三态电路测试器制造技术

技术编号:2638743 阅读:170 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种测试电路,能测试在逻辑1、逻辑0和高阻抗状态下的电路,例如门电路。为达到此目的,在受测试的数字电路的输出端接上两个比较器,同时将两比较器的第二输入端分别接到不同的参考电压上。将受测试数字电路输出端的电压电平与可编程的参考电压进行比较,就可以编制受测试数字电路工作的唯一真值表。(*该技术在2008年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种测试三态数字器件用的电路,该器件具有一逻辑1电平和逻辑0电平用的信号输入端和一三态起动输入端,其特征在于,该测试电路包括:第一参考电压点和第二参考电压点;分压装置,具有一中心接点,连接到器件的一个输出端,还具有若干外部接点,连接 到各相应的参考电压点上;第一比较器和第二比较器,各比较器的第一输入端连接到相应的参考电压点,第二输入端则连接到所述的中心点;在各比较器输出端的专用端子装置,其中各比较器:当信号输入端出现逻辑0时,在两端子上都带逻辑0,当信号输入 端出现逻辑1时,在两端子上都带逻辑1,当在三态起动输入端上出现起动信号时,在一个端子带逻辑0,在另一个端子上带逻辑1。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:约瑟夫A兰冈迈克尔乌真蒂
申请(专利权)人:格鲁曼航天公司
类型:发明
国别省市:US[美国]

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