存储器的输出电源测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种存储器的输出电源测试装置，包括有一信号控制装置和一调压电路。信号控制装置与调压电路相连结，且调压电路可根据来自信号控制装置的一组测试信号而调整输出电压。也就是，信号控制装置调变测试信号的高电平或低电平，进而使调压电路根据测试信号的高电平或低电平分别输出高电平或低电平的电压。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术关于一种电源测试装置，特别是一种存储器的输出电源测试装置。
技术介绍
不论是成品或半成品的电子装置，于电子装置生产过程中，测试环节都是必不可少的。若是于研制新机型时，更需要经过反复测试及改进，才能确保此新机型的电子装置的质量。即使是量产中的机型，于每次出货前也是必须逐一地经过测试后，才可进行销售。并且，就算仅是于量产的机型的电子装置中增加一组件或是增加一组件的功能，仍然需再经过反复测试各项零件及功能后，才可进行销售。一般来而言，于出厂测试过程中，基本上会对电子装置中所包含的全部功能、组件和装置进行检测，因此若多增加一功能或一装置时，相对会增加其所需的测试时间，所以如何于较短的测试时间内得到完整确实的测试结果为增加产能的主要方法之一。于出厂测试过程中，对于存储器测试中，需观察其电源输出的稳定性，一般来说存储器电源输出(output power)需维持于一固定值--2.5V，然而于实际输出时会因电路设计和组成组件本身等影响仅为一接近2.5V的固定电压。而若输出电压过大或过小时，易造成系统不稳定，甚至造成整个电子装置故障。因此，于出厂测试过程中需进行存储器电源的测试，以确保系统的稳定性。先前的测试方式通过一可调电阻取代原先输出端的分压电阻，然后，通过调整可调电阻的阻值使输出电压产生±0.6V的变化(即1.9V～3.1V电压范围)，并观察系统的稳定性。然而，此做法需通过络铁先将分压电阻取下，然后再将可调电阻焊接于原先分压电阻的位置，才可进行测试，因此相当不方便，并且，此方法于取下分压电阻和焊接可调电阻的过程中，很可能会损害到其它外围的电子组件。另外，再调整可调电阻的阻值时需相当稳定，否则稍有些许变动即会造成输出电压值改变，因而影响到测试结果。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种存储器的输出电源测试装置，以解决先前技术所存在的诸多限制与缺点。为了达到上述目的，本专利技术提供了一种存储器的输出电源测试装置，其中包括一信号控制装置，用以产生多个测试信号；以及一调压电路，连接至该信号控制装置，用以根据该测试信号而调变输出电压。根据本专利技术的构思，该信号控制装置包括一连接器，具有多个插槽，以产生该测试信号；以及一个以上的跳接器，用以插入该插槽中，以改变该测试信号。根据本专利技术的构思，该测试信号根据该跳接器的个数和插入该插槽的位置而变化。根据本专利技术的构思，该存储器的输出电源测试装置还包括一滤波电路，连接该调压电路，以进行该调压电路输出电压的滤波；以及一分压电阻，与该滤波电路并联。根据本专利技术的构思，该滤波电路包括多个相互并联的电容。根据本专利技术的构思，该调压电路为一集成电路。本专利技术所揭示的存储器的输出电源测试装置，通过一控制集成电路(IC)来改变输出电压值，以测试输出电压于±0.6V的变化时系统的稳定性。也就是说，本专利技术所揭示的存储器的输出电源测试装置，包括有一信号控制装置和一调压电路。信号控制装置与调压电路相连结，其中，调压电路可根据来自信号控制装置的一组测试信号而调整输出电压。也就是，信号控制装置调变测试信号的高电平或低电平，进而使调压电路根据测试信号的高电平或低电平分别输出高电平或低电平的电压。于此，调压电路可为一集成电路。而信号控制装置可为一连接器，其上具有多个插槽。通过插槽上插置的跳接器(JUMP)个数以及插置的插槽位置而产生不同的测试信号组合。此外，本专利技术所揭示的存储器的输出电源测试装置，包括有一滤波电路以及一分压电阻。其中分压电阻以并联的方式与滤波电路相连。滤波电路用以进行输出电压的滤波作用，而分压电阻用以分压。于此，滤波电路可由多个相同或相异的电容并联而成。