测试治具的探针结构制造技术

本实用新型专利技术包含一外套筒、一套设于外套筒内的轴杆、一配置于轴杆上方的针体、一套设于针体上的第一弹性体、一配置于针体与轴杆间的第二弹性体、以及一配置于外套筒接合口上的尾盖，借由二弹性体的弹性压抵作用，且该针体并穿透该外套筒另端的穿设口，及可使该针体于外套筒借由二弹性体作一弹性的上下位移，而成为一简易的探针结构，且借由二个弹性体的作用可增加其使用寿命。（*该技术在2015年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术是涉及测试治具的探针结构改良，旨在提供一针体借外套筒内的二弹性体作一弹性的上下位移，而成为一简易的探针结构。
技术介绍
按，一般印刷电路板在完成线路布值后，为确保每条线路皆可正常导通，必需经过测试将电子线路完好的印刷电路挑出，再将各电子元件固定于印刷电路板上，而一般探针的作用是配置于测试治具上，而与各电子元件或印刷电路板接触，续由探针将测试结果接导线传回电脑，以确认待测物是否有不良的地方。如图1所示，为一般探针的结构分解图，其探针1是包含外套筒11、轴杆12、针体13。弹性体14及尾盖15，该外套筒11具有一中空状的容置空间111，且该外套筒111一端为口径较大的接合口112，另端为口径较小的穿设口113，该轴杆12的一端为较大管径的顶挚部121，并容设于前述的容置空间111中，且该顶挚部121是顶置于前述穿设口113的内侧壁上，该针体13是配置于轴杆12上方，且穿透出穿设口113，该弹性体14是套设于轴杆12上，其一端是顶设于顶挚部121上，该尾盖15是具有一中空状的通道152，且该通道152可供轴杆12穿设，其尾盖15是迫紧于接合口112处，其一端是成小管径的抵止部151并将前述弹性体14作抵止。即可使该针体13借由外套筒11内弹性体14的顶持作一弹性的位移；然而，仅借由单一弹性体较易形成弹性疲乏且使用寿命较短，形成测试的准确性不佳，亦增加汰换率。
技术实现思路
本技术的主要目的，在于解决上述的缺乏，借由二弹性体的弹性压抵作用，且该针体并穿透该外套筒另端的穿设口，及可使该针体于外套筒借由二弹性体作一弹性的上下位移，而成为一简易的探针结构，且借由二个弹性体的作用可增加其使用寿命。为达成上述目的，本创作是包含一外套筒、一套设于外套筒内的轴杆、一配置于轴杆上方的针体、一套设于针体上的第一弹性体、一配置于针体与轴杆间的第二弹性体、以及一配置于外套筒接合口上的尾盖，借由二弹性体的弹性压抵作用，且该针体并穿透该外套筒另端的穿设口，及可使该针体于外套筒借由二弹性体作一弹性的上下位移，而成为一简易的探针结构。附图说明图1为习有探针的结构分解图；图2为本技术中探针的整体结构立体图；图3为本技术中探针的结构分解图；图4为本技术中探针的结构示意图；图5为本技术中测试治具的结构分解图；图6为本技术中测试治具的结构示意图。图号说明1探针11 外套筒111 容置空间112 接合口113 穿设口12 轴杆121 顶挚部13 针体131 压抵部132 套接部14 弹性体141 第一弹性体 142 第二弹性体15 尾盖151 抵止部152 通道2导线3针板31 针孔4测试面板41 穿孔5待测电路板51 待测点6斜率板7测试机8固定板81 针孔具体实施方式为能使贵审查员清楚本技术的结构组成，以及整体运作方式，兹配合图式说明如下本技术测试治具的探针结构，其探针1的结构如图2及图3所示，同样是包含金属制成的外套筒11、轴杆12、金属制成的针体13及尾盖15，该外套筒11具有一中空状的容置空间111，且该外套筒一端为口径较大的接合口112，另端为口径较小的穿设口113，该轴杆12的一端为较大管径的顶掣部121，并容设于前述的容置空间111中，且该顶掣部121是顶置于前述穿设口113的内侧壁上，该针体13的一端为较大管径的压抵部131，另端为管径较小的套接部132，并配置于轴杆12上方，且套接部132一端则穿透出穿设113，该尾盖15是具有一中空状的通道152，且该通道152可供轴杆12穿设，其尾盖15是迫紧于接合口112处。本案的重点在于该容置空间111中是设有二个弹性体，其均可为压缩弹簧，请同时叁照图4所示，第一弹性体141是配置于针体的套接部132上，而第二弹性体142则配置于针体压抵部131与轴杆顶掣部121之间，而轴杆12相对应于顶掣部121的另端则接设导线2，以由第一、二弹性体141、142可分担探针1所受的压力，并达到相互补偿的作用。