本发明专利技术提供一种内存条测试装置，包括主体部，两臂部，以及内存扩展卡，所述主体部包括壳体，两Ｄ形轴，复数弹性接触片，插口以及装设于Ｄ形轴两端的啮合齿轮及驱动手柄；该复数弹性接触片具有接触部，该等接触部外侧与转动轴相绝缘接触；两臂部通过一支轴枢接一定位块，该定位块具有枢接部，形成于枢接部两侧的止挡部及滑移部。齿轮上具有防呆部防止Ｄ形轴的过度旋转，驱动手柄可通过齿轮同步驱动两Ｄ形轴的转动，进而带动弹性接触片的打开与闭合；此外，驱动手柄上的推挡凸台可顶推定位块的滑移部，从而在弹性接触片闭合时迫使止挡部进入导引槽而阻止内存条的脱出或误插入，以免内存条受到损害，并提高本装置的使用寿命。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种内存条测试装置，尤其是一种具有防止测试过程中内存条脱出或误插入而损坏内存条及测试装置的内存条测试装置。
技术介绍
常见的内存条测试装置，包括一主体部，形成于主体部上的内存条插槽，以及自主体部插槽相对另一侧的扩展卡，主体部内设有弹性接触片延伸至插槽的两侧以与插入的内存条上的金手指达成电性接触，弹性接触片的另一端则与扩展卡的引脚相接触。测试时，该测试装置的扩展卡插入测试主板上，将内存条插入测试装置的插槽中使其上的金手指与测试装置的弹性接触片相对应接触。然，由于内存条在插入测试装置插槽的过程中，其上的金手指将与弹性接触片会发生摩擦，这种摩擦一方面会在内存条的金手指上留下划痕，破坏金手指表面的镀层；另一方面，在进行多次的插拔内存条的测试后，测试装置的弹性接触片亦会被磨损，极可能产生接触不良的现象，会影响测试的精确度或结果，且由于经常性的插拔受检测的内存条，也将使弹性接触片的弹性衰减，最后造成弹性疲乏；而为了维护测试装置的精确度及正常使用，对此弹性接触片就必须经常加以更换，这将产生测试过程中额外的工作，是很不便利的。同时，当内存条在进行测试的过程中，由于震动等外界环境的影响，容易产生内存条一侧翘起甚至脱出，造成其与弹性接触片间的接触不良，进而降低测试的效率。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一内存条测试装置，其具有防止内存条在测试过程中翘起或脱出的定位结构，此外，该定位结构还能防止内存条误插入测试装置而对内存条及测试装置两者的破坏。为实现上述专利技术目的，本专利技术采用的技术方案如下一种内存条测试装置，包括主体部，自主体部两端垂直延伸的两臂部，以及自主体部向两臂部反方向延伸的内存扩展卡；所述主体部包括壳体，装设于壳体内的转动轴，复数弹性接触片，插口以及装设于转动轴两端的驱动手柄；该复数弹性接触片排列成两排，其一端与内存扩展卡的引脚相接，另一端形成接触部，该等接触部外侧与所述转动轴绝缘接触，且该驱动手柄可同步驱动转动轴的转动；所述内存条测试装置还包括至少一定位块，该定位块枢接于所述臂部上由驱动手柄驱动枢转，并具有一止挡部。所述两臂部分别具有导引槽，滑移槽及形成于导引槽及滑移槽间的肋部，该肋部上形成有一通孔；所述定位块还包括一枢接部以及一滑移部，所述枢接部通过一支轴枢接于所述臂部的肋部上，所述止挡部与滑移部分别形成于枢接部的两侧，止档部选择性的位于臂部通孔及导引槽内，且滑移部的力矩大于其止挡部的力矩。所述驱动手柄具有推挡部，该推挡部可顶推所述定位块的滑移部而使其止挡部从所述臂部的通孔进入导引槽内。具体地说，所述驱动手柄的推挡部为形成于驱动手柄内侧的轴形凸台，所述定位块的滑移部具有弧形滑移面，该轴形凸台可顶推所述定位块的弧形滑移面。所述转动轴为两D形轴，该D形轴具有两端延伸于所述壳体外侧的外露部，该外露部上分别装设有相互啮合的齿轮，所述驱动手柄装设于其中一D形轴外露部的外侧以驱动齿轮的啮合。该齿轮上设有防呆部。所述弹性接触片的接触部间是通过条形的绝缘体固定粘结。由于采用上述方案，使得内存条在测试过程中，内存条不会由于震动等外界环境的影响而翘起或脱出，内存条与测试装置的弹性接触片接触稳定可靠，且不易被磨损破坏；同时，内存条也不会误插入至测试装置而对两者造成损坏，使得内存条的测试更安全、精确及可靠，亦提高了测试装置的使用寿命；此外，在内存条测试装置未装内存条而误操作锁紧时，驱动手柄上的推挡凸台可顶推定位块，从而使两侧定位块的止挡部同时伸出，阻止操作员进一步插入内存条的误操作。