本发明专利技术公开一种检测装置，用以检测一基板，包括一对探针架以及一可挠性连接元件，探针架电连接至基板，可挠性连接元件则电连接探针架。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种检测装置，特别是涉及一种适用于检测基板的检测装置。
技术介绍
图1显示一种现有基板检测装置，基板S(例如TFT阵列基板)放置在一机台C上，检测装置1包括一框架11，在框架11上环设有多个探针13，检测装置1的探针13电连接至基板S，施加一既定电压于检测装置1上，用以检测基板S是否有缺陷。然而，现有检测装置1的框架11是由金属一体成型制成，随着科技的进步，基板S的尺寸越来越大，框架11的尺寸也需对应于基板S而加大，针对每种不同尺寸的基板S重新制作框架11，如此一来，将造成基板检测的操作上以及框架11的搬运上十分地不便，又框架11的尺寸增加相当地耗费成本。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种基板的检测装置，其不仅可以适用于各种尺寸的基板，更可大幅度减少检测装置的重量，因而可提高检测装置于使用上的便利性。本专利技术的目的是这样实现的，即提供的一种检测装置，用以检测基板，包括一对探针架以及可挠性连接元件，探针架用以电连接上述基板，而可挠性连接元件用以电连接上述探针架。在一实施例中，上述探针架呈长条状。在一实施例中，每一探针架分别具有第一连接部，可挠性连接元件具有两个第二连接部，第二连接部分别连接第一连接部用以电连接上述探针架。在一实施例中，上述第一连接部分别设置于两个探针架的一端，当探针架连接于基板时，第一连接部位于基板的同一侧。在一实施例中，每一探针架具有多个探针，用以电连接基板。在一实施例中，可挠性连接元件为电线。本专利技术也提供一种检测装置，用以检测基板，包括两个探针架、多个探针以及可挠性连接元件，两个探针架分别连接于基板的两侧边，多个探针设置于探针架上且电连接基板，可挠性连接元件以可拆卸方式电连接探针架。在一实施例中，上述探针架呈长条状。在一实施例中，每一探针架分别具有第一连接部，可挠性连接元件具有两个第二连接部，第二连接部分别连接第一连接部用以电连接上述探针架。在一实施例中，上述第一连接部分别设置于两个探针架的末端，当探针架连接于基板时，第一连接部位于基板的同一侧。在一实施例中，可挠性连接元件为电线。为使本专利技术的上述及其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举具体的较佳实施例，并配合所附图式做详细说明。附图说明图1为现有检测装置的示意图；图2为本专利技术的检测装置的示意图；图3为本专利技术的检测装置的另一示意图。具体实施例方式以下以具体的实施例，对本专利技术揭示的形态内容加以详细说明。如图2所示，根据本专利技术的实施例，检测装置2用以检测基板。检测装置2主要包括一对探针架21以及可挠性连接元件25，挠性连接元件25是以可拆卸的方式电连接两个探针架21。探针架21大体上呈长条状，其上设置有多个探针23，此外，在每一探针架21的一端另设置有第一连接部211，可挠性连接元件25的两端则分别设置有第二连接部251。如图3所示，要检测基板S时，可将基板S放置于机台C上，并将两个探针架21连接至基板S。探针架21上具有探针23的侧面是朝向基板S，使得探针架21上的探针23可与基板S电连接，再将可挠性连接元件25两端的第二连接部251分别与两个探针架21上的第一连接部211连接，用以电连接两个探针架21，而后便可进行基板的检测动作。如图3所示，当检测装置2装设于基板S上以进行基板的检测动作时，两个探针架21分别连接至基板S的两侧边，两个第一连接部211分别位于两个探针架21的末端，而两个第一连接部211与两个第二连接部251连接后位于基板S的同一侧。在上述中，探针架21可由金属材料所制成，而可挠性连接元件25可以为电线。综上所述，本专利技术所揭露的检测装置，可应用于检测各种尺寸的基板，而无需对应不同的基板的尺寸重新制作探针架；同时，检测装置的结构简单，可大幅度减少检测装置的重量以及制作成本，使得检测装置在操作及搬运时更为方便，提高检测装置于使用上的便利性。虽然结合以上较佳实施例揭露了本专利技术，然而其并非用以限定本专利技术，任何熟悉此项技术者，在不脱离本专利技术的精神和范围的前提下，仍可作一些的更动与润饰，因此本专利技术的保护范围应以权利要求所界定的为准。权利要求1.一种检测装置，用以检测一基板，包括一对探针架，适于电连接该基板；以及一可挠性连接元件，电连接该对探针架。2.如权利要求1所述的检测装置，其中该对探针架呈长条状。3.如权利要求1所述的检测装置，其中每一探针架分别具有一第一连接部，该可挠性连接元件具有二第二连接部，该各第二连接部分别连接该各第一连接部，用以电连接该对探针架。4.如权利要求3所述的检测装置，其中该各第一连接部分别设置于该对探针架的一端，当该对探针架连接于该基板时，该各第一连接部位于该基板的同一侧。5.如权利要求1所述的检测装置，其中每一探针架具有多个探针，用以电连接该基板。6.如权利要求1所述的检测装置，其中该可挠性连接元件为一电线。7.一种检测装置，用以检测一基板，包括两探针架，分别连接于该基板的两侧边；多个探针，设置于该各探针架上，且适于电连接该基板；以及一可挠性连接元件，以可拆卸方式电连接该各探针架。8.如权利要求7所述的检测装置，其中该各探针架呈长条状。9.如权利要求7所述的检测装置，其中每一探针架分别具有一第一连接部，该可挠性连接元件具有二第二连接部，该各第二连接部分别连接该各第一连接部，用以电连接该各探针架。10.如权利要求9所述的检测装置，其中该各第一连接部分别设置于该各探针架的末端，当该各探针架连接于该基板时，该各第一连接部位于该基板的同一侧。11.如权利要求7所述的检测装置，其中该可挠性连接元件为一电线。全文摘要本专利技术公开一种检测装置，用以检测一基板，包括一对探针架以及一可挠性连接元件，探针架电连接至基板，可挠性连接元件则电连接探针架。文档编号G01R31/00GK1758062SQ20051012473公开日2006年4月12日 申请日期2005年11月16日 优先权日2005年11月16日专利技术者陈治平 申请人:友达光电股份有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种检测装置，用以检测一基板，包括：一对探针架，适于电连接该基板；以及一可挠性连接元件，电连接该对探针架。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈治平，
申请(专利权)人：友达光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
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