半导体测试结果的图形表示制造技术

本文提出了一个用图形表示被测电路装置的测试结果的方法和仪器。被测电路装置的测试结果可以被获得。图表包含至少一部分被测电路装置描述以及电路元件和相关的电路元件端子的图表，是从被测电路装置节点的测试结果得到的，该被测电路装置节点被映射到所示图表中的电路元件端子。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术总地涉及集成电路装置，更确切地说涉及一种新颖的半导体测试结果的图形显示技术，从而可以使故障源可视化。
技术介绍
在现代电子装置中，集成电路的组件是普遍存在的，很大一部分工业部门都在从事设计和生产此类装置。由于电子装置越来越高级和复杂，消费者对这些装置质量水平的期望值也在提升。因此，制造商们就要不断寻求新颖改良的测试技术，利用它来检测在装置制造完后和出货之前的集成电路、印刷电路板以及集成电路组件的质量。虽然测试必须涉及到产品的很多方面，例如功能测试和老化测试，但制造完后最重要的测试之一就是基本连续性测试。连续性测试可能包括两个方面开路和短路测试。开路测试是用来保证装置中所有元件之间的连接是完整的(例如集成电路针脚到印刷电路板、集成电路引线到针脚、在印刷电路板节点之间的走线连接等等)。而短路测试是用来保证装置中所有的连接都仅在被设计为相互连接的节点之间。一般利用工业在线测试仪(ICT)来测试集成电路装置，例如集成电路、集成电路组件、印刷电路板(PCB)、印刷电路组件(PCA)。ICT测试仪通常配有测试仪接口针脚阵列，这些针脚可被配置为连接到不同的测试源(例如电流源、电压源和测量装置等)。集成电路装置可以被安放在一个测试仪固定装置上，该测试仪固定装置包括一些将各个测试仪接口针脚连接到集成电路装置相应的各个节点的探针。就像这里所用的那样，术语“节点”指的是一个电气装置的导电部分，该导电部分形成了电气装置等价原理图中的一个电气点。例如，一个节点可以是一个集成电路裸片的焊垫、一个针脚、一段导线、一个焊锡凸块、一个焊垫、一段走线或其他集成电路装置中元件的导通互连处，或者也可以是以上的结合。就像这里所用的那样，术语“集成电路”和“集成电路装置”可以包含一个集成电路裸片、一个集成电路封装体、一个集成电路组件、一个印刷电路板(PCB)和/或一个印刷电路组件(PCA)。组成集成电路装置的电路元件有一个或多个可互连的电路端子。就像这里所用的那样， “元件”是在集成电路装置上实现的电路装置，该电路装置包括一个或多个输入端，输入端可以接收一个或多个相应的输入信号，并在一个或多个相应的输出端产生一个或多个相应的输出信号。这里的“端子”指的是一个端口，元件通过这个端口接受信号，也通过这个端口输出信号。一个端子可以包括一个针脚、一个焊垫、一段引线、一段导线、一个焊珠或任何其他的端口及其组合。电路中，在电路元件端子之间的连接通常是以走线和引脚的形式实现。电路中端子之间的信号传递可能是十分复杂的。因此，对ICT监测仪而言，要实际直接探测一个元件的端子是非常难，也是很罕见的。替代的方法是，设计一个具有测试接触点的电路，这些测试接触点可以被测试仪的测试仪接口针脚所探测，或者更一般地是被测试仪固定装置的探针所探测，该固定装置在测试仪接口针脚和集成电路装置的测试接触点之间充当接口。测试仪接口针脚映射到被测集成电路装置(DUT)的测试接触点。当测试仪接口针脚或接口测试探针探测测试接触点时，ICT测试仪与电路导通。ICT测试仪可以在DUT的测试接触点上施加一个激励信号以便进行测量，利用测量结果可以确定与测试接触点节点连接的端子是否存在故障。例如，为了测试在DUT的PCB上的走线和元件端子之间的连续性(也就是检测元件端子是否正确地焊接到走线)，连接到走线的测试接触点可以被激励，并且可以利用一个电容性的检测探针在元件端子上测量信号(例如，使用授予Kerschner等人的美国专利5,498,964描述的电容性探测系统，该专利的全部教导通过引用结合于此)。测量信号的值指示元件端子是否正确地连接到走线。当配置ICT测试仪的时候，对于DUT的电路设计的描述可以下载到测试仪中。每个节点必须被唯一地标识，而且任何要被测试的特定元件端子也必须被唯一标识。