静电放电测试装置及方法制造方法及图纸

一种静电放电测试装置及其方法，用以寻找待测物中测试失败对象。首先，放置待测物于布设有数条导线的测试平台。接着，提供静电脉冲至这些导线的其中一导线。最后，若待测物发生误动作，则待测物中对应导线的一区域内具有测试失败对象。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术有关一种静电放电测试技术，且特别是有关一种静电放电测试装置及 其方法。
技术介绍
静电放电(Electrostatic Discharge, ESD)是造成大多数的电子组件或电 子系统受到过度电性应力(Electrical Overstress ， EOS)破坏的主要因素。这种 破坏会导致半导体组件以及计算机系统等，产生误动作或形成一种永久性的毁坏， 因而影响集成电路(Integrated Circuits, ICs)的电路功能，而使得电子产品工 作不正常。因此，目前市面上所见的电子产品均须通过电磁兼容测试中的静电放 电测试后才能贩售。目前在进行静电放电测试时，通常是利用符合法规规范的静 电仿真器(electrostatic discharge genera/tor, ESD generator)(又称为静 电枪)来产生静电，以放电至待测产品，借此测试产品是否有静电放电缺陷。一般来说，在利用一调整至默认值(例如4 KV)的静电枪进行静电放电测 试时，是将静电枪碰触待测产品的外部壳体的一处，以使得静电电荷能够分布至 整个产品。若待测产品仍然可以正常操作，则代表待测产品通过测试。若待测产 品在进行静电放电测试后，待测产品因此而无法操作或产生误动作的情形，则代 表该待测产品有静电放电缺陷。然而，在进行测试时，静电枪是与待测产品的外 部壳体碰触，因此无法轻易得知在待测产品内部那一个地方发生静电问题。例如利用静电枪对一个计算机主机的壳体表面打入静电电荷，结果该计算机主机马上 死机。此时，测试人员往往无法马上得知该计算机主机死机的原因，更无法直接 找出是因为计算机主机的主机板上的那一个电子组件发生问题。因此，目前在进行静电放电测试时，往往需要依靠测试人员的经验来推测出 发生静电问题之处，然后反复检测可能导致产品误动作的相关组件。如此，将非常耗费人力及检测工时。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的是提供一种静电放电测试装置及其方法，用以 寻找待测物中测试失败对象。主要利用数条导线来作为静电脉冲的放电路径， 借以定义待测物受静电影响的区域。如此一来，提高寻找待测物中测试失败 对象的精确度外，还大幅度节省工时及成本并增加产品良率。根据本专利技术的目的，提出一种静电放电测试装置，包括测试平台及数条 导线。测试平台用以放置待测物，数条导线布设于测试平台。当静电脉冲被 提供至这些导线的其中一导线且待测物发生误动作时，则待测物中对应导线 的一区域内具有测试失败对象。根据本专利技术的目的，提出一种静电放电测试方法，用以寻找待测物中测 试失败对象。首先，放置待测物于布设有数条导线的测试平台。接着，提供 静电脉冲至这些导线的其中一导线。最后，若待测物发生误动作，则待测物 中对应导线的一区域内具有测试失败对象。为让本专利技术的上述目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举较佳实 施例，并配合附图进行详细说明如下附图说明图1是依照本专利技术第一实施例的静电放电测试装置的示意图。图2是依照本专利技术第二实施例的静电放电测试装置与静电产生单元的示意图。图3A是依照本专利技术第三实施例的静电放电测试装置的示意图。 图3B是图3A的待测物D的另一置放角度示意图。 图4是依照本专利技术的静电放电测试方法的流程图。具体实施例方式第一实施例请参照图1，其是依照本专利技术第一实施例的静电放电测试装置的示意图。静电放电测试装置100包括测试平台110、静电产生单元120、开关元件130、 及接地接口 140，其中测试平台110布设有多条导线。