附图说明图1是本专利技术内存条测试装置的立体结构示意图； 图2是图1的I部位放大结构示意图；图3本专利技术内存条测试装置的部分剖面主视图，其中驱动手柄处于开放位置；图4是图3的A向结构放大示意图；图5是本专利技术内存条测试装置的另一部分剖面主视图，其中内存条插入，驱动手柄处于闭合位置；图6是图5的B向结构放大示意图；图7是图5中H部位放大结构示意图；图8是沿图5中沿C-C向的剖视放大图；图9是本专利技术内存条测试装置驱动手柄处于闭合位置，而内存条未插入的主视图。具体实施例方式如图1至图9所示，内存条测试装置，包括一主体部10及自主体部10两端垂直延伸的两臂部2，主体部10主要由壳体11以及设于壳体内的转动轴、复数弹性接触片13以及内存条插口14组成，主体部沿内存条插口反方向固定连接有内存检测扩展卡3，该内存检测扩展卡3两侧的引脚分别与弹性接触片13相对应固接，转动轴为两D形轴12，其径向大致呈“D”形，其两端延伸于壳体11的外侧而形成外露部121，该外露部121上分别设有相互啮合的齿轮16，且于其中一D形轴12的齿轮外端还装设有驱动手柄17。壳体11包覆于D形轴12的外围，两排弹性接触片13分两排对称地置于内存条插口14的两侧；每一弹性接触片13具有靠近插口的接触部131，该接触部131分别与插入的待测内存条4的金手指对应接触。每一排弹性接触片13的接触部131外侧由条形的绝缘体(本实施例为工程塑料液晶聚合物)18固定粘结，两D形轴分别形成于绝缘体18的外侧并与之相接触。两相互啮合的齿轮16分别设于两D形轴12两端的外露部121上，且于其中一齿轮上设有防呆部161，该防呆部161可以是一增大或减小的齿面，或于增高齿面等手段来防止齿轮16在该位置的相互啮合，进而阻止驱动手柄17的进一步转动。驱动手柄17用来驱动D形轴12的转动，通过齿轮16的啮合带动另一D形轴的同步转动。由于D形轴12与弹性接触片1 3相绝缘接触，故D形轴12的转动将间接带动弹性接触片13的打开与闭合。该驱动手柄17设有推挡部，该推挡部为一形成于驱动手柄内侧呈圆轴状的凸台171，其具有圆轴面172。两臂部2对称设置，其包括导引槽21，外滑槽22，连接导引槽21及外滑槽22的肋部23，以及设于肋部23上的通孔24。导引槽21可导引内存条4的顺利插入与拔出；一对定位块5分别枢接设置于两臂部2上，其具有枢接部51，止挡部52以及滑移部53，该枢接部51贯穿该通孔24，其通过一支轴6设于臂部2的肋部23上；该滑移部53具有弧形滑移面531，止挡部52与滑移部53分别位于枢接部51的两侧，且滑移部53位于臂部2的外滑槽22内，该定位块5以支轴6为支点，形成一杠杆，且相对于枢接部51的支点来说，滑移部53的力矩大于止挡部52的力矩，即在初始状态下，滑移部自然下垂，止挡部52收容于臂部2的通孔24内。对内存条进行测试时，首先将该测试装置以臂部2垂直向上的方向固定于测试主板上，然后旋转驱动手柄17至其与臂部2的延伸方向呈一定夹角的方向，即初始位置，此时内存条插口14处的弹性接触片13的接触部131处于打开状态，而定位块5的滑移部53处于自然下垂的位置。将待测试的内存条4沿臂部2的导引槽21插入内存条插口14，由于弹性接触片13的接触部131处于打开状态，故内存条4在插入过程中不会碰触弹性接触片13。然后旋转驱动手柄17至与臂部2同向的方向，即关闭位置，驱动手柄17一方面通过啮合齿轮16驱动两D形轴旋转，进而通过绝缘体18驱使弹性接触片13的接触部131闭合，使其与内存条4的金手指相电性接触进行测试；另一方面，驱动手柄17上凸台171的圆轴面172将顶推定位块5的弧形滑移面531向上转动，根据杠杆本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种内存条测试装置，包括主体部，自主体部两端垂直延伸的两臂部，以及自主体部向两臂部反方向延伸的内存扩展卡，所述主体部包括壳体，装设于壳体内的转动轴，复数弹性接触片，插口以及装设于转动轴两端的驱动手柄；复数弹性接触片排列成两排，其一端与内存扩展卡的引脚相接，另一端形成接触部，该等接触部外侧与转动轴相绝缘接触，驱动手柄可驱动转动轴转动；其特征在于：所述内存条测试装置还包括至少一定位块，该定位块枢接于所述臂部上由驱动手柄驱动枢转，并具有一止挡部。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：顾焕军，
申请(专利权)人：苏州工业园区剑恒电子有限公司，
类型：发明
国别省市：32[中国|江苏]
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