校验算法的测试方法、芯片、存储介质和家用电器技术

本申请公开了一种校验算法的测试方法、测试装置、存储介质和家用电器，该校验算法的测试方法包括：获取校验参数和输入数据；输入输入数据和校验参数至校验单元，得到校验结果；比对校验结果与标准结果，检测并确认校验结果与标准结果一致，输出测试通过；其中，标准结果基于输入数据和校验参数产生。通过上述方式，能够提高校验算法的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
校验算法的测试方法、芯片、存储介质和家用电器
本申请涉及校验测试
，特别是涉及一种校验算法的测试方法、芯片、存储介质和家用电器。
技术介绍
数据校验是为保证数据的完整性进行的一种验证操作。通常用一种指定的算法对原始数据计算出的一个校验值，接收方用同样的算法计算一次校验值，如果两次计算得到的检验值相同，则说明数据是完整的。常用的校验包括循环冗余校验(CyclicRedundancyCheck，CRC)、纵向冗余校验(LongitudinalRedundancyCheck，LRC)、奇偶校验和校验和等。在测试阶段，一般会通过编写测试用例的方式来对校验算法进行测试，由于校验算法的种类较多，且每一种校验算法对于不同的校验模式下具有不同的校验参数，因此，对于每一种情况单独编写一个测试用例较为繁琐。
技术实现思路
为解决上述问题，本申请提供了一种校验算法的测试方法、芯片、存储介质和家用电器，能够提高校验算法的测试效率。本申请采用的一个技术方案是：提供一种校验算法的测试方法，该方法包括：获取校验参数和输入数据；输入输入数据和校验参数至校验单元，得到校验结果；比对校验结果与标准结果，检测并确认校验结果与标准结果一致，输出测试通过；其中，标准结果基于输入数据和校验参数产生。其中，获取校验参数和输入数据，包括：获取测试任务；获取与测试任务对应的校验参数，基于测试任务生成对应的输入数据。其中，获取测试任务以及对应的校验参数，包括：构建参数结构体和校验类；其中，参数结构体包含校验算法所需要的校验参数，校验类用于定义测试任务；基于测试任务确定检验模式；将参数结构体中与校验模式相对应的校验参数，例化至校验类中。其中，构建参数结构体和校验类，包括：基于UVM框架构建参数结构体和校验类。其中，该方法还包括：基于UVM框架构建标准校验函数；利用标准校验函数对输入数据和检验参数进行校验运算，得到标准结果。其中，检测并确认校验结果与标准结果一致之前，还包括：预存标准结果。其中，输入输入数据和校验参数至校验单元，得到校验结果，包括：写入输入数据至校验单元的数据寄存器，写入校验参数至校验单元的参数寄存器，写入校验单元输出的校验结果至校验单元的结果寄存器。其中，校验算法为循环冗余校验算法。其中，基于测试任务生成对应的输入数据，包括：获取初始输入数据；检测并确认初始输入数据为ASCII码，将预设的ASCII标准码作为校验单元的输入数据；或检测并确认初始输入数据为二进制数，生成随机数作为校验单元的输入数据。本申请采用的另一个技术方案是：提供一种校验算法的测试方法，该方法包括：运行测试用例，输入校验参数和输入数据至测试用例，得到校验结果与标准结果；比对校验结果与标准结果，检测并确认校验结果与标准结果一致，输出测试通过。本申请采用的另一个技术方案是：提供一种芯片，该芯片被配置为执行如上述方法的步骤。本申请采用的另一个技术方案是：提供一种计算机可读存储介质，其中，该存储有程序数据，程序数据能够被处理器执行以实现如上述方法的步骤。本申请采用的另一个技术方案是：提供一种家用电器，其特征在于，家用电器包括如上述的芯片或者计算机可读存储介质。本申请提供的校验算法的测试方法包括：获取校验参数和输入数据；输入输入数据和校验参数至校验单元，得到校验结果；比对校验结果与标准结果，检测并确认校验结果与标准结果一致，输出测试通过；其中，标准结果基于输入数据和校验参数产生。通过上述方式，可以采用创建测试任务的形式，根据测试任务自动进行校验算法并生成校验结果和标准结果，并对两者进行比较以判断校验结果的准确性，在进行大量测试时，只需要更调整测试任务和校验参数即可，无需对于每一次测试编写一个测试用例，从而提高了测试效率。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：图1是本申请提供的校验算法的测试方法第一实施例的流程示意图；图2是本申请提供的校验算法的测试方法第二实施例的流程示意图；图3是本申请提供的校验算法的测试方法第三实施例的流程示意图；图4是本申请提供的校验算法的测试方法第三实施例的数据流示意图；图5是本申请提供的校验算法的测试方法第四实施例的数据流示意图；图6是本申请提供的芯片一实施例的结构示意图；图7是本申请提供的计算机可读存储介质一实施例的结构示意图；图8是本申请提供的家用电器一实施例的结构示意图。具体实施方式下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本申请，而非对本申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结构。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。本申请中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。参阅图1，图1是本申请提供的校验算法的测试方法第一实施例的流程示意图，该方法包括：步骤11：获取校验参数和输入数据。校验算法可以包括循环冗余校验、纵向冗余校验、奇偶校验和校验和等，这里以循环冗余校验为例。循环冗余校验是一种根据网络数据包或计算机文件等数据产生简短固定位数校验码的一种信道编码技术，主要用来检测或校验数据传输或者保存后可能出现的错误。它是利用除法及余数的原理来作错误侦测的。在数据传输过程中，无论传输系统的设计再怎么完美，差错总会存在，这种差错可能会导致在链路上传输的一个或者多个帧被破坏(例如(出现比特差错，0变为1，或者1变为0)，从而接受方接收到错误的数据。为尽量提高接受方收到数据的正确率，在接收方接收数据之前需要对数据进行差错检测，当且仅当检测的结果为正确时接收方才真正收下数据。循环冗余校验是一种用于校验通信链路上数字传输准确性的计算方法(通过某种数学运算来建立数据位和校验位的约定关系的)。发送方计算机使用某公式计算出被传送数据所含信息的一本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种校验算法的测试方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取校验参数和输入数据；/n输入所述输入数据和所述校验参数至校验单元，得到校验结果；/n检测并确认所述校验结果与标准结果一致，输出测试通过；其中，所述标准结果基于所述输入数据和所述校验参数产生。/n

【技术特征摘要】
1.一种校验算法的测试方法，其特征在于，所述方法包括：
获取校验参数和输入数据；
输入所述输入数据和所述校验参数至校验单元，得到校验结果；
检测并确认所述校验结果与标准结果一致，输出测试通过；其中，所述标准结果基于所述输入数据和所述校验参数产生。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述获取校验参数和输入数据，包括：
获取测试任务；
获取与所述测试任务对应的校验参数，基于所述测试任务生成对应的输入数据。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，
所述获取测试任务以及对应的校验参数，包括：
构建参数结构体和校验类；其中，所述参数结构体包含所述校验算法所需要的校验参数，所述校验类用于定义所述测试任务；
基于所述测试任务确定检验模式；
将所述参数结构体中与所述校验模式相对应的校验参数，例化至所述校验类中。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，
所述构建参数结构体和校验类，包括：
基于UVM框架构建所述参数结构体和所述校验类。


5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，
所述方法还包括：
基于所述UVM框架构建标准校验函数；
利用所述标准校验函数对所述输入数据和所述检验参数进行校验运算，得到所述标准结果。


6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述检测并确认所述校验结果与标准结果一致之前，还包括：
预存所述标准结果。

【专利技术属性】
技术研发人员：刘凯，
申请(专利权)人：上海美仁半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31