公开了一种用于将测试信息从源传送到目的地的方法。该方法包括提供模块化测试系统,其中该模块化测试系统包括用于控制至少一个站点控制器的系统控制器,所述至少一个站点控制器用于控制至少一个测试模块。所述方法进一步包括:提供用于支持用户定义的数据日志格式的扩展的数据日志框架;提供用于支持用户发起的数据日志事件的支持类;接收请求将输入测试信息从所述源传送到所述目的地的数据日志事件;基于所述目的地、数据日志框架和支持类来配置输出测试信息;以及将所述输出测试信息传递到所述目的地。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及自动化测试设备(ATE)领域。更具体而言,本专利技术涉及一种用于支持开放体系测试系统中的数据日志的方法和系统。
技术介绍
芯片上系统(SOC)器件的日益复杂以及同时对芯片测试成本减小的需求已经迫使集成电路(IC)制造商和测试器厂商重新考虑应当如何进行IC测试。工业研究表明,如果不重新进行工程设计,测试器的预计成本在不远的将来将持续显著增加。测试设备高成本的主要原因是常规测试器体系的专门化特性。每个测试器制造商都具有许多测试器平台,不仅在诸如Advantest、Teradyne和Agilent的公司之间不兼容,而且在一个公司内的平台之间也不兼容,如Advantest制造的T3300、T5500和T6600系列测试器。由于这些不兼容性,每个测试器都需要其自己的专门化硬件和软件组件,并且这些专门化的硬件和软件组件不能用在其它测试器上。另外,需要相当的精力来将测试程序从一个测试器移植到另一个测试器以及开发第三方解决方案。即使当为平台开发了第三方解决方案时,它也不能移植或再用于不同的平台。从一个平台到另一个平台的转换通常是复杂而易于出错的,从而导致附加的精力、时间和增加的测试成本。当运行一个测试或一系列测试时,数据日志被用于向用户提供状态信息。数据日志中所报告的信息可包括被测试器件(DUT)的通过/失败状态、任何相关的测量参数以及测试本身的总体运行状态。该信息典型地离线使用以便评估测试运行的完成和正在测试的器件的性能。数据日志能力的支持允许用户将其来自指定源的测试信息以所需格式输出到指定目的地。专门化测试器体系的问题之一是所有硬件和软件对于给定测试器都保持在固定配置。为测试硬件器件或IC,开发了专用的测试程序,其使用测试器能力中的一些或全部来限定测试数据、信号、波形以及电流和电压电平,以及收集DUT响应和确定DUT通过/失败。由于测试系统需要实施各种各样的功能性和操作以便测试各种各样的测试模块及其对应的DUT,需要一种可配置成支持各种各样的测试模块的开放体系测试系统。具体而言,为了支持所述各种各样的测试模块,需要一种开放体系测试系统内的数据日志框架,其可配置成与测试系统的不同源和目的地的不同格式一起作用。
技术实现思路
在本专利技术的一个实施例中,一种用于将测试信息从源传送到目的地的方法包括提供模块化测试系统,其中该模块化测试系统包括用于控制至少一个站点控制器的系统控制器,所述至少一个站点控制器用于控制至少一个测试模块。所述方法进一步包括提供用于支持用户定义的数据日志格式的扩展的数据日志框架;提供用于支持用户发起的数据日志事件的支持类;接收请求将输入测试信息从所述源传送到所述目的地的数据日志事件;基于所述目的地、数据日志框架和支持类来配置输出测试信息;以及将所述输出测试信息传递到所述目的地。在本专利技术的另一个实施例中,一种模块化测试系统包括系统控制器;耦合到系统控制器的至少一个站点控制器;至少一个测试模块及其对应的测试器件(DUT);数据日志框架,配置成支持用户定义的数据日志格式的扩展;以及配置成支持用户发起的数据日志事件的一个或多个支持类。该模块化测试系统进一步包括用于接收请求将输入测试信息从所述源传送到所述目的地的数据日志事件的装置;用于基于所述目的地、数据日志框架和支持类来配置输出测试信息的装置;以及用于将所述输出测试信息传递到所述目的地的装置。附图说明根据结合附图做出的对本专利技术实施例的详细描述,本专利技术的以上特点和优点以及其附加的特点和优点得到更清楚的理解。图1示出根据本专利技术一个实施例的开放体系测试系统。图2示出根据本专利技术一个实施例的数据日志框架的实施。图3示出根据本专利技术一个实施例的数据日志源的实施。图4示出根据本专利技术一个实施例的用于注册源类型的方法。图5示出根据本专利技术一个实施例的用于格式化和流化数据的方法。