上述测试平台110与接地接口 140耦接，以使得测试平台100接地，也 即测试平台110可通过接地接口 140来将其所累积的静电电荷导入接地端， 以避免测试平台110因多次输入静电脉冲P而累积过多静电，导致使用者可 能受到危害。开关元件130分别耦接测试平台110的这些导线与静电产生单元120。测 试平台110具有一表面S，用以放置处于正常操作状态的待测物D (以虚线框 表示)。于本实施例中，测试平台110为一印刷电路板(printed circuit board, PCB)，在其它实施例中，测试平台110也可为其它能够布设这些导线的等效 装置。于本实施例中，待测物D为计算机装置的主机板，在其它实施例中， 待测物D可为笔记本计算机、手机、或个人数字助理装置(PDA)。于本实施例中，这些导线包括多条第一导线Ll Ln及多条第二导线Ll' Lm'，其中n及ra为正整数。由于本实施例的测试平台110采用印刷电路板来 实施，因此这些第一导线Ll Ln及这些第二导线Ll' Lm'可以利用一般印刷 电路板制作工艺来分别形成于不同层。也即，这些第一导线Ll Ln与这些第 二导线Ll' Lra'分别被布设在不同平面。例如这些第一导线Ll Ln可以被 布设在测试平台110的表面S，而这些第二导线Ll' Lm'可以被布设在邻近 表面S的另一表面，其中这些第一导线Ll Ln所在的表面可以与这些第二导 线Ll' Lm'所在的表面平行。此外，这些第一导线Ll Ln可以彼此相互平行， 这些第二导线Ll' Lm'也可彼此相互平行。另外，以上视图来看测试平台110，则被布设于该测试平台110的这些第 一导线Ll Ln与这些第二导线Ll' Lm'相互交叉而夹一预设角度，于本实施 例中，该预设角度为90度，也就是说，这些第一导线Ll Ln与这些第二导 线Ll' Lm'彼此正交而形成一类似棋盘格子的二维平面。请注意，虽然这些 第一导线Ll Ln与这些第二导线Ll' Lm'以上视图观的是形成一个二维平 面，但这些第一导线Ll Ln与这些第二导线Ll' Lm'分别位于不同平面，所 以没有直接接触。当然，在其它实施例中，这些第一导线Ll Ln与这些第二导线Ll' Lm'的夹角可为其它角度，且这些第一导线Ll Ln与这些第二导线Ll' Lm'交叉 所形成的图案、这些导线宽度、彼此间距、及彼此平行与否皆可视所需的精 确度、待测物尺寸、或测试效果考量作设计。上述静电产生单元120是通过开关元件130来耦接这些第一导线Ll Ln 及这些第二导线Ll' Lm'。于本实施例中，静电产生单元120采用静电仿真 器 (electrostatic discharge generator, ESD generator) 来产生~"静电 脉冲P，其中静电脉冲P较佳为2至5千伏(kV)左右。由于上述开关元件130分别耦接这些第一导线Ll Ln及这些第二导线 Ll' Lni'，因此静电产生单元120可通过开关元件130的操作，来提供静电 脉冲P至这些导线的其中一导线。进一步说，在进行静电放电测试时，开关 元件130可以被一单芯片或微控制器来控制，使得静电产生单元120所提供 的静电脉冲P可以自动依序(例如由左至右及由上至下)输出至各第一导 线Ll Ln及各第二导线Ll' Lm'。因此，测试者无需拿着静电枪一一对这些 导线进行静电放电，所以在使用上非常便利。当静电产生单元120输出静电脉冲P至这些导线的其中一条导线时，可 由使用者判断或通过相关的检测设备如示波器等，来检测待测物D是否发生 不正常的误动作。若待测物D发生误动作，则待测物D中对应该导线的一区 域内具有一测试失败对象。以待测物D为手机中本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种静电放电测试装置，包括：一测试平台，用以放置一待测物；以及多条导线，布设于该测试平台；其中，当一静电脉冲被提供至这些导线的其中一导线且该待测物发生误动作时，则该待测物中对应该导线的一区域内具有一测试失败对象。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：江进君，
申请(专利权)人：华硕电脑股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[]