一种在开放式结构测试系统中使软件组件与厂商硬件模块版本相关联的方法,其包括: 接收厂商硬件模块的一组硬件版本; 接收所述厂商硬件模块所支持的一组软件组件; 处理所述组硬件版本,其中使用掩码值将所述组硬件版本表示为等效类别的硬件版本号; 获得所述厂商硬件模块的硬件版本的用户选择; 验证所述厂商硬件模块的硬件版本的所述用户选择;以及 根据硬件版本的所述用户选择创建系统简档。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于半导体测试的自动化测试设备(ATE)的领域。明确地说,本专利技术 涉及简洁表示开放式结构测试系统中的厂商硬件模块版本以实现有效的字段部署。技术背景在开放式结构测试系统中,对于用户的特定系统所配置有的每个厂商硬件模块并且 对于每一此类厂商硬件模块的每个不同的相关联的模块软件组件,软件需要访问保证与 相应的模块软件的每一版本一起工作的厂商硬件模块版本的列表的厂商规格。因而,系 统需要有效地分析此复杂的信息,以将其应呈现给用户的对软件组件的选择确定为系统 软件内容的候选者。理想的情况是,所呈现的对软件组件的选择应包括尽可能大的一组软件组件,全部约束条件是保证用户从给定选择中挑选的任何完整组的软件组件一起工作,并与用户 所选的硬件配置一起工作。在此问题的情况下, 一种方法是为每一软件组件列举兼容的 硬件版本(例如,逗号分隔的整数列表),以表示硬件版本号(其中范围分类符用于表示 连续的号)。此方法存在许多问题。首先,硬件版本号通常较大;需要多达32位,其中所述号内的不同位字段对于硬件 厂商来说可能具有不同的所有权意义。如果厂商选择针对号内与单个软件版本兼容的位 的特定模式用所有可能值认证所有版本,那么这可能导致a)版本号的非连续序列,其无法通过范围分类符来有效地表示;和/或b):数目非常大的版本号,从而产生非常长的 列表,其对于存储和/或处理目的而言可能相当不切实际。第二,所述方法尤其在非常频 繁的硬件产品更新的情况下相当具有局限性,所述硬件产品更新可能要求对列表进行频 繁添加,且因此,要求对用户处系统简档进行冗长且频繁的再生过程来合并所述添加。 因此,需要简洁表示开放式结构测试系统中的厂商硬件模块版本以实现有效的字段部署。
技术实现思路
揭示一种方法在开放式结构测试系统中,硬件模块厂商可以简洁的方式指定保证 与相关联的模块软件的给定版本一起工作的硬件版本号的任意序列。另外,对硬件版本 号进行处理以便为用户提供针对厂商硬件模块的一组最佳的软件组件选择,其产生用于字段中的部署的有效系统配置。在一个实施例中, 一种在开放式结构测试系统中使软件组件与厂商硬件模块版本相 关联的方法包含接收厂商硬件模块的一组硬件版本;接收所述厂商硬件模块所支持的 一组软件组件;处理所述组硬件版本,其中使用掩码值将所述组硬件版本表示为等效类 别的硬件版本号;获得所述厂商硬件模块的硬件版本的用户选择;验证所述厂商硬件模 块的硬件版本的用户选择;以及根据所述硬件版本的用户选择创建系统简档。在另一实施例中, 一种开放式结构测试系统包含系统控制器、耦合到所述系统控制 器的现场控制器、耦合到所述现场控制器的一个或一个以上硬件模块,以及由多组硬件 模块并行服务的一个或一个以上待测试装置(DUT)。所述系统进一步包含用于接收厂 商硬件模块的一组硬件版本的构件;用于接收所述厂商硬件模块所支持的一组软件组件 的构件;用于处理所述组硬件版本的构件,其中使用掩码值将所述组硬件版本表示为等 效类别的硬件版本号;用于获得所述厂商硬件模块的硬件版本的用户选择的构件;用于 验证所述厂商硬件模块的硬件版本的用户选择的构件;以及用于根据所述硬件版本的用 户选择创建系统简档的构件。在又一实施例中, 一种在开放式结构测试系统中表示厂商硬件模块版本的方法包含 接收厂商硬件模块的一组硬件版本;以及使用包含掩码号和掩码的掩码值将所述组硬件 版本表示为等效类别的硬件版本号。所述掩码是所述组硬件版本的范围内的数据模式, 且所述数据模式至少包含无关位(don't-care bit)和未遮掩位(unmask bit)。