一种测试装置，利用测试由电子元件输出的多个输出讯号，各个发生变化的时序的相关性，而能以更高的精度来识别电子元件的良否。此测试装置将测试信号供给至电子元件，并将该电子元件输出的多个输出讯号来与期待值比较以测试电子元件。此测试装置包括：基准时序检测部，检测出一个输出讯号发生变化的现象；设定部，预先设定：由一个输出讯号发生变化到另一个输出讯号发生变化为止的最小时间；取入部，由检测出一个输出讯号发生变化时起，在已经过该最小时间的时序，取得另一个输出讯号之的值；以及识别部，取入部取得的该另一个输出讯号的值，与经过最小时间后的另一个输出讯号所应该取得的值不一致时，识别该电子元件为不良品。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术为关于 一种电位比较器，用于将一对讯号间的电位差与所定的 阀值电位之间的大小关系导出，其中该对讯号间的电位差形成由检查对象 输出的差动讯号。本申请案与下述的日本专利申请案有关连，对于认可编 入参考文献的国家，下述的专利申请案说明书所述的内容，编入做为本申 请案说明书的一部分供参考。日本专利特愿2005-062044 申请日期 2005年3月7曰
技术介绍
先前已有检查电子电路的特性的检查装置。该些检查装置，具体的说 是具有以下功能利用电位比较器，对由作为检查对象的电子电路所输出 的电讯号，与所定的阀值电压进行比较，依据比较结果来判定电子电路的 良否。因此，检查装置的检查的可靠性，与进行电位比较的电位比较器的 比较精度有很大的关系。构成检查装置的电位比较器，由检察的可靠性等 观点来看是非常重要的设备。但是，为提升传输速度的高速化及耐杂讯的特性，有提出利用所谓的 差动传输方式来代替原来的单端传输的技术。差动传输方式，为利用两条 传输线传送讯息的技术，具体的说是依据经由两条传输线传送二个电讯号 间的电位差，判定高(High )或低(Low)。对应此种利用差动传输方式的 电子电路的增加，在进行电子电路的特性检查的检查装置的领域中，亦要 求有配备对应于差动传输方式的电位比较器的检查装置。专利文献1:日本专利特开2002-215712号公报但是，先前的测试装置及测试模拟器，在由电子元件或是模拟该电子 元件的元件模拟器，输出多数的输出讯号的场合，仍然对各个输出讯号独 立测试。因此，在该些多数的输出讯号之间，且各个输出讯号变化的时序 相关的场合，亦不能依此相关来测试电子元件，以判别良否。
技术实现思路
本专利技术的目的即在提供一种能解决上述问题的测试装置、测试方法、 电子元件的生产方法、测试模拟器、以及测试模拟方法。此目的可由申请 专利范围的各独立项所述的特征的组合来达成，又各附属项规定本专利技术的更有利的具体例子。为解决上述的问题，本专利技术的第一形态提供一种测试装置，在将测试 讯号供给至电子元件的同时，将由该电子元件对应于该测试讯号而输出的 多个输出讯号，各个与期待值比较，以测试该电子元件是否进行所期待的动作。该测式装置包括基准时序检测部，检测出一个输出讯号发生变化； 设定部，预先设定由一个输出讯号的发生变化到另一个输出讯号发生变 化的最小时间；取入部，由基准时序检测部检测出一个输出讯号发生变化 的时起，在已经过该最小时间的时序，取得该另一个输出讯号的值；以及 识别部，当由取入部收取的另一个输出讯号的值，与该经过最小时间后应 取得的另 一个输出讯号的值不一致时，识别出该电子元件为不良品。取入部亦可包括选通(strobe)讯号发生部，从基准时序检测部检测出 一个输出讯号发生变化时起，在已经过该最小时间的时序，发生选通讯号； 以及比较器，依据选通讯号取得另一个输出讯号的值。该测试装置亦可配 置一个期待值保持部，将由一个输出讯号的值发生变化之时起，在经过该 最小时间的时序时应取得的另 一个输出讯号的值做为期待值而预先保持 着。所谓的最小时间，为对于接受该电子元件的输出讯号而发生动作的其 他的电子元件，所需的一个输出讯号的建立时间，或另一个输出讯号的保 持(hold)时间，的任一项皆可以。本专利技术的第二形态提供一种测试方法，在供给电子元件测试讯号的同 时，将由该电子元件对应该测试讯号而输出的多数的输出讯号，各个与期 待值比较，以测试该电子元件是否进行所期待的动作。该测试方法包括 基准时序测试步骤，检测出一个输出讯号发生变化；设定步骤，预先设定由一个输出讯号发生变化到另一个输出讯号发生变化的最小时间；取入步 骤，由基准时序检测步骤检测出一个输出讯号发生变化的时起，在已经过 该最小时间的时序，收取另一个输出讯号的值；以及识别步骤，在取入步 骤中已收取的另 一个输出讯号的值，与经过最小时间后应收取的另 一个输 出讯号的值不一致时，识别该电子元件为不良产品。