具有测试电流回路阻抗的电子负载模拟装置制造方法及图纸

一种具有测试电流回路阻抗的电子负载模拟装置，在一电子负载模拟装置基本单元的控制电路中主要包括有一运算放大器、一开关器件、一测试电流传感器件、一测试电流回授电路，其中该开关器件与该测试电流传感器件串联后，跨接于待测电源的正端及负端，而构成一测试电流回路，该测试电流回路中的开关器件与该待测电源的正端间串联有一阻抗器件。数个电子负载模拟装置基本单元中的开关器件与该测试电流传感器件串联后所构成的测试电流回路可予以并联，以供测试具有较高测试电流值的电子载模拟装置。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有于一种电子负载模拟装置的控制电路设计，特别是指一种具有测试电流回路阻抗的电子负载模拟装置。但在前述的直流电子负载模拟装置控制电路图中，其中该串联的电流感测电阻是为了侦测测试电流的大小，以将该电流值的大小信号回授至运算放大器，故通常该电流感测电阻的阻值都不大。由于待测电源所施加的电压值是跨于该功率晶体与电流感测电阻的两端，故当功率晶体导通时，大部分的功率都会落在该功率晶体上，使得功率晶体会产生大量的热量。故在实际的电子负载设计中，都必需在该功率晶体上配置大的热散器，以避免该功率晶体烧毁、或是选用具有大功率值的功率晶体，如此将造成该电子负载模拟装置的器件成本增高。再者，由于在实际应用时，对于大功率或大测试电流的电子负载模拟装置，都是采用数个功率晶体回路并联，故每一个功率晶体都必需附加一个大的散热器，且该功率晶体本身在选用时，必需选用大功率值，如此将造成整个电子负载的零件成本大幅增加。此外，由于该电流感测电阻和阻值都很小，故当该功率晶体在突然被接上或突然被截止时(即功率晶体在导通与截止的瞬间)，将含有一个很大的突波电流，如此将很容易产生噪声，也可能对该整个测试电流回路中所连接的电子器件造成损坏的状况。本专利技术的另一目的是提供一种低成本电路架构的电子负载模拟装置，其在电子负载模拟装置中的测试电流回路中包括有一串联阻抗，通过该串联阻抗，可以在选用较低额定功率值的功率晶体下，组构出该电子负载模拟装置的控制电路，以有效降低零件成本。本专利技术的另一目的是提供一种可有效抑制突波电流的电子负载模拟装置的控制电路，其在电子负载模拟装置中的测试电流回路中包括有一串联阻抗，通过该串联阻抗，可以在当功率晶体突然被接上或突然被截止时，抑制其突波电流的最大值。为了要达到上述的目的，本专利技术较佳实施例中在功率晶体与测试电流感测电阻串联后，后在开关器件与该待测电源间串联有一阻抗器件。数个电子负载模拟装置基本单元中的开关器件与该测试电流感测器件串联后所构成的测试电流回路可予以并联，以供测试具有较高测试电流值的电子载模拟装置。为使贵审查员对于本专利技术能有更进一步的了解，配合附图及较佳实施例说明，对本专利技术作一详细说明。该测试电流设定值Va1可由一模拟式测试电流设定单元10予以设定，也可通过一数值或模拟转换器(D/A Converter)将数字电路或微处理器所设定的测试电流数字信号转为一测试电流设定值。测试电流设定值Va1送到第一运算放大器11的反相输入端(-)，而可由该第一连算放大器11在其输出端产生一驱动信号控制该功率晶体12的导通状态。当该功率晶体12导通时，由待测电源VL供应一测试电流IL，该测试电流IL的大小可由一测试电流感测器件13(例如一电阻)、及差动放大器14予以检测并予以放大。差动放大器14的输出端所产生的电流差动信号再送至前述第一连算放大器11的反相输入端(-)，作为回授实际电流值Va2。当测试电流设定值Va1改变时，则即可在前述电路的控制之下，在负载端得到一正向的测试电流IL。在本专利技术的电路设计中，该功率晶体12与测试电流感测器件13串联后，再于该功率晶体12与该待测电源VL的正端(+)间串联有一阻抗器件RL。在此一实施例中，该阻抗器件RL为一电阻，其电阻值大约为例如100，其阻值的选用较测试电流感测器件13的阻值(大约为0.1)大。