用于配置测试模板中指定的硬件资源的方法和装置制造方法及图纸

在一个实施例中，指令的执行致使机器：１）显示自动测试设备（ＡＴＥ）测试模板选择工具；２）在用户从ＡＴＥ测试模板选择工具中选出一个测试模板之后，显示所选测试模板的缺省参数；以及３）向用户提供对测试模板配置工具的访问，所述测试模板配置工具使用户能够配置由测试模板指定的至少一个硬件资源。在另一实施例中，指令的执行致使机器：Ａ）显示使用户能够配置由ＡＴＥ测试模板指定的至少一个硬件资源的工具；以及Ｂ）在用户使用所述工具选出一个硬件资源之后，使用户能够配置所选的硬件资源。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用于配置测试模板中指定的硬件资源的方法和装置。
技术介绍
在制造和/或销售电气器件(包括诸如电路板、集成电路或片上系统(SOC)之类的系统或组件)之前，通常要对该器件进行测试，以确定其是否是按设计建造或工作的。通常，该测试由自动测试设备(ATE，也被称为“测试器”)执行。在使用ATE测试器件之前，测试开发者必须开发出ATE在测试器件的同时将执行的一系列测试。历史上，该过程是针对ATE将测试的每个器件而以定制(custom)方式执行的。虽然测试开发者在自定义测试时具有很大的自由度，但这是一个费钱且费时的过程，该过程会给器件“面世时间”的周期增加大量延时。在某些情况下，测试开发可以由测试模板来辅助，所述测试模板指定用于执行测试的硬件资源和缺省参数。这样的示例包括SmartTest ProgramGenerator软件，该软件为Agilent 93000 SOC系列测试器提供测试开发能力(其两者都是由美国加州Palo Alto的Agilent技术公司销售的)。
技术实现思路
在一个实施例中，多个机器可读介质存储了指令序列，所述指令序列被机器执行时，致使机器执行以下动作1)显示ATE测试模板选择工具；2)在用户从ATE测试模板选择工具中选出测试模板之后，显示所选测试模板的缺省参数；以及3)提供到测试模板配置工具的用户访问，该测试模板配置工具使用户能够配置由测试模板指定的至少一个硬件资源。在另一实施例中，多个机器可读介质存储了指令序列，所述指令序列被机器执行时，致使机器执行以下动作1)显示使用户能够配置由ATE测试模板指定的至少一个硬件资源的测试模板配置工具；以及2)在用户使用该工具选出硬件资源之一之后，使用户能够配置所选的硬件资源。还公开了其他实施例。附图说明在附图中示出了本专利技术的示例性实施例，其中图1和图2示出了用于配置在测试模板中指定的硬件资源的计算机实现的方法；以及图3到图14示出了用于实现图1和图2所示方法的图形用户界面的各个状态。具体实施例方式图1和图2示出了用于配置在测试模板中指定的硬件资源的计算机实现的方法100、200。根据方法100，自动测试设备(ATE)测试模板选择工具被显示(102)。然后，在用户从ATE测试模板选择工具中选出一个测试模板之后，所选测试模板的缺省参数被显示(104)。然后向用户提供对测试模板配置工具的访问权限(106)，所述测试模板配置工具使用户能够配置由该测试模板指定的一个或多个硬件资源。方法200假设已经选出一个测试模板。因此，方法200开始于显示(202)测试模板配置工具，该工具使用户能够配置由该测试模板指定的一个或多个硬件资源。然后，在用户使用该工具选择了硬件资源之一之后，用户就能够(204)配置所选的硬件资源。方法100和200可以被包含在存储在多个机器可读介质(例如一个或多个固定的或可移动的存储器或盘)上的指令序列中。当被机器(例如计算机或计算机网络)执行时，该指令序列致使机器执行方法100或200的动作。例如，图3到图14示出了由于执行实现方法100或200(及其各种修改)的指令序列而可能显示出的示例性图形用户界面(GUI 300)的各个状态。如图3所示，GUI 300提供对测试设置树视图302和测试模板选择工具312的访问。例如，树视图302可以提供可获得的测试设置的视图，所述测试设置例如包括RF&模拟测试设置304和数字测试设置306。在测试设置的每个群组304、306内，该树视图可进一步提供对激励或测量测试设置308、310的选择。然后，从点击激活工具312(例如弹出菜单)中，可获得的测试模板可被显示给用户。