一种边界扫描测试连接装置，其特征在于，设有多个电平区，包括：第一电平区，设置有用于与测试设备连接的测试接口；Ｎ个第二电平区，分别设置有用于与被测单元的一菊花单链连接的测试接口以及电压控制接口；其中，所述电压控制接口与外部电平连接，基于所述外部电平控制其所在第二电平区测试接口所输出信号的电平，以支持各菊花单链对于不同工作电平的要求；所述Ｎ大于１，所述菊花单链由要求相同工作电平的ＪＴＡＧ器件连接构成；所述第一电平区测试接口的ＴＤＩ端口接收所述测试设备输入的ＴＤＩ信号，在所述连接装置连接有Ｍ条菊花单链的情况下，连通一连接有菊花单链的第二电平区测试接口的ＴＤＩ端口；所述第二电平区测试接口的ＴＤＯ端口连通下一连接有菊花单链的第二电平区测试接口的ＴＤＩ端口，依次类推，直至连通第Ｍ个连接有菊花单链的第二电平区测试接口的ＴＤＩ端口；所述第Ｍ个连接有菊花单链的第二电平区测试接口的ＴＤＯ端口连通所述第一电平区测试接口的ＴＤＯ端口，用于向测试设备输出ＴＤＯ信号；且，所述第一电平区测试接口ＴＤＩ和ＴＤＯ以外的端口同时连通全部第二电平区测试接口的相应端口。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测试领域，尤其涉及一种边界扫描测试连接装置、 一种边界 扫描测试方法及一种边界扫描测试系统。
技术介绍
JTAG (Joint Test Action Group,联合测试行动小组)是一种国际标准测 试协议，对边界扫描测试(Boundary Scan Test,简称BST)技术进行了规范， 包括芯片级到系统级测试，核心逻辑电路互连测试和数模或模数电路测试等 一系列测试技术。JTAG的应用非常广泛，如器件互连测试、器件虚拟测试、器件簇测试 和器件自建内测试等等。其一般要求被测单元(Unit Under Test,简称UUT) 上所有的JTAG器件按照一定的方式连接为一条JTAG菊花链(daisy chain), 测试设备通过发送测试信号给被测单元，并接收测试结果，从而判断被测单 元是否有故障以及故障在哪里。基于JTAG标准，被测单元的各个JTAG器件分别定义有TAP (Test Access Port,测试访问口)，并通过该TAP连接为一条JTAG菊花链。该 TAP—般为四线接口，用于支持TMS (测试模式选择)、TCK (测试时钟)、 TDI (测试数据输入)和TDO (测试数据输出)端口信号；同时，测试复位 信号(TRST,—般以低电平有效)是可选的第五个端口信号。 一条菊花链上 的JTAG器件，其连接方式通常为第一个JTAG器件的输出TDO被连接到 第二个JTAG器件的输入TDI，以此类推，直到连接了被测单元的所有JTAG 器件，如图l所示。在实际测试过程中， 一条菊花链上需要连接的JTAG器件往往要求不同 的工作电平，比如第一个JTAG器件可能要求5V的工作电平，那么其输入 信号和输出信号都是5V，如果第二个JTAG器件要求3.3V的工作电平，则 显然第一个JTAG器件的输出与第二个JTAG器件的输入是不匹配的；不仅如此，其余的JTAG器件还可能工作在2.5V、 1.8V、 1.5V ，这种工作电平的不一致，会导致被测单元的JTAG器件无法直接连接为一条JTAG菊花 链。可以看出，为了保证对被测单元测试的顺利进行，必须妥善解决器件电 平不统一的问题。在现有技术中，主要采用以下两种方式来解决器件电平不统一的情况 一种方式为采用带有电平转换功能的74系列器件。这种方式的缺陷 在于74系列器件只能进行电平的单向转换，即一个74系列器件只能从一 种电平输出到另一种电平，比如从5V转换为3.3V;这样，在被测单元规模 较大且菊花链上所连接的JTAG器件电平不一致时，往往需要多个74系列 器件，比如一个JTAG器件的工作电平是3.3V，其前后JTAG器件的工作电 平都是5V，那么就需要两个74系列器件进行转换。显然，这种方式必然导 致单板布局紧张，以及带来器件浪费和成本升高问题；同时，处理低电平(小 于3.3V)转换时可选择的74系列器件很少，常常难以有效的实现所需的电 平转换。另一种方式为采用分压形式的模拟电路。这种方式的缺陷在于，模拟 电路设计复杂，成本很高，且其进行电平转换的效果并不尽如人意。综上所述，现有技术并不能有效解决菊花链中JTAG器件的异电平问题。
技术实现思路