图6示出根据本专利技术一个实施例的动态使能数据日志的实施。图7示出根据本专利技术一个实施例的动态禁止数据日志的实施。图8示出根据本专利技术一个实施例的动态修改数据日志格式的实施。图9示出根据本专利技术一个实施例的动态分配数据日志输出流的实施。图10示出根据本专利技术一个实施例的动态禁止数据日志输出流的实施。图11示出根据本专利技术一个实施例的动态适配新源的实施。具体实施例方式本专利技术提供了用于模块化测试系统中的数据日志支持的方法和系统。以下描述是为了使本领域的任何技术人员能够制作使用本专利技术。对特定技术和应用的描述只是为了举例。对在此所述的例子的各种修改对本领域的技术人员将是显而易见的,并且在此定义的一般原理可应用于其它例子和应用而不背离本专利技术的实质和范围。因此,本专利技术并不是想要局限于所描述和示出的例子,而是应当给予与在此所公开的原理和特征一致的最宽范围。图1示出根据本专利技术一个实施例的开放体系测试系统。系统控制器(SysC)102耦合到多个站点控制器(SiteCs)104。系统控制器亦可耦合到网络以便访问关联文件。每个站点控制器通过模块连接使能器106耦合以便控制位于测试站点110的一个或多个测试模块108。模块连接使能器106允许所连接的硬件模块108的重新配置并且也用作用于数据传递的总线(用于加载模式数据、收集响应数据、提供控制等)。另外,一个站点处的模块可通过模块连接使能器106访问另一个站点处的模块。模块连接使能器106允许不同的测试站点具有相同或不同的模块配置。换句话说,每个测试站点可采用不同数量和类型的模块。可能的硬件实施包括专用连接、开关连接、总线连接、环形连接和星形连接。模块连接使能器106可以由例如开关矩阵来实现。每个测试站点110与一个DUT 112关联,该DUT 112通过负载板114连接到对应站点的模块。在另一个实施例中,单个站点控制器可连接到多个DUT站点。系统控制器102用作总体系统管理器。它协调站点控制器活动、管理系统级并行测试策略,并且另外提供处理机/探测器控制以及系统级数据日志和错误处理支持。系统控制器102是在验证和调试测试环境时测试工程师交互的主要点。它提供到站点控制器104的关口,并且管理多DUT环境中的站点控制器活动的同步。它进一步运行用户应用和工具,如数据日志图形用户界面(DatalogGUI)。依赖于操作设置,系统控制器102可在与站点控制器104的操作分离的CPU上配置。可替选地,公用的CPU可由系统控制器102和站点控制器104来共享。类似地,每个站点控制器104可在其自己的专用CPU(中央处理单元)上配置,或配置为同一CPU内的单独进程或线程。站点控制器104负责运行测试DUT的测试计划。测试计划通过使用框架类以及封装测试方法的标准或用户提供的测试类来建立特定的测试。另外,测试计划使用标准接口来配置硬件,并且定义测试流程。本专利技术的系统体系可在概念上设想为图1所示的分布式系统,同时应理解各个系统组件亦可被当做集成单片系统的逻辑组件,而不必当做分布式系统的物理组件。通过在硬件和软件级使用标准的接口,可使即插即用或可更换模块变得容易。测试器操作系统(TOS)允许用户使用测试计划编程语言来编写测试计划程序,以及以特定于特定测试器件(DUT)的方式操作测试系统。它亦允许用户将测试计划程序中公用的测试系统操作序列打包为库。这些库有时被称为测试类和测试模板。数据日志框架数据日志本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于将测试信息从源传送到目的地的方法,包括:提供模块化测试系统,其中该模块化测试系统包括用于控制至少一个站点控制器的系统控制器,所述至少一个站点控制器用于控制至少一个测试模块;提供用于支持用户定义的数据日志格式的扩展的数 据日志框架;提供用于支持用户发起的数据日志事件的支持类;接收请求将输入测试信息从所述源传送到所述目的地的数据日志事件;基于所述目的地、数据日志框架和支持类来配置输出测试信息;以及将所述输出测试信息传递到所述目 的地。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员:马克埃尔斯顿,安康普拉马尼克,
申请(专利权)人:株式会社爱德万测试,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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