本发明专利技术为一种自动化测量一发光二极管的测试设备及方法。本发明专利技术的自动化测试设备包括一测试治具、一待测物设置处、一测量装置与一电源供应装置。测试治具包括感光组件。待测物设置处用来设置要测的发光二极管,并且待测物设置处与该电源供应装置电性连接,以提供该发光二极管一固定电压。测量装置用以自动测测量试治具中感光组件的特性变化,并藉以判断该发光二极管的功能是否正常。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种自动化测试设备,特别涉及一种具有自动测试发光二极 管好坏的自动化测试设备。
技术介绍
在现在的生活当中,发光二极管的使用是越来越普及。在发光二极管产 量大的情况下,生产在线要确实而且快速地测试发光二极管的作用是否正常 就非常重要。现有技术当中,在制造的生产在线要测试发光二极管是否正常 通常都是给予发光二极管固定的电压之后,再利用人的眼睛去观察其是否发 光或是发光的明亮程度来判断发光二极管的功能是否正常。但是如此一来, 藉由测试者的人为判断上难免会有疏失。而且测试者无法量化发光二极管的 发光的程度,也不易界定一个良好的发光二极管的标准亮度范围为何。另一 方面,这种测试方法也会增加在生产在线组装的时间及治具的耗损,进而增 加生产成本。因此,需要一种新的自动化测试设备与测试的方法来解决现有技术所发 生的问题。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提供一种自动化测试设备,其具有自动测试发光二 极管的功能。本专利技术的另 一主要目的是提供一种自动化测试设备自动测试发光二极管 的方法。为达成上述的目的,本专利技术的自动化设备包括测试治具、待测物设置处、 电源供应装置与测量装置。测试治具具有感光组件,感光组件可为光敏电阻、 光二极管或是光伏打电池等会依照光照程度来改变其特性的组件。待测物设 置处用以放置一发光二极管。并且待测物设置处与电源供应装置电性连接, 电源供应装置会提供一固定电压来给发光二极管使用。测量装置用来测量感光组件在接受光照后的特性变化,并且可以依照感光组件的不同来决定要测 量阻抗值、电压值或是电流值。在本专利技术中的自动测试发光二极管的方法为自动化测试设备开始一自 动化测试流程。电源供应装置会提供待测的发光二极管一个固定的电压。自 动化测试设备的测量装置会测量感光组件的特性变化。接着自动化测试设备 自行判断该特性值是否超过一定值。若该特性值超过一定值,则输出第一信 号。在本专利技术的一实施例中,是以光敏电阻作为感光组件,并测量光敏电阻 的阻抗变化。本实施例依照光敏电阻的特性,判定为第一信号即代表待测的 发光二极管不正常。发光二极管不正常的状况可能是无法发光或是发出的光 亮度不足。若没有超过一定值,则输出第二信号。第二信号代表待测的发光 二极管正常的信号。藉由上述的步骤流程,自动化测试设备即可自动检测发光二极管是否正常。附图说明图l是本专利技术的自动化测试设备的示意图。 图2是本专利技术的自动化测试设备的第 一实施例的电路图。 图3是本专利技术的自动化测试设备的第二实施例的电路图。 图4是本专利技术执行自动化测试的步骤流程图。附图符号说明自动化测试设备IO测试治具20感光组件21光敏电阻211光二极管212串联电阻213待测物设置处30发光二极管31电源供应装置40测量装置50具体实施方式为进一步了解本专利技术的
技术实现思路
,特举一个较佳具体实施例说明如下。以下请参考图1所示关于本专利技术自动化测试设备的示意图。本专利技术的自 动化设备10包括测试治具20、待测物设置处30、电源供应装置40与测量装置50。测试治具20具有感光组件21,感光组件21可为光敏电阻、光二极管 (Photodiode)或是光伏打电池(Photovoltaic)等会依照接受光照的程度 来改变其特性的组件,但本专利技术并不以此为限。待测物设置处30用以放置一 待测物,在本专利技术中为发光二极管31。并且待测物设置处30与电源供应装 置40电性连接,电源供应装置40会提供一固定电压来给发光二极管31使用。 测量装置50用来测量感光组件21在接受光照后的特性变化,并且可以依照 感光组件21的不同,来决定要测量阻抗值、电压值或是电流值的变化。接下来请参考图2关于本专利技术的自动化测试设备的第一实施例的电路图。