微针电子测试系统技术方案

本发明专利技术提供了微针电子测试系统，包括控制模块、信号采集模块、通道切换模块、通信控制模块、微针电子测试位，所述控制模块与信号采集模块电性相连，所述信号采集模块与通道切换模块电性相连，所述控制模块通过通信控制模块与通道切换模块通信相连，所述信号采集模块上设有高压源单元、恒流源单元，所述高压源单元、恒流源单元均通过通道切换模块与微针电子测试位电性相连。本发明专利技术提供人微针电子测试系统可在一次连接测试中分别进行高压、恒流及采样测试。

【技术实现步骤摘要】
微针电子测试系统
本专利技术涉及一种电子测试系统，特别是涉及一种微针电子测试系统。
技术介绍
PCB的中文名称是印刷电路板，是电子元器件安装的载体，也是电子元器件电气连接的基础，在PCB生产后，需要进行高压、恒流等测试，以确保产品合格，因此采用电子测试系统利用微针等结构与PCB电子元件接触，进行检测。但现有测试系统的功能较为单一，只能进行高压、恒流测试中的一种，因此一个PCB结构需要在不同的测试系统进行多次微针接触测试，导致测试效率较低。
技术实现思路
本专利技术提供了微针电子测试系统，可进行高压、恒流及采样测试。本专利技术提供了微针电子测试系统，包括控制模块、信号采集模块、通道切换模块、通信控制模块、微针电子测试位，所述控制模块与信号采集模块电性相连，所述信号采集模块与通道切换模块电性相连，所述控制模块通过通信控制模块与通道切换模块通信相连，所述信号采集模块上设有高压源单元、恒流源单元，所述高压源单元、恒流源单元均通过通道切换模块与微针电子测试位电性相连。进一步地，所述通道切换模块包括第一通道切换单元、第二通道切换单元，所述信号采集模块上还设有采样单元，所述高压源单元、恒流源单元均通过第一通道切换单元与微针电子测试位电性相连，所述采样单元通过第二通道切换单元与微针电子测试位电性相连。更进一步地，所述采样单元包括高分辨ADC电路、有源滤波电路、信号调理电路、无源滤波电路，所述高分辨ADC电路、有源滤波电路、信号调理电路、无源滤波电路依次相连，所述高分辨ADC电路与控制模块电性相连，所述无源滤波电路与第二通道切换单元电性相连。更进一步地，所述信号采集模块还包括光耦隔离接口电路，所述控制模块通过光耦隔离接口电路分别与高压源单元、恒流源单元、高分辨ADC电路电性相连。更进一步地，所述有源滤波电路为二阶有源滤波电路。更进一步地，所述无源滤波电路为七阶无源LC滤波电路。进一步地，所述恒流源单元包括0.5mA恒流源电路、10mA恒流源电路、50mA恒流源电路、100mA恒流源电路，所述各个恒流源电路之间并联。更进一步地，所述第一通道切换单元、第二通道切换单元均设有正极电路、负极电路，所述正极电路、负极电路上均设有开关，所述高压源单元、恒流源单元均通过第一通道切换单元的正极电路、负极电路与微针电子测试位相连，所述采样单元通过第二通道切换单元的正极电路、负极电路与微针电子测试位相连。进一步地，所述控制模块与通信控制模块之间采用485通信相连。更进一步地，所述高分辨ADC单元内设有模数转换器，所述模数转换器为ADS1675IPAG。本专利技术与现有技术相比，通过在信号采集模块上集成高压源单元、恒流源单元，实现对微针电子的高压、恒流检测，避免微针电子在不同测试装置中需要多次连接，提高对微针电子的检测效率。附图说明图1为本专利技术实施例结构框图；图2为本专利技术实施例信号调理电路结构示意图；图3为本专利技术实施例光耦隔离接口电路结构示意图；图4为本专利技术实施例二阶有源滤波电路结构示意图；图5为本专利技术实施例七阶无源LC滤波电路结构示意图；图6为本专利技术实施例恒流源单元电路结构示意图；图7为本专利技术实施例通信控制模块电路结构示意图；图8为本专利技术实施例高分辨ADC电路结构示意图；具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。本专利技术实施例公开了微针电子测试系统，如图1所示，包括控制模块、信号采集模块、通道切换模块、通信控制模块、微针电子测试位，所述控制模块与信号采集模块电性相连，所述信号采集模块与通道切换模块电性相连，所述控制模块通过通信控制模块与通道切换模块通信相连，所述信号采集模块上设有高压源单元、恒流源单元，所述高压源单元、恒流源单元均通过通道切换模块与微针电子测试位电性相连。