在图3所示的GUI视图中，被标记为“S-Parameter(S参数)”的测试模板314已被高亮显示以待选择。优选地，测试模板指定足以定义可执行的测试的硬件资源和缺省参数。就是说，激励测试的执行应该将激励信号带到至少一个ATE管脚，而测量测试的执行应该记录至少一个ATE管脚的测量结果。以这种方式，用户除了选择用于配置器件测试的测试模板之外什么都不用做。由测试模板指定的硬件资源和参数可以指定将在其下执行测试的物理和电气参数，例如包括对在测试期间将使用的ATE测试路径和硬件资源的指示以及它们的配置(例如包括激励和/或测量路径的标识，以及对于ATE的哪些管脚将被耦合到器件的哪些管脚的指示)；对测试频率的指示(例如包括测试频率范围)；对调制格式的指示；对测量带宽的指示；或对功率或电压水平的指示。图4示出了用户已经选出示例性的“S-Parameter”测试模板314之后的GUI 300。如图所示，测试模板314的缺省参数400可被显示在GUI300的右侧窗口(或测试模板配置工具402)中。优选地，该缺省参数400可由用户选择和配置。在一个实施例中，用户对参数的选择使用户能够例如从选项508的上拉、下拉或滚动菜单中选择新参数。参见图5，可替换地(或另外)，用户可能能够输入(例如打字输入)所需的替换形式。在另一实施例中，用户对参数的选择或者用户对在选择了参数之后变为可选的菜单选项的选择可以向用户提供对参数列表编辑器500(例如频率列表编辑器)的访问权限。从参数列表编辑器500中，用户可以任选地和不同地1)指定帮助定义参数列表的列表创建功能502，2)从预定的参数列表504中进行选择，和/或3)例如利用由编辑器500提供的参数输入表506来手工地提供列表的参数。大约在右侧窗口402的中间位置，提供了工具选择机构404。该机构404仅仅是示例性的，并且可以提供对各种工具的访问。图6示出了使用选择机构404来显示与根据测试模板314执行的测试相关联的结果的情形。测试执行可以通过按下“执行”按钮406来触发。可选地，可以首先从执行模式选择器408中选择执行模式。在执行了测试之后，可以以各种预先配置或可编程的形式(包括表(例如表600)或图表)来显示测试结果。图7示出了用于使用户能够配置由测试模板指定的硬件资源的示例性硬件和示意性配置工具700。在某些情况下，工具700可以在用户选择了测试模板(例如测试模版314)之后自动启动。在其他情况下，用户例如可能必须通过经由工具选择机构404选择工具700来启动它。如图7所示，工具700可能具有防止意外改变工具700显示的缺省硬件的手段(例如在文本“Always Use Default HW(总是使用缺省硬件)”旁边的复选框702)。工具700还可能具有用于恢复测试模板的缺省硬件设置的手段(例如按钮704)。虽然工具700可能仅显示硬件列表，但是优选地它还显示示意图706。该示意图706可以示出由测试模板指定的硬件资源及其连接。在一个实施例中，示意图706包括可缩放的矢量图形(SVG)图像。在用户从工具700中选择了硬件资源(例如RF源800，图8)之后，工具700显示一个或多个可获得的可替换硬件资源，从这些可替换的硬件资源中可以选出替换硬件资源802。例如，可替换的硬件资源可以经由永久的或弹出的菜单来显示。在某些情况下，工具700可以提供用于以多个资源来替换缺省资源的手段，或者用于指定工具700不知道的资源的手段。工具700还提供对用于所选的硬件资源900的可配置设置902的访问。参考图9。本文档来自技高网...

【技术保护点】
多个存储了指令序列的机器可读介质，所述指令序列在被机器执行时，致使所述机器执行以下动作：显示自动测试设备测试模板选择工具；在用户从所述自动测试设备测试模板选择工具中选出一个测试模板之后，显示所述所选测试模板的缺省参数；以及向用户提供对测试模板配置工具的访问，所述测试模板配置工具使用户能够配置由所述测试模板指定的至少一个硬件资源。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：周正容，阿施史德赛，杰森L史密斯，
申请(专利权)人：安捷伦科技有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]