本专利技术的实施例旨在提供一种边界扫描测试方案，以满足菊花链各 JTAG器件的电平要求，从而实现对异电平JTAG器件的边界扫描测试。为实现上述目的，本专利技术的实施例提供了一种边界扫描测试连接装置， 设有多个电平区，包括第一电平区，设置有用于与测试设备连接的测试接口；N个第二电平区，分别设置有用于与被测单元一菊花单链连接的测试接 口以及电压控制接口；其中，该电压控制接口与外部电平连接，基于该外部 电平控制其所在第二电平区测试接口所输出信号的电平，以支持各菊花单链 对于不同工作电平的要求；该N大于1，该菊花单链由要求相同工作电平的JTAG器件连接构成；该第一电平区测试接口的TDI端口接收测试设备输入的TDI信号，在该 连接装置连接有M条菊花单链的情况下，驱动一连接有菊花单链的第二电平 区测试接口的TDI端口 ；该第二电平区测试接口的TDO端口驱动下一连接 有菊花单链的第二电平区测试接口的TDI端口，依次类推，直至驱动第M 个连接有菊花单链的第二电平区测试接口的TDI端口 ；该第M个连接有菊花单链的第二电平区测试接口的TDO端口驱动该第 一电平区测试接口的TDO端口，用于向测试设备输出TDO信号;且，该第一电平区TAP测试接口 TDI和TDO以外的端口同时连通全部 第二电平区测试接口的相应端口 。本专利技术的实施例还提供了一种边界扫描测试方法，适用于对被测单元的 JTAG器件进行边界扫描测试；包括以下步骤51、 识别JTAG器件的工作电平，分别将要求相同工作电平的JTAG器 件连接为一条菊花单链；52、 将上述获得的菊花单链连接到如上所述边界扫描测试连接装置对应 电平的第二电平区，并赋予第二电平区相应外部电平；53、 将测试设备连接到如上所述边界扫描测试连接装置的第一电平区；54、 该测试设备向该连接装置输入测试信号，并根据该连接装置输 出的测试信号识别边界扫描结果。本专利技术的实施例还提供了一种边界扫描测试系统，包括被测单元和测试 设备；还包括如上所述的边界扫描测试连接装置；其中，要求相同工作电平的JTAG器件连接为一条菊花单链，该菊花单 链分别连接到该连接装置对应电平的第二电平区，该第二电平区与相应外部 电平连接；该测试设备连接到该连接装置的第一电平区，通过向该连接装置输入 测试信号，并根据该连接装置输出的测试信号识别边界扫描结果。由上述技术方案可知，本专利技术的实施例通过区分JTAG器件的工作电平用具有电平转换功能的连接器件将菊花单链连接起 来，具有以下有益效果1、 满足被测单元中各JTAG器件的电平要求，保证异电平JTAG器件能 够在功能上连接为一条菊花链，从而实现对异电平JTAG器件的边界扫描测 试；2、 在多数情况下各菊花单链的JTAG器件数目相对于被测单元中JTAG 器件数目都会有显著减少，因此在一定程度上现有测试设备对于被测单元的 驱动状况能够得到改善，同时测试信号质量也得到相应改善；3、 通过进一步的菊花单链长度控制，驱动能力和测试信号质量能够得 到有效保障。通过以下参照附图对优选实施例的说明，本专利技术的上述以及其它目的、 特征和优点将更加明显。附图说明图1为现有技术中菊花链的示意图；图2为本专利技术提供的边界扫描测试连接装置一实施例的框图； 图3为图2所示边界扫描测试连接装置一具体实施例的示意图； 图4为本专利技术提供的边界扫描测试方法一实施例的流程图； 图5为本专利技术提供的边界扫描测试方法另一实施例的流程图；图6为本专利技术提供的边界扫描测试系统一实施例的框图。具体实施方式下面将详细描述本专利技术的具体实施例。应当注意，这里描述的实施例只 用于举例说明，并不用于限制本专利技术。首先，为了解决多个不同电平JTAG器件难以直接连成一条JTAG菊花 链的问题，本专利技术提供了一种边界扫描测试连接装置100，其一实施例如图 2所示，设有多个电平区。这些电平区被区分如下第一电平区110，其设置有用于与测试设备连接的测试接口 111，该测 试接口 111用于与测试设备的TAP对接。N个第二电平区120;这里所述的N大于1，具体数值可以根据装置的 规模本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种边界扫描测试连接装置，其特征在于，设有多个电平区，包括：第一电平区，设置有用于与测试设备连接的测试接口；Ｎ个第二电平区，分别设置有用于与被测单元的一菊花单链连接的测试接口以及电压控制接口；其中，所述电压控制接口与外部电平连接，基于所述外部电平控制其所在第二电平区测试接口所输出信号的电平，以支持各菊花单链对于不同工作电平的要求；所述Ｎ大于１，所述菊花单链由要求相同工作电平的ＪＴＡＧ器件连接构成；所述第一电平区测试接口的ＴＤＩ端口接收所述测试设备输入的ＴＤＩ信号，在所述连接装置连接有Ｍ条菊花单链的情况下，连通一连接有菊花单链的第二电平区测试接口的ＴＤＩ端口；所述第二电平区测试接口的ＴＤＯ端口连通下一连接有菊花单链的第二电平区测试接口的ＴＤＩ端口，依次类推，直至连通第Ｍ个连接有菊花单链的第二电平区测试接口的ＴＤＩ端口；所述第Ｍ个连接有菊花单链的第二电平区测试接口的ＴＤＯ端口连通所述第一电平区测试接口的ＴＤＯ端口，用于向测试设备输出ＴＤＯ信号；且，所述第一电平区测试接口ＴＤＩ和ＴＤＯ以外的端口同时连通全部第二电平区测试接口的相应端口。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：蔡军，
申请(专利权)人：杭州华三通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：86
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