本专利技术的第三形态提供一种电子元件的生产方法，为 一种在供给电子 元件测试讯号的同时，将由该电子元件对应该测试讯号输出的多个输出讯 号，各个与期待值比较，以筛选且生产该进行所期待的动作的电子元件的 生产方法。该生产方法包括基准时序测试步骤，检测出一个输出讯号发 生变化；设定步骤，预先设定由一个输出讯号发生变化到另一个输出讯 号发生变化的最小时间；取入步骤，由基准时序检测步骤检测出一个输出 讯号发生变化之时起，在已经过最小时间的时序，收取另一个输出讯号的 值；以及识别步骤，在取入步骤中已收取的另一个输出讯号的值，与经过 最小时间后应收取的另一个输出讯号的值不一致时，识别该电子元件为不良产品。又，本专利技术的第四形态提供一种测试模拟器，为一种对模拟电子元件 的动作的元件模拟器供给测试讯号，同时将由该元件模拟器对应该测试讯 号而输出的多个输出讯号，各个与期待值比较，以测试该电子元件是否实行如所期待的动作的测试模拟器。该测试模拟器包括基准时序检测部， 检测出一个输出讯号发生变化；设定部，预先设定由一个输出讯号发生 变化起到另一个输出讯号发生变化的最小时间；取入部，在基准时序检测 部检测出一个输出讯号发生变化时起，在已经过最小时间的时序，取入另 一个输出讯号的值；以及识别部，由该取入部所取入的另 一个输出讯号的 值，与经过最小时间后应取入的另一个输出讯号的值不一致时，识别该电 子元件为不良产品。本专利技术的第五形态提供一种测试装置，为 一种在供给电子元件测试讯 号的同时，将由该电子元件对应于该测试讯号而输出的多个输出讯号，各 个与期待值比较，以测试该电子元件是否实行所期待的动作的装置。该测 试装置包括基准时序检测部，检测出一个输出讯号发生变化；设定部， 预先设定由 一个输出讯号发生变化起到另 一个输出讯号发生变化的最小 时间；经过时间4企测部，检出由基准时序4企测部4企测一个输出讯号发生变 化起，到另一个输出讯号发生变化为止的经过时间；以及识别部，在该经 过时间较该最小时间短时，识别该电子元件为不良产品。本专利技术的第六形态提供一种测试方法，为 一种在供给电子元件测试讯号的同时，将由该电子元件对应于该测试讯号而输出的多个输出讯号，各个与期待值比较，以测试该电子元件是否进行如期待的动作的测试方法。该测试方法包括基准时序检测步骤，检测出一个输出讯号发生变化；设定步骤，预先设定由一个输出讯号发生变化起到另一个输出讯号发生变化为止的最小时间；经过时间检测步骤，检出由基准时序检测步骤中检测一个输出讯号发生变化起，到另一个输出讯号发生变化为止的经过时间；以及识别步骤，在该经过时间比该最小时间短时，识别该电子元件为不良 ± 口厂口口o本专利技术的第七形态提供一种电子元件的生产方法，为一种在供给电子 元件测试讯号的同时，将由该电子元件对应于该测试讯号而输出的多个输 出讯号，各个与期待值比较，以筛选且生产该进行所期待的动作的电子元件的生产方法；该生产方法包括基准时序检测步骤，检测出一个输出讯 号已发生变化；设定步骤，预先设定由一个输出讯号发生变化起到另一 个输出讯号发生变化为止的最小时间；经过时间检测步骤，检出由基准时 序检测步骤中检测一个输出讯号发生变化起，到另一个输出讯号发生变化 为止的经过时间；以及识别步骤本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种测试装置，为一种在供给电子元件测试讯号的同时，将该电子元件对应于该测试讯号而输出的多个输出讯号，各个与期待值比较，以测试该电子元件是否进行所期待的动作的测试装置，其特征在于：该测试装置包括：基准时序检测部，检测出一个输出讯号已发生变化；设定部，预先设定：由该一个输出讯号发生变化到另一个输出讯号发生变化为止的最小时间；取入部，在该基准时序检测部检测出一个输出讯号发生变化起，在经过该最小时间的时序，取得上述的另一个输出讯号的值；以及识别部，在该取入部取得的上述的另一输出讯号的值，与在经过最小时间之后，上述的另一个输出讯号应取得的值不一致时，识别该电子元件为不良品。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：多田秀树，堀光男，片冈孝浩，关口宏之，
申请(专利权)人：爱德万测试株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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