本发明专利技术的电磁信号感测系统包含一用以产生一电调制信号的调制电路、一电气连接于该调制电路的激光光源、一耦合于该激光光源的光调制散射组件、一接收天线、一电气连接于该接收天线的同步检测电路以及一电气连接于该同步检测电路的信号处理电路。该激光光源根据该电调制信号产生一光调制信号以调制该光调制散射组件将一电磁信号转换成一调制散射波信号。该调制散射波信号经该接收天线接收后，由该同步检测电路根据该调制散射波信号及该电调制信号产生具有９０度相位差的一第一相位信号及一第二相位信号，再由该信号处理电路计算该电磁信号的振幅及相位。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术是关于一种电磁信号感测系统，特别是关于一种可避免干扰一待测电磁信号的电磁信号感测系统。
技术介绍
无线通讯是以天线发射/接收电磁信号，因而如何使天线的发射电磁场型符合规格的要求是提升天线品质的重要课题。再者，无线通讯产品所发射的电磁波强度必须低于国际安全标准的能量吸收率(Specific AbsorptionRate，SAR)规范值才能上市，因此SAR的量测技术对开发手机而言也是相当重要的。目前已经有许多量测电磁波的技术，其中之一是利用调制散射振子来量测电磁场的分布。美国专利US 4,552,151及US 5,430,369揭示一种调制散射振子阵列技术，其利用电方式调制散射振子内部的二极管并搭配快速扫描来量测电磁场。上述专利揭示的技术是经由电线传送用以偏压散射振子内部的二极管的电压。然而，传导调制信号的电线会辐射出些许电磁波干扰待测电磁信号。简言之，现有技艺使用电线传送调制信号并以电方式偏压散射振子内部的二极管，因而影响电磁信号的量测准确度。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提供一种可避免干扰一待测电磁信号的电磁信号感测系统。为达到本专利技术的目的，本专利技术揭示了一种电磁信号感测系统，其包含一用以产生一电调制信号的调制电路、一电气连接于该调制电路的激光光源、一耦合于该激光光源的光调制散射组件、一接收天线、一电气连接于该接收天线的同步检测电路以及一电气连接于该同步检测电路的信号处理电路。该光调制散射振组件包含一基板、一设置于该基板下表面的散射天线、一连接该散射天线的光开关以及一用以传送该光调制信号的光波导。该散射天线包含设置于该基板下表面的一第一导线段及一第二导线段。该光波导的一端是对准该光开关，而另一端则耦合于该激光光源以将该光调制信号传送至该光开关。该光开关根据该光调制信号导通该第一导线段及该第二导线段以形成一个较长的金属散射体，进而增强该光调制散射组件所发出的散射信号。该激光光源根据该电调制信号产生一光调制信号，而该光调制散射组件则可根据该光调制信号将一电磁信号转换成一调制散射波信号。该调制散射波信号经该接收天线接收后传送至该同步检测电路，该同步检测电路再由该调制散射波信号及该电调制信号产生具有90度相位差的一第一相位信号及一第二相位信号。该信号处理电路则根据该第一相位信号及该第二相位信号计算该电磁信号的振幅及相位。相较于现有技术中使用电信号调制散射振子，本专利技术的电磁信号感测系统中的光调制散射组件是以一光信号调制而不会干扰待测电磁信号。本专利技术藉由改变散射天线的散射截面以产生散射波，并通过同步检测技术将散射波从电磁场背景噪声中撷取出来，可测得散射振子所在地的电磁场。再者，藉由地址产生器及解复用器切换控制多个散射天线，并搭配使用光调制散射组件，则本专利技术的电磁信号感测系统就可测得光调制散射组件所在地的电磁场分布。附图说明图1显示本专利技术第一实施例的电磁信号感测系统；图2显示本专利技术第二实施例的电磁信号感测系统；图3显示本专利技术第一实施例的光调制散射组件；图4是本专利技术的光开关的示意图；图5显示本专利技术第二实施例的光调制散射组件；图6显示本专利技术第三实施例的光调制散射组件；图7显示本专利技术第四实施例的光调制散射组件；图8显示本专利技术第五实施例的光调制散射组件；图9显示本专利技术第六实施例的光调制散射组件；图10显示本专利技术第三实施例的电磁信号感测系统；图11显示本专利技术第七实施例的光调制散射组件；图12显示本专利技术第八实施例的光调制散射组件；图13显示本专利技术第九实施例的光调制散射组件；图14显示本专利技术第十实施例的光调制散射组件；图15显示本专利技术第十一实施例的光调制散射组件。