附图说明图1是为说明公知的存储器的输出电路的概要结构图；图2是为说明公知的存储器输出电压的测试电路的概要结构图；图3是为说明根据本专利技术的一实施例的存储器的输出电源测试装置的概要结构图；以及图4是为说明于图3中各个测试信号组成与输出电压Vo的关系表。其中，附图标记说明如下VCC-输入电压；V-电压；Vo-输出电压；U-集成电路；Cs-滤波电路；R-分压电阻；VR-可变电阻；VU-调压电路；SC-信号控制装置；S1～S5测试信号。具体实施例方式以下举出具体实施例以详细说明本专利技术的内容，并以附图作为辅助说明。说明中提及的符号参照附图符号。于存储器的电路设计上，于存储器输出端部分大部分包括一集成电路U、一滤波电路Cs和一分压电阻R，其中三者依序相连，如图1所示。因此，存储器的输出电压会先经过集成电路U整合，然后通过滤波电路Cs由分压电阻R分压后而输出。而一般滤波电路可由多个相同或相异的电容并联而成。其中，分压电阻以并联方式与滤波电路相连。于公知的测试方法中，如图2所示，为公知的存储器电源测试电路的结构图，以一可变电阻VR取代原先分压电阻的位置，因此，经由测试人员通过手动调整可变电阻VR的阻值，以改变输出电压值。参照图3，为本专利技术一实施例的存储器的输出电源测试装置。于此，一调压电路VU、一滤波电路Cs和一分压电阻依序相连，并有一信号控制装置SC连接至调压电路VU。其中，调压电路VU可根据一组测试信号S1～S5而调整输出电压，也就是根据的测试信号S1～S5的高电平或低电平而分别输出高电平或低电平的电压。而这些测试信号S1～S5通过信号控制装置SC来调整其信号组成。于此，滤波电路可由多个相同或相异的电容并联而成。而此调压电路VU可为一集成电路，例如型号HIP6311的集成电路等。信号控制装置SC可为一连接器(connecter)，其上具有多个插槽。当一个以上的跳接器(JUMP)与插槽结合时，即可产生一组测试信号。也就是，通过插入跳接器的插槽个数和插槽位置的改变来产生不同的测试信号组合。举例来说，参照图3，假设本专利技术一实施例的存储器的输出电源测试装置中的调压电路VU为一集成电路，而信号控制装置SC为一连接器。将此存储器的输出电源测试装置应用于一存储器电路上时，测试人员进行存储器的输出电源测试时，可依序增加插入连接器的跳接器个数以及依序变化插入的插槽，因而不同电平的测试信号组S1～S5依序输入至集成电路。此时，集成电路根据各个测试信号组依序调变输出电压Vo，其中，各个测试信号组成与输出电压Vo的关系，如下图4所示，其中，“1”表示高电平的信号，而“0”表示低电平的信号。因而，输出电压即可产生±0.6V的变化，进而测试人员可通过此电压变化进行整个系统稳定性的观察。虽然本专利技术以前述的较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本专利技术，任何熟悉相像技术者，在不脱离本专利技术的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本专利技术的专利保护范围须视本说明书所附的权利要求书所界定的为准。权利要求1.一种存储器的输出电源测试装置，其中包括一信号控制装置，用以产生多个测试信号；以及一调压电路，连接至该信号控制装置，用以根据该测试信号而调变输出电压。2.如权利要求1所述的存储器的输出电源测试装置，其特征是该信号控制装置包括一连接器，具有多个插槽，以产生该测试信号；以及一个以上的跳接器，用以插入该插槽中，以改变该测试信号。3.如权利要求2所述的存储器的输出电源测试装置，其特征是该测试信号根据该跳接器的个数和插入该插槽的位置而变化。4.如权利要求1所述的存储器的输出电源测试装置，其特征是还包本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种存储器的输出电源测试装置，其中包括：　　　　一信号控制装置，用以产生多个测试信号；以及　　　　一调压电路，连接至该信号控制装置，用以根据该测试信号而调变输出电压。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈美惠，
申请(专利权)人：英业达股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]