该测试电流回路中所串联连接的阻抗器件RL，可以使得当功率晶体12导通时，大部分的功率都含落在该阻抗器件RL上，只要选用适当额定值的电阻，即可使得功率晶体不需承担几乎所有的测试电源VL的电压，故可以选用较低额定功率值的功率晶体来组构出该电子负载模拟装置的控制电路，以有效降低零件成本。再者，由于本专利技术的电子负载模拟装置中的测试电流回路中串联连接了一串联阻抗，通过该串联阻抗，可以在当功率晶体突然被接上或突然被截止时，抑制其突波电流的最大值。在实际电子负载应用时，可将数个如附图说明图1所示的电子负载模拟装置基本单元予以并联，以执行大负载的模拟测试。图2显示将两个以上电子负载模拟装置基本单元1、1a并联使用时电路图。该电子负载模拟装置基本单元1、1a共享一测试电流设定单元10，而其测试电源VL互相并联，通过并联的测试电流回路，使总测试电流几可以平均分摊成分支测试电流比IL1、IL2至各个测试电流回路，而在该并联的电路架构中，每一个测试电流回路中的功率晶体12与待测电源VL的正端(+)间皆串联有一阻抗器件RL1、RL2，其动作原理、功能则与前述的实施例相同。综上所述，本专利技术所提供的具有测试电流回路阻抗的电子负载模拟装置，确能在简单的电路架构下，提供低成本、安全的电子负载模拟装置。以上仅为本专利技术的较佳实施例说明，而非用以限制本专利技术人。因此，熟悉此技术者当可对本专利技术作种种的改良与修改，但这些改变仍属于本专利技术的创作精神以及所界定的专利范围内。权利要求1.一种具有测试电流回路阻抗的电子负载模拟装置，在一电子负载模拟装置基本单元的控制电路中主要包括有一运算放大器、一开关器件、一测试电流感测器件、一测试电流回授电路，其特征在于其中该开关器件与该测试电流感测器件串联后，跨接于待测电源的正端及负端，而构成一测试电流回路，该测试电流回路中的开关器件与该待测电源的正端间串联有一阻抗器件。2.如权利要求1所述的具有测试电流回路阻抗的电子负载模拟装置，其特征在于其中该测试电流感测器件为一串联电阻。3.如权利要求1所述的具有测试电流回路阻抗的电子负载模拟装置，其特征在于其中该开关器件为一功率晶体，其栅极连接至该运算放大器的输出端，通过该运算放大器而控制该功率晶体的开关状态。4.如权利要求1所述的具有测试电流回路阻抗的电子负载模拟装置，其特征在于其包括有相互并联的数个电子负载模拟装置基本单元，在关联时，将每一个电子负载模拟装置基本单元中的开关器件与该测试电流感测器件串联后所构成的测试电流回路予以并联，以供测试具有较高测试电流值的电子载模拟装置。全文摘要一种具有测试电流回路阻抗的电子负载模拟装置，在一电子负载模拟装置基本单元的控制电路中主要包括有一运算放大器、一开关器件、一测试电流传感器件、一测试电流回授电路，其中该开关器件与该测试电流传感器件串联后，跨接于待测电源的正端及负端，而构成一测试电流回路，该测试电流回路中的开关器件与该待测电源的正端间串联有一阻抗器件。数个电子负载模拟装置基本单元中的开关器件与该测试电流传感器件串联后所构成的测试电流回路可予以并联，以供测试具有较高测试电流值的电子载模拟装置。文档编号G01R27/02GK1432815SQ0210241公开日2003年7月30日 申请日期2002年1月18日 优先权日2002年1月18日专利技术者刘英彰, 张永龙 申请人:刘英彰 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有测试电流回路阻抗的电子负载模拟装置，在一电子负载模拟装置基本单元的控制电路中主要包括有一运算放大器、一开关器件、一测试电流感测器件、一测试电流回授电路，其特征在于：其中该开关器件与该测试电流感测器件串联后，跨接于待测电源的正端及负端，而构成一测试电流回路，该测试电流回路中的开关器件与该待测电源的正端间串联有一阻抗器件。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘英彰，张永龙，
申请(专利权)人：刘英彰，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]