测试结果在每个节点-端子而不仅仅是每个节点的基础上被收集，因为一般地有超过一个端子连接任何特定的节点。例如，考虑一条连接两个元件端子的走线——尽管走线和两个端子从电路图的观点看可以被视为一个单独“节点”，但是为了测试各个端子和走线之间的连通性，这两个端子必须被独立考虑。因而，在每个端子的基础上而不是每个节点的基础上返回测试结果。在大规模复杂的集成电路装置中，故障端子和总的集成电路装置设计之间的联系可能不是很明显的，因为各个封装端子(例如在对应于元件的数据表中定义的元件的单独实例)和在对应的DUT示意图中定义的端子名会有不同的命名约定。而且，对任意给定元件，通常没有物理的方法看出哪个元件输入端和哪个元件输出端有联系。要理解这一点，工程师通常必须查阅一个数据表，这个数据表由元件制造商提供，上面包括元件说明书和能让工程师看出哪个输入端联系到哪个输出端和怎样联系的框图。然而，没有现成的测试结果分析系统能将元件数据表和被测集成电路装置的节点相联系。因此，即使故障信息通过执行一系列ICT测试而被收集，但是仍然很难快速确定故障源。
技术实现思路
专利技术的具体实施例包括图形化表示被测电路装置测试结果的方法和仪器。在一个实施例中，一种用于以图形表示被测电路装置的测试结果的方法包括获得被测电路装置的相应电路装置节点的测试结果；访问包含对至少一部分被测电路装置的描述的图表；这个描述包含电路元件和相关的电路元件端子；将图表中描述的电路元件端子映射到被测电路装置的相应电路装置节点；并且显示该图表，实现对与被映射到图表中描述的电路元件端子的电路装置节点相对应的测试结果的显示。在一个实施例中，该方法被实现为有形地实现在计算机可读存储介质中的程序指令。在一个实施例中，一种电路测试结果分析系统包括接收被测电路装置的相应电路装置节点的测试结果的测试结果接收装置，和用于访问包含对至少一部分被测电路装置的描述的图表的图表产生装置，所述描述包含一个电路元件和相关的电路元件端子，将图表中描述的电路元件端子映射到被测电路装置的相应电路装置节点，显示该图表，实现对与被映射到图表中描述的电路元件端子的电路装置节点相对应的测试结果的显示。附图说明如果我们在展开下面的详细叙述时，一并考虑附图(其中相似的参考符号代表相同或相似的元件)，我们就能对这个专利技术有一个更全面的理解，同时其中的优点也会自然呈现，也更容易被理解。附图中图1是包含电路测试结果分析系统的实施例的电路测试过程的框图；图2是电路测试结果分析系统的一个实施例的框图；图3是实现电路测试结果分析程序的功能的一个软件实施例的高级流程图；图4是被测电路的框图；图5是被测电路的元件的框图；图6是图5所示元件的框图；图7是电路测试结果分析系统的框图，该图示意了一个电路测试结果分析程序实施例的功能图；图8是可以由电路测试结果分析程序的实施例生成的示例性显示屏的实施例；图9是可以由电路测试结果分析程序的实施例生成的示例性显示屏的实施例，该显示屏显示了示例性封装图；图10是可以由电路测试结果分析程序的实施例生成的示例性显示屏的实施例，该显示屏显示了备选示例性封装图；图11是可以由电路测试结果分析程序的实施例生成的示例性显示屏的实施例，该显示屏显示了示例性电路图；图12是可以由电路测试结果分析程序的实施例生成的示例性显示屏的实施例，该显示屏显示了呈现出选定电路的更多细节的示例性电路图；图13是可以由电路测试结果分本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于图形化表示被测电路装置的测试结果的方法，所述方法包括：　　　　获得所述被测电路装置的相应电路装置节点的测试结果；　　　　访问包括对至少一部分所述被测电路装置的描述的图表，所述描述包括电路元件和相关的电路元件端子；　　　　将在所述图表中描述的电路元件端子映射到所述被测电路装置的相应电路装置节点；以及　　　　显示所述图表，从而显示与映射到在所述图表中描述的电路元件端子的电路装置节点相对应的测试结果。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：加里瑞恩斯，
申请(专利权)人：韦瑞吉新加坡私人有限公司，
类型：发明
国别省市：SG[新加坡]