在本实施例中,感光组件21是光敏电阻211。光敏电阻211可利用硫化 镉制成。光敏电阻211的特性为接受到光照后,其阻抗值会减少。因此测量 装置50所要测量的就是光敏电阻211的阻抗变化。电源供应装置40提供一 固定电压来给发光二极管31,使发光二极管31能发出光亮。如此一来,光 敏电阻211就会接收到光照,然后再依照其光照程度的不同来产生阻抗变化。接着请参考图3关于本专利技术的自动化测试设备的第二实施例的电路图。在本实施例中,感光组件21是光二极管212。光二极管212要利用电源 供应装置40来驱动,并且串接一串联电阻213。电源供应装置40同样提供 一固定电压来给发光二极管31,使发光二极管31能发出光亮。如此一来, 光二极管212就会接收到光照后,会让电压产生变化。测量装置50就测量与 光二极管212串联的串联电阻213的电压变化。本专利技术还具有第三实施例,感光组件21可为光伏打电池。若感光组件 21为光伏打电池(图未示),则直接用光伏打电池替换图2中的光敏电阻211。 在光伏打电池接收到光照后,测量装置50再测量光伏打电池的电压变化。需注意的是,上述图2与图3中仅为示意的电路图,本专利技术并不以上述 的电路图为限。接下来请参考图4关于本专利技术执行自动化测试的步骤流程图。 首先为步骤401:开始执行一 自动化测试流程。自动化测试设备1G会开始一 自动化测试流程。 步骤402:给予该发光二极管31 —固定电压。电源供应装置40会提供待测的发光二极管31 —个固定的电压。在本实 施例中,电源供应装置40提供5伏特的电压来驱动发光二极管31。 步骤403:测量一感光组件21的一特性值。在电源供应装置40驱动发光二极管31发光之后,感光组件21就会接收 到发光二极管31所发出的光能,并且产生特性的变化。若以第一实施例,即 以感光组件21为光敏电阻211为例,其特性变化就是光敏电阻211的阻抗值 的变化。自动化测试设备10的测量装置50会测量光敏电阻211的阻抗变化。 由于在本实施例中,感光组件21是光敏电阻211,因此测量装置50就要测 量出阻抗值。但本专利技术并不以此为限,若感光组件21为第二实施例的光二极 管212或是第三实施例的光伏打电池,测量装置50就会测量出其特性变化。接着进行步骤404:判断该特性值是否超过一定值。自动化测试设备10在得到由测量装置50所量得的阻抗变化后,便自行 判断该阻抗值是否超过一定值。该定值为事先依照正常的发光二极管31来定 义出的正常范围。在另一方面,不同的发光二极管31发出的不同的颜色也可 以量化成不同的特性值范围。因此,自动化测试设备10也可以判断不同种类 的发光二极管31是否有发出其正常的颜色。若该阻抗值超过一定值,就进行步骤405:输出一第一信号。当该阻抗值超过一定值,自动化测试设备10会输出第一信号。在本实施 例中是依照光敏电阻211的特性,当有接收到光照后,会让光敏电阻211的 阻抗变小。因此,若光敏电阻211的阻抗值超过一定值,即可以判定第一信 号是代表待测的发光二极管31的发光程度不正常。其原因可能是发光二极管 31无法发光或是发出的光亮度不足。因此在本实施例中,第一信号代表一不 正常的信号。在此情况之下,自动化测试设备10便会自动淘汰掉不正常的发 光二纟及管31。若阻抗值没有超过一定值,则进行步骤406:输出一第二信号。 若没有超过一定值,自动化测试设备10就输出第二信号。在本实施例中, 第二信号即代表待测的发光二极管31正常的信号本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种自动化测试设备,用于测量一发光二极管,该自动化测试设备包括:一待测物设置处,用以设置该发光二极管;一测试治具,包括一光敏电阻;以及一电源供应装置,与该待测物设置处电性地连接,以提供该发光二极管一固定电压;该测试治 具利用该光敏电阻测量该发光二极管的亮度。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:李昌,李文凯,
申请(专利权)人:纬创资通股份有限公司,纬创资通昆山有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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