一种电子组件测试系统，用于分别测试多个电子组件的性能。所述电子组件测试系统包括多个分别与每个电子组件的控制信号引脚电气相连接的选择开关，一个分别与该多个选择开关相连的数据转换模组以及一个与该数据转换模组电气相连的测试机。所述数据转换模组具有一个与电子组件的输入输出引脚组相对应设置的引线组。上述电子组件测试系统利用电子组件本身的控制信号引脚，配合选择开关的高电平端和低电平端的导通与截止，使得通过基板相连的电子组件中的任一电子组件都可以单独开启或关闭，从而可以检测每个电子组件的功能是否合格，且不用将该基板拆解成单个电子组件再来测试，有利于提高后续制程中电子组件的良率。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术关于一种测试系统，尤其是关于一种用于测试电子组件性能的电子组件测试系统
技术介绍
众所周知， 一般印刷电路板在完成线路排布或将电子零组件组装后，为确定每条线路皆 可正常导通，或所组装的电子零组件功能是否正常，通常必须予以测试，将电子线路完好的 印刷电路挑出，或将各电子元件固定于印刷电路板后，亦需经过电讯测试，以测试各电子元 件的性能是否符合要求。如图1所示，为一种现有的影像感测模组测试系统的测试电路图，用于测试具有一个输 入输出引脚组11的待测影像感测模组10，其包括多根与待测影像感测模组10的一个输入输出 引脚组11电气连接的导线20、 一个与该多根导线20电气连接的数据转换模组21、 一个数据线 23以及一个与该数据转换模组21通过数据线23电气相连的测试机22。所述影像感测模组10的输入输出引脚组11 ，用于输入输出各种类型的数据以实现不同的 控制功能，其包括两个用于提供电压的电源控制引脚119、 120、 一个控制信号引脚121、 二 个用于时钟控制的时钟控制引脚122、 123、 二个用于输出数据的同步输出引脚124、 125、接 地引脚126、重置引脚127、接地端128、串行总线时钟控制引脚129、 130以及多个用于输出 图像信号的图像输出引脚lll、 112、 113、 114、 115、 116、 117以及118。所述控制信号引脚121为一种功耗模式引脚(Power Do體，简称PWDN)，用来控制使影像 感测器进入睡眠状态或者工作状态。当控制信号引脚121输入电平为低电平时，该影像感测 模组10处于正常模式，即导通状态，而当控制信号引脚121输入电平为高电平时，该影像感 测模组10处于睡眠模式，即截止状态。所述数据转换模组21具有与影像感测模组10的输入输出引脚组11相对应的引线组211 ， 所述引线组211中的各引线所输入输出的数据类型与影像感测模组IO的相对应的输入输出弓1 脚组ll中的各引脚所输入输出的数据类型相同。该数据转换模组21可以将由影像感测模组 10所输出的电信号转换为适合下述测试机22处理的数字信号，同时也可以将测试机22输出的 数字信号转换为适合影像感测模组10处理的电信号。所述测试机22包括一中央处理器(图未示)，其通过数据线23连接于数据转换模组21的输出端，用于处理影像感测模组10输出的数据，并通过对影像感测模组10输出的数据的处理， 可判断影像感测模组10的性能是否合格。同时，该测试机22还可通过给影像感测模组10输入 控制信号以控制影像感测模组10的工作状态。所述多根导线20的一端分别与影像感测模组10的各个引脚电气相连，且其另一端电气连 接于数据转换模组21的与影像感测模组10的输入输出的数据类型相对应的各个引线上，用于 将影像感测模组10所产生的信号传输到数据转换模组21中。上述影像感测模组测试系统通过测试机22控制影像感测模组10的电源引脚119 、 120的通 断来控制影像感测模组10的启闭，因此只能测试拆解为单个的影像感测模组，因为在测试通 过基板相连的多个影像感测模组时，如果仅通过通断每个影像感测模组的电源引脚来控制各 个影像感测模组的启闭以测试各个影像感测模组，此时，各个非测试的影像感测模组的控制 信号引脚输入电平为低电平，其所对应的影像感测模组处于导通状态。因此非测试的影像感 测模组不能完全关闭会对所测试的影像感测模组造成信号干扰。但在影像感测模组的组装过 程中，在拆解成单个影像感测模组后仍有许多后续加工制程，如果为了测试影像感测模组的 性能，将通过基板相连的影像感测模组拆解成单个的影像感测模组，会给后续的加工制程增 加成本，而如果在完成所有的加工制程再进行测试，将会使组装后的影像感测模组的不良率 上升。
