一种高精度产品检查治具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种高精度产品检查治具，包括底板，所述底板上表面依次叠放连接有测量齿和定位块，底板、测量齿和定位块固定连接成整体；所述定位块上开有U形缺口，U形缺口和底板构成U形定位槽，所述测量齿的测量端位于所述U形定位槽内，所述测量端的上下两侧分别设有上排齿和下排齿。本实用新型专利技术根据产品排针的宽度及其偏差的规格来确定检查治具的槽宽，从而保证检查的准确性，操作简便，和传统的显微镜检查相比，将检测时间从20分钟缩短到1分钟，极大地提高了检查效率。检测端的条形槽采用倒角设计，使其具有良好的导向性，保证检查治具的加工精度和性能；检测端的厚度小于排针高，从而避免产品背面不与检查治具接触造成磨损。

【技术实现步骤摘要】
一种高精度产品检查治具
本技术涉及DIP产品检测
，尤其是一种高精度产品检查治具。
技术介绍
现有DIP产品(双列直插封装(英语：dualin-linepackage)也称为DIP封装或DIP包装，简称为DIP或DIL，是一种集成电路的封装方式，集成电路的外形为长方形，在其两侧有两排平行的金属引脚，称为排针)，在偏斜检查(LEADSKEW)时需要通过显微镜确认，实体显微镜存在误差大，工具显微镜存在检查效率低的问题。
技术实现思路
本技术所采用的技术方案如下：一种高精度产品检查治具，包括底板，所述底板上表面依次叠放连接有测量齿和定位块，底板、测量齿和定位块固定连接成整体；所述定位块上开有U形缺口，U形缺口和底板构成U形定位槽，所述测量齿的测量端位于所述U形定位槽内，所述测量端的上下两侧分别设有上排齿和下排齿。其进一步技术方案在于：测量齿整体成T型结构，包括固定端和所述测量端，固定端上下表面分别定位块、底板固定连接，测量端在U形定位槽内沿长度方向延伸，测量端的上下两侧边缘均沿长度方向间隔开有多个条形槽，上侧边缘的相邻条形槽之间形成所述上排齿，上侧边缘的相邻条形槽之间形成所述下排齿。条形槽槽口具有倒角结构。测量端的厚度小于被测产品排针的高度。测量端与底板固定连接。底板、测量齿和定位块分别开有相互对应的螺栓孔，三者通过所述螺栓孔螺栓连接。本技术的有益效果如下：本技术结构设计合理，根据产品引脚的宽度及其偏差的规格来确定检查治具的条形槽的槽宽，检测准确度高、操作简便，和传统的显微镜检查相比，将检测时间从20分钟缩短到1分钟，极大地提高了检查效率。本技术根据产品结构尺寸的不同对检查治具进行变更，以对应不同产品的偏斜检查；检查治具采用防氧化处理，避免氧化影响治具的精度；检查治具的条形槽的开槽采用倒角设计，使其具有良好的导向性，保证检查治具的加工精度和性能；检查治具的厚度小于排针高，从而保证产品背面不与检查治具接触；附图说明图1为本技术的俯视图。图2为本技术爆炸图。图3为本技术拆去上部定位块后的结构示意图。图4为本技术工作过程中产品滑入治具状态的结构示意图。图5为本技术工作过程中对产品下排针和上排针进行检测的状态示意图。图6为本技术工作流程示意图。其中：1、定位块；2、测量齿；3、底板；4、U形定位槽；5、被测产品；21、固定端；22、测量端；101、U形缺口；221、上排齿；222、下排齿；223、条形槽。具体实施方式下面结合附图，说明本技术的具体实施方式。如图1和图2所示，本实施例的高精度产品检查治具，包括底板3，底板3上表面依次叠放连接有测量齿2和定位块1，底板3、测量齿2和定位块1固定连接成整体；定位块1上开有U形缺口101，U形缺口101和底板3构成U形定位槽4，测量齿2的测量端22位于U形定位槽4内，测量端22的上下两侧分别设有上排齿221和下排齿222。测量齿2整体成T型结构，包括固定端21和测量端22，固定端21上下表面分别定位块1、底板3固定连接，测量端22在U形定位槽4内沿长度方向延伸，测量端22的上下两侧边缘均沿长度方向间隔开有多个条形槽223，上侧边缘的相邻条形槽223之间形成上排齿221，上侧边缘的相邻条形槽223之间形成下排齿222。条形槽223槽口具有倒角结构。测量端22的厚度小于被测产品5的排针的高度。测量端22与底板3固定连接。底板3、测量齿2和定位块1分别开有相互对应的螺栓孔，三者通过螺栓孔螺栓连接。本实施例的高精度产品检查治具，使得DIP产品检测确认简便化，提高检查的准确性和效率。如图4-图6所示，检测时，如图4所示，将被测产品5沿箭头方向滑入U形定位槽4中，然后上下倾斜治具，如图5所示，看被测产品5的下排针是否能自然滑入下排条形槽223，看被测产品5的上排针是否能自然滑入上排条形槽223中，如果能自然滑入，则为良品，否则为次品。在被测产品5滑入U形定位槽4中，并且在上下倾斜治具然后进行匹配插空式测量时，由于被测产品5的排针高度，大于测量齿2的测量端22的厚度，因此保证被测产品5背面不与检查治具接触发生摩擦造成磨损。以上描述是对本技术的解释，不是对技术的限定，本技术所限定的范围参见权利要求，在本技术的保护范围之内，可以作任何形式的修改。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高精度产品检查治具，其特征在于：包括底板(3)，所述底板(3)上表面依次叠放连接有测量齿(2)和定位块(1)，底板(3)、测量齿(2)和定位块(1)固定连接成整体；所述定位块(1)上开有U形缺口(101)，U形缺口(101)和底板(3)构成U形定位槽(4)，所述测量齿(2)的测量端(22)位于所述U形定位槽(4)内，所述测量端(22)的上下两侧分别设有上排齿(221)和下排齿(222)。/n

【技术特征摘要】
1.一种高精度产品检查治具，其特征在于：包括底板(3)，所述底板(3)上表面依次叠放连接有测量齿(2)和定位块(1)，底板(3)、测量齿(2)和定位块(1)固定连接成整体；所述定位块(1)上开有U形缺口(101)，U形缺口(101)和底板(3)构成U形定位槽(4)，所述测量齿(2)的测量端(22)位于所述U形定位槽(4)内，所述测量端(22)的上下两侧分别设有上排齿(221)和下排齿(222)。


2.如权利要求1所述的一种高精度产品检查治具，其特征在于：测量齿(2)整体成T型结构，包括固定端(21)和所述测量端(22)，固定端(21)上下表面分别定位块(1)、底板(3)固定连接，测量端(22)在U形定位槽(4)内沿长度方向延伸，测量端(22)的上下两侧边缘均沿长度...

【专利技术属性】
技术研发人员：于波，王金柱，
申请(专利权)人：无锡通芝微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32