符号说明10光调制散射振子 12基板20天线 22第一导线段24第二导线段30光开关31a本质砷化镓基板 31b 高掺杂砷化镓基板32第一电极 34第二电极40光波导42套管50光调制散射组件 52基板54开口 70光调制散射组件 80光调制散射组件 90光调制散射组件100电磁信号感测系统102调制电路104激光光源106接收天线108同步检测电路110信号处理电路120电磁信号感测系统122信号源124发射/接收天线 130循环器132第一埠 134第二埠136第三埠 140电磁信号感测系统142地址产生器 144解复用器150光调制散射组件 160环形天线162自由末端164自由末端200光调制散射组件 202基板210光调制散射组件 212基板214上表面 216下表面310光调制散射组件 312本体314表面316表面318表面320光调制散射组件330光调制散射组件具体实施方式图1显示本专利技术第一实施例的电磁信号感测系统100。如图1所示，该电磁信号感测系统100包含一用以产生一电调制信号的调制电路102、一电气连接于该调制电路102的激光光源104、一耦合于该激光光源104的光调制散射组件10、一接收天线106、一电气连接于该接收天线106的同步检测电路108以及一电气连接于该同步检测电路108的信号处理电路110。该激光光源104根据该电调制信号产生一光调制信号，而该光调制散射组件10则可根据该光调制信号将一电磁信号转换成一调制散射波信号。该调制散射波信号经该接收天线106接收后传送至该同步检测电路108，该同步检测电路108再从该调制散射波信号及该电调制信号产生具有90度相位差的一第一相位信号I及一第二相位信号Q。该第一相位信号I与该电调制信号是同相位，而该第二相位信号Q则与该电调制信号具有90度的相位差。该信号处理电路110则根据该第一相位信号及该第二相位信号计算该电磁信号的振幅及相位。图2显示本专利技术第二实施例的电磁信号感测系统120。如图2所示，该电磁信号感测系统120包含一可产生一测试信号的信号源122、一电气连接于该信号源122的循环器130、一电气连接于该循环器130的发射/接收天线124、一用以产生一电调制信号的调制电路102、一电气连接于该调制电路102的激光光源104、一耦合于该激光光源104的光调制散射组件10、一电气连接于该循环器130的同步检测电路108以及一电气连接于该同步检测电路108的信号处理电路110。该循环器130包含一第一埠132、一第二埠134及一第三埠136，而该测试信号是经由该第一埠132输入该循环器130并经由该第二埠134输出。该发射/接收天线124是电气连接于该循环器130的第二埠134，且根据该测试信号发射一电磁信号。该电磁信号先经由该光调制散射组件10转换成一调制散射波信号，再由该发射/接收天线124接收。该同步检测电路108是电气连接于该循环器130的第三埠136，且该调制散射波信号经该发射/接收天线124接收后由该第二埠134输入该循环器130，再经由该第三埠136传送至该同步检测电路108。图3显示本专利技术第一实施例的光调制散射组件10，其是光调制散射振子。如图3所示，该光调制散射组件10包含一基板12、一设置于该基板12下表面的散射天线20、一连接该散射天线20的光开关30、一用以传送该光调制信号的光波导40以及一用以将该光波导40固定于该基板12上表面的套管42。该散射天线20包含设置于该基板12下表面的一第一导线段22及一第二导线段24本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电磁信号感测系统，其特征在于，包含：一调制电路，用以产生一电调制信号；至少一激光光源，其根据该电调制信号产生一光调制信号；一光调制散射组件，其根据该光调制信号将一电磁信号转换成一调制散射波信号；一接收天线 ，用以接收该调制散射波信号； 一检测电路，用以检测该电调制信号及该调制散射波信号；以及一信号处理电路，电气连接于该检测电路，用以计算该电磁信号的振幅及相位。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄铭杰，梁文烈，薛文崇，
申请(专利权)人：财团法人工业技术研究院，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
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