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种能够测试组装中的通过基板相连的多个电子组件性能的电子 组件测试系统。一种电子组件测试系统，用于分别测试多个电子组件的性能，每个电子组件具有多个输 入输出引脚组，该输入输出引脚组包括一个控制信号引脚。所述电子组件测试系统包括多个 分别与每个电子组件的控制信号引脚电气相连接的选择开关， 一个分别与该多个选择开关相 连的数据转换模组以及一个与该数据转换模组电气相连的测试机。所述数据转换模组具有一 个与电子组件的输入输出引脚组相对应设置的引线组，所述引线组包括一个能提供高电平电 信号的第一引线和一个能提供低电平电信号的第二引线。所述选择开关用以从第一引线或第 二引线中选择一 电信号供给电子组件的控制信号弓1脚以导通或截止所述电子组件。所述测试 机用以处理从数据转换模组输出的数据以及通过数据转换模组为电子组件输入电信号。上述电子组件测试系统利用电子组件本身的控制信号引脚，配合选择开关的高电平端和 低电平端的导通与截止，使得通过基板相连的电子组件中的任一电子组件都可以单独开启或 关闭，从而可以检测每个电子组件的功能是否合格，且不用将该基板拆解成单个电子组件再来测试，从而便于后续制程，进而提高了后续制程中电子组件的良率，降低了成本，而且还 可以避免其余多个未开启的电子组件相互之间的干扰。 附图说明图l是现有影像感测器测试系统的测试电路示意图； 图2是本专利技术实施例所提供的电子组件测试电路示意图3是本专利技术实施例所提供的通过基板相连的多个影像感测器的结构示意图。 具体实施例方式为了对本专利技术作更进一步的说明，举一较佳实施例并配合附图详细描述如下。请参阅图2及图3，为本专利技术实施例所提供的电子组件测试系统的测试电路图，所述测试 系统用于测试电子组件组，其包括多根数据线44、多个通过该数据线44与电子组件组电气相 连的选择开关41， 一个通过该数据线44与所述选择开关41电气相连的数据转换模组42、以及 一个通过该数据线44与该数据转换模组42电气相连的测试机43。所述电子组件组中的电子组件可以为影像感测器、图像采集器等，在本实施例中，所述 电子组件组包括两个影像感感测器30a、 30b。因影像感测器30b与影像感测器30a的结构完全一样，下面仅以影像感测器30a为例来说 明影像感测器的引脚组以及该引脚组中各个引脚的作用。如图3所示，所述影像感测器30a包 括一基板33以及贴附于基板33且与基板33电连接的影像感测晶片34。所述影像感测器30b也 包括一个影像感测晶片35，该影像感测晶片35也贴附于基板33且与基板33电连接。所述影像 感测器30a、 30b通过所述基板33相连在一起。所述影像感测模组30a的输入输出引脚组31，用于输入输出各种类型的数据以实现不同 的控制功能，其包括两个用于提供电压的电源控制引脚319、 320、 一个控制信号引脚321、 二个用于时钟控制的时钟控制引脚322、 323、 二个用于输出数据的同步输出引脚324、 325、 接地引脚326、重置引脚327、接地端328、串行总线时钟控制引脚329、 330以及多个用于输 出图像信号的图像输出引脚311、 312、 313、 314、 315、 316、 317以及318。所述控制信号引脚321为一种功耗模式引脚(Power Do體，简称PWDN)，用来控制使影像 感测器30a进入睡眠状态或者工作状态。当控制信号引脚321本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电子组件测试系统，用于分别测试多个电子组件的性能，每个电子组件具有多个输入输出引脚组，该输入输出引脚组包括一个控制信号引脚，其特征在于：所述电子组件测试系统包括多个分别与每个电子组件的控制信号引脚电气相连接的选择开关，一个分别与该多个选择开关相连的数据转换模组以及一个与该数据转换模组电气相连的测试机，所述数据转换模组具有与电子组件的输入输出引脚组相对应设置的引线组，所述引线组包括一个用于提供高电平电信号的第一引线和一个用于提供低电平电信号的第二引线，所述选择开关用以从第一引线或第二引线中选择一电信号供给电子组件的控制信号引脚以导通或截止该电子组件，所述测试机用以处理从数据转换模组输出的数据以及通过数据转换模组为电子组件输入电信号。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈及人，陈建荣，曾富岩，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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