下表面)13。该等探针12即设于该第一表面13之上。参照图1b，其显示应用已知的探针量测卡10侦测基板1上的电路2的情形。电路2具有多数个电极3。该探针量测卡10的该等探针12从该等电极3的上方分别接触该等电极3，以检测电极3的电性(例如，电阻值)。由于基板1的尺寸较大，电极3的数量较多，因此该探针量测卡10在一第一位置(图1b所显示的位置)检测完毕之后，会再移动至一第二位置(如图1c所显示的位置)，以依序将基板1上的所有电极3的电性完整检查一次。然而，如图2所显示的，由于机构上的精度误差，探针量测卡10在检测时可能会发生探针12与电极3对位不准的情况。此对位不准的情况会得到错误的电性检测结果，其可能会增加重新检测所需要的金钱与时间，也可能会错误的报废品质良好的产品，造成成本的浪费。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种探针量测卡，可随时监控探针与电极3之间的对位情况，避免因为精度误差而造成的对位不准的情况，以降低错误检测的机会。本技术的目的是这样实现的，一种探针量测卡，其特征在于包括一本体，呈平板状，包括一第一表面、一第一侧面以及平行该第一侧面的一第二侧面；多数个探针，设于该第一表面之上，其中，该等探针沿一基准线排列，该基准线为一直线，该等探针彼此之间具有一探针间距；一第一缺口，形成于该第一侧面之上；一第二缺口，形成于该第二侧面之上，其中，该第一缺口与最邻近该第一缺口的该探针的距离为该探针间距的倍数。其中，该第一缺口为三角形，该第一缺口的重心与最邻近该第一缺口的该探针的距离为该探针间距的倍数。其中，该第一侧面与最邻近该第一缺口的该探针的距离为该探针间距的倍数。附图说明图1a显示已知探针量测卡的立体图；图1b显示以已知探针量测卡于第一位置检测电极的情形；图1c显示以已知探针量测卡于第二位置检测电极的情形；图2显示探针与电极对位不准的情形；图3显示本技术的探针量测卡的立体图；图4a显示本技术的探针量测卡对准电极的情形；图4b显示本技术的探针量测卡未对准电极的情形；图4c显示本技术的探针量测卡未对准电极的另一种情形；图5显示本技术的探针量测卡的变形例； 图6a显示以本技术的探针量测卡于初始位置检测电极的情形；图6b显示以本技术的探针量测卡于第一位置检测电极的情形；图6c显示以本技术的探针量测卡于第二位置检测电极的情形。附图标号1～基板 2～电路3～电极 4～定位记号10～探针量测卡 11～本体12～探针13～第一表面100～探针量测卡 101～第一表面110～第一侧面 111～第一缺口120～第二侧面 121～第二缺口130～第三侧面 131～第三缺口140～第四侧面 141～第四缺口150～本体 151～基准线160～探针具体实施方式参照图3，其显示本技术的探针量测卡100，包括一本体150以及多数个探针160。本体150呈平板状，包括一第一表面101、一第一侧面110以及平行该第一侧面的一第二侧面120。该等探针160设于该第一表面101之上，并沿一基准线151排列。基准线151为一直线，并位于该第一表面101的中央。该等探针160之间彼此具有一探针间距d1。该第一侧面110上形成有一第一缺口111。该第二侧面120上形成有一第二缺口121。该第一缺口111以及第二缺口120也均形成于该基准线151之上。其中，该第一缺111与最邻近的探针160之间的距离d2等于该探针间距d1的倍数。该第二缺口121与最邻近的探针160之间的距离d3等于该探针间距d1的倍数。该第一缺口111与最邻近的探针160之间的距离d2可等于该探针间距d1，或者为该探针间距d1的两倍距离。该第二缺口121与最邻近的探针160之间的距离d3可等于该探针间距d1，或者为该探针间距d1的两倍距离。由于该第一缺口111与最邻近的探针160之间的距离d2等于该探针间距d1的倍数，该第二缺口121与最邻近的探针160之间的距离d3等于该探针间距d1的倍数。因此，参照图4a，当应用本技术的探针量测卡100检测基板1上的电路2的电极3时，在探针160对准电极3的情况下，第一缺口111以及第二缺口121也会对准电极3。因此操作者可穿过第一缺口111以及第二缺口121对称的观察到电极3，由此可知道此时探针160对准电极3。参照图4b，当探针160未对准电极3时，第一缺口111以及第二缺口121也不会对准电极3。因此此时操作者无法穿过第一缺口111或第二缺口121观察到电极3，或者从第一缺口111以及第二缺口121所观察的电极3会有位置不对称的的情形(参照图4c)。由此可得知探针160未对准电极3。应用本技术的探针量测卡100，可随时监控探针160与电极3之间的对位情况，因此可避免因为精度误差而造成的对位不准的情况。并因此降低错误检测的机会。上述的探针量测卡100可为一弹簧式探针量测卡。上述的第一缺口111以及第二缺口121可为三角形、矩形或其它形状。在上述实施例中，利用第一缺口111以及第二缺口121与其邻近的探针160之间的距离关系进行对位。而在本技术的精神之下，其也可以通过其它的距离关系进行对位。例如，当第一缺口111为正三角形时，可通过正三角形的重心与邻近探针之间的距离进行对位。或可直接通过第一侧面以及第二侧面与其邻近的探针之间的距离关系进行对位。参照图5，本体150更包括邻接于该第一侧面110及第二侧面120的一第三侧面130以及一第四侧面140。该第三侧面130平行于该第四侧面140。该第三侧面130垂直于该第一侧面110。第三侧面130上形成有第三缺口131。第四侧面140上形成有第四缺口141。其中，第一缺口111以及第二缺口121用以检测(调整)探针160相对于电极3于第一方向x上的相对位置。第三缺口131以及第四缺口141用以检测(调整)探针160两最终端相对于电极3于第二方向y上的相对位置。第一方向x垂直第二方向y。以下说明本技术的探针量测卡100的检测方法，参照图6a，首先，探针量测卡100位于一初始位置，此时该第一缺口111对准该基板1上的一定位记号4，接着探针量测卡100下降以对电极3进行检测。在初始位置检测完成之后，再参照图6b，探针量测卡100升起并移动至一第一位置，此时第一缺口111以及第二缺口121均对准电极3，接着探针量测卡100下降以对电极3进行检测。在第一位置检测完成之后，再参照图6c，探针量测卡100升起并移动至一第二位置，此时第一缺口111以及第二缺口121均对准电极3，接着探针量测卡100下降以对电极3进行检测。在反复进行上述动作之后，可依序将所有的电极3检测完毕。虽然本技术已以具体实施例揭示，但其并非用以限定本技术，任何本领域的技术人员，在不脱离本技术的构思和范围的前提下所作出的等同组件的置换，或依本技术专利保护范围所作的等同变化与修饰，皆应仍属本专利涵盖之范畴。权利要求1.一种探针量测卡，其特征在于包括一本本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种探针量测卡，其特征在于包括：　　　　一本体，呈平板状，包括一第一表面、一第一侧面以及平行该第一侧面的一第二侧面；　　　　多数个探针，设于该第一表面之上，其中，该等探针沿一基准线排列，该基准线为一直线，该等探针彼此之间具有一探针间距；　　　　一第一缺口，形成于该第一侧面之上；　　　　一第二缺口，形成于该第二侧面之上，　　　　其中，该第一缺口与最邻近该第一缺口的该探针的距离为该探针间距的倍数。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈建安，
申请(专利权)人：广辉电子股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]