而目前产业间所采用测试印刷电路板的测试治具，如图5及图6所示，是包括有一固定板8、针板3及测试面板4，该针板3及固定板8上预设有对应待测电路板5的各待测点51位置的针孔31、81，而复数个探针1则插置于该针孔31、81内，其一端设有导线2用以将讯号传递至测试机7，而测试面板4则设于针板3上方，测试面板4上亦预设有与针板3的针孔31相对应的穿孔41，而针体13是穿过测试面板4的穿孔41，而凸出于测试面板4；将待测试电路板5设置于测试面板4上方，借由测试机具将待测试电路板5的待测点51与探针1的针体13接触，而将电讯号依序传递至第二弹性体142、轴杆12，而由轴杆12底部连接的导线2传递至测试机上，由测试机7判定各待测点是否导通，以完成电路板的测试作业。值得一提的是，借由二弹性体的弹性压抵作用，可使该针体于外套筒借由第一、二弹性体作一弹性的上下位移，而成为一简易的探针结构，且借由二个弹性体的作用可增加其使用寿命，且可借由轴杆的活动欲度可知第一、二弹性体的弹性是否疲乏，即轴杆为松脱状则第一、二弹性体已经弹性疲乏而需要更换。另外，一般待测试电路板5的待测点51的密度较为密集，而探针1的体积较大，使针板3上相对应于各待测点51位置的针孔31，无法正对应于各待测点51的下方，而利用一斜率板6设置于针板3与测试面板4之间，如图6所示，而可导正针体13的位置，使针体13穿过该斜率板6后，可由各待测点51的正下方穿出，而可借由第一、二弹性体141、142的弹性作用，使针体13凸出于测试面板4的相同高度。如上所述，本创作提供一较佳可行的测试治具的探针结构，于是依法提呈新型专利的申请；然而，以上的实施说明及图式所示，是本创作较佳实施例，并非以此局限本创作，是以，举凡与本创作的构造、装置、特征等近似、雷同者，均应属本创作的创设目的及申请专利范围之内。权利要求1.一种测试治具的探针结构，其包含外套筒、轴杆、针体及尾盖，该外套筒具有一中空状的容置空间，且该外套筒一端为口径较大的接合口，另端为口径较小的穿设口，该轴杆的一端为较大管径的顶掣部，并容设于前述的容置空间中，且该顶掣部是顶置于前述穿设口的内侧壁上，该针体的一端为较大管径的压抵部，另端为管径较小的套接部，并配置于轴杆上方，且套接部一端则穿透出穿设口，该尾盖是具有一中空状的通道，且该通道可供轴杆穿设，其尾盖是迫紧于接合口处；其特征在于该容置空间中设有二个弹性体，第一弹性体配置于针体的套接部上，而第二弹性体则配置于针体压抵部与轴杆顶掣部之间。2.如权利要求1所述的测试治具的探针结构，其特征在于该轴杆相对应于顶掣部的另端可接设导线。3.如权利要求1所述的测试治具的探针结构，其特征在于核弹性体为压缩弹簧。4.如权利要求1所述的测试治具的探针结构，其特征在于该外套筒及针体为金属制成。5.一种测试治具的探针结构，其包括有一固定板、针板及测试面板，该针板上预设有对应待测电路板的各待测点位置的针孔，而复数个探针则插置于该针孔内，其一端设有导线用以将讯号传递至测试机，而测试面板则设于针板上方，测试面板上亦预设有与针板的针孔相对应的穿孔，而探针是穿过测试面板的穿孔，而凸出于测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试治具的探针结构，其包含外套筒、轴杆、针体及尾盖，该外套筒具有一中空状的容置空间，且该外套筒一端为口径较大的接合口，另端为口径较小的穿设口，该轴杆的一端为较大管径的顶掣部，并容设于前述的容置空间中，且该顶掣部是顶置于前述穿设口的内侧壁上，该针体的一端为较大管径的压抵部，另端为管径较小的套接部，并配置于轴杆上方，且套接部一端则穿透出穿设口，该尾盖是具有一中空状的通道，且该通道可供轴杆穿设，其尾盖是迫紧于接合口处；其特征在于：该容置空间中设有二个弹性体，第一弹性体配 置于针体的套接部上，而第二弹性体则配置于针体压抵部与轴杆顶掣部之间。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：颜鸿杰，
申请(专利权)人：颜鸿杰，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]