基于X射线量的变化判断真空灭弧室内部运行状态的方法技术

一种基于Ｘ射线量的变化来判断真空灭弧室内部运行状态的方法，涉及电工测量技术领域。进行工频耐受电压试验时，在真空灭弧室两端施加高电压，阴极表面由于场致发射而逸出电子，这些电子在高电压电场作用下加速轰击阳极，基于轫致辐射机理产生Ｘ射线。测量该Ｘ射线量的大小，如果发现Ｘ射线释放量出现不稳定状态，则说明内部真空度已达到安全下限或者电寿命已到临界，可考虑更换灭弧室。本发明专利技术的方法与被测真空灭弧室没有任何电的连接，能够实现无线测量，即不仅操作起来安全可靠，而且可以实现对真空断路器的在线监测。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种基于Ｘ射线量的变化来判断真空灭弧室内部真空度的方法，其特征在于：第一步，将需判断真空度的真空灭弧室开距设置在２～２２ｍｍ，在其两端施加４０～１００ｋＶ工频电压，通过Ｘ射线剂量率仪记录此时产生的Ｘ射线的释放强度；第二步，根据试验的结果，如果发现Ｘ射线剂量率仪测到的Ｘ射线的释放强度出现不稳定状态时，则说明此时真空灭弧室的真空度已经低于１×１０↑［－２］ｐａ；通过以上步骤对真空灭弧室的内部真空度进行判断。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李炜，郭媛媛，王承玉，龙西明，高晖，
申请(专利权)人：中国电力科学研究院，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]