附图说明结合以下图式在阅读对本专利技术实施例的详细描述之后将更清楚地可理解本专利技术的上 述特征和优点以及其额外的特征和优点。图la说明根据本专利技术实施例用于以一个或一个以上SiteC并行测试多个DUT的开放式结构测试系统。图lb说明开放式结构测试系统中多个厂商硬件模块版本及其相应的软件组件版本 的实例。图2说明根据本专利技术实施例将掩码应用于遮掩号。图3说明根据本专利技术实施例创建用于在开放式结构测试系统中测试不同的厂商硬件 模块版本的系统简档的方法。图4说明根据本专利技术实施例计算被遮掩表示的交集的方法。具体实施方式 本专利技术提供用于简洁表示开放式结构测试系统中的厂商硬件模块版本的方法和系 统。提供以下描述以使所属领域的技术人员能够制造和使用本专利技术。特定实施例和应用 的描述仅作为实例而提供。所属领域的技术人员将容易了解本文描述的实例的各种修改 和组合,且本文定义的一般原理可应用于其它实例和应用。因此,不希望本专利技术限于所 描述和展示的实例,而是本专利技术应符合与本文揭示的原理和特征一致的最广泛范围。一种可再配置的开放式结构测试系统提供可开发、个别认证第三方软件和硬件(也 称为厂商硬件模块)并将其可靠地整合到开放式结构测试系统中的解决方案。图la说明 根据本专利技术实施例用于以一个或一个以上SiteC并行测试多个DUT的开放式结构测试系 统。所述系统包含系统控制器102、多个现场控制器104、多个厂商硬件模块106,以及 相应组的DUT 110;每一组DUT可包含一个或一个以上个别DUT 112。测试头108固持 所述组DUT 110。在一个实施例中,系统控制器和现场控制器可由具有处于多个地理位 置的多个计算机的分布式计算系统来实施。在另一实施例中,系统控制器和现场控制器 可由单个计算机来实施。第60/447,839号美国申请案"Method and Structure to Develop a Test Program for Semiconductor Integrated Circuits"和第60/573,577号美国申请案 "Software Development in an Open Architecture Test System"提供了对开放式结构测试系 统的详细描述。另夕卜,A. Pramanick等人在2004年10月的2004 IEEE国际测试会议中的 "Testing Programming Environment in a Modular Open Architecture Test System"第 413-422页也描述了开放式结构测试系统。在这种开放式结构测试系统中,每一模块化单元(软件与硬件)可由第三方单元代 替,只要第三方解决方案符合整合框架的要求。因此,第三方硬件可以是任何功能单元, 例如数字引线卡、模拟卡、装置电源等。术语厂商硬件模块(或简称为模块)用于指此 类硬件功能单元,而支持厂商硬件模块的相关联的厂商软件组件被称作模块软件。后者 包括若干不同的软件组件,例如模块控制驱动程序软件、校准和诊断软件、仿真软件、 厂商特定模式编译器等。开放式结构测试系统不仅用于测试系统的操作,而且用于控制测试环境并引入新的 厂商硬件模块以及其所有附随软件。图lb说明开放式结构测试系统中多个厂商硬件模块 版本128及其相应的软件组件版本的实例。软件组件包含测试装置操作系统(TOS) 120 的多个版本及其相关联的厂商软件开发套件(SDK) 122和用户SDK 126的版本,以及 厂商软件驱动程序124的多个版本。第60/635,094号美国申请案"Metho本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
【专利技术属性】
技术研发人员:安卡恩·普兰马尼克,马克·埃尔斯顿,足立敏明,
申请(专利权)人:株式会社爱德万测试,
类型:发明
国别省市:
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