其中，控制模块分别与信号采集模块上的高压源单元、恒流源单元进行控制，控制模块通过通信控制模块对通道切换模块实现控制效果。控制模块可选为FPGA控制芯片。微针电子测试位可选为常规的微针测试治具或微针测试装置，测试时微针电子测试位与待测的PCB电性相连。可选的，如图1所示，所述通道切换模块包括第一通道切换单元、第二通道切换单元，所述信号采集模块上还设有采样单元，所述高压源单元、恒流源单元均通过第一通道切换单元与微针电子测试位电性相连，所述采样单元通过第二通道切换单元与微针电子测试位电性相连。其中，控制模块对信号采集模块上的采样单元进行控制，通过对第一通道切换单元、第二通道切换单元的切换，实现高压源单元、恒流源单元、采样单元与微针电子测试位的分别相连，以对微针电子测试位进行不同检测。特别的，如图1、图2所示，所述采样单元包括高分辨ADC电路、有源滤波电路、信号调理电路、无源滤波电路，所述高分辨ADC电路、有源滤波电路、信号调理电路、无源滤波电路依次相连，所述高分辨ADC电路与控制模块电性相连，所述无源滤波电路与第二通道切换单元电性相连。特别的，如图1、图3所示，所述信号采集模块还包括光耦隔离接口电路，所述控制模块通过光耦隔离接口电路分别与高压源单元、恒流源单元、高分辨ADC电路电性相连。特别的，如图4所示，所述有源滤波电路为二阶有源滤波电路。特别的，如图5所示，所述无源滤波电路为七阶无源LC滤波电路。可选的，如图6所示，所述恒流源单元包括0.5mA恒流源电路、10mA恒流源电路、50mA恒流源电路、100mA恒流源电路，所述各个恒流源电路之间并联。特别的，如图1所示，所述第一通道切换单元、第二通道切换单元均设有正极电路、负极电路，所述正极电路、负极电路上均设有开关，所述高压源单元、恒流源单元均通过第一通道切换单元的正极电路、负极电路与微针电子测试位相连，所述采样单元通过第二通道切换单元的正极电路、负极电路与微针电子测试位相连。可选的，如图7所示，所述控制模块与通信控制模块之间采用485通信相连。特别的，如图8所示，所述高分辨ADC单元内设有模数转换器，所述模数转换器为ADS1675IPAG。其中，如图1-8所示，光耦隔离接口电路具有多个ADC类引脚，且于与高分辨ADC单元电性相连。在恒流源测试时，上位机(电脑)通过以太网向控制模块下发测试命令，控制模块对接收命令进行解析：若测试指令为二线，四线测试，控制器向信号采集模块上的恒流源单元发出控制指令，控制恒流源单元输出相应电流，打开恒流源输出通道。同时断开高压源单本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.微针电子测试系统，其特征在于，所述微针电子测试系统包括控制模块、信号采集模块、通道切换模块、通信控制模块、微针电子测试位，所述控制模块与信号采集模块电性相连，所述信号采集模块与通道切换模块电性相连，所述控制模块通过通信控制模块与通道切换模块通信相连，所述信号采集模块上设有高压源单元、恒流源单元，所述高压源单元、恒流源单元均通过通道切换模块与微针电子测试位电性相连。/n

【技术特征摘要】
1.微针电子测试系统，其特征在于，所述微针电子测试系统包括控制模块、信号采集模块、通道切换模块、通信控制模块、微针电子测试位，所述控制模块与信号采集模块电性相连，所述信号采集模块与通道切换模块电性相连，所述控制模块通过通信控制模块与通道切换模块通信相连，所述信号采集模块上设有高压源单元、恒流源单元，所述高压源单元、恒流源单元均通过通道切换模块与微针电子测试位电性相连。


2.根据权利要求1所述的微针电子测试系统，其特征在于，所述通道切换模块包括第一通道切换单元、第二通道切换单元，所述信号采集模块上还设有采样单元，所述高压源单元、恒流源单元均通过第一通道切换单元与微针电子测试位电性相连，所述采样单元通过第二通道切换单元与微针电子测试位电性相连。


3.根据权利要求2所述的微针电子测试系统，其特征在于，所述采样单元包括高分辨ADC电路、有源滤波电路、信号调理电路、无源滤波电路，所述高分辨ADC电路、有源滤波电路、信号调理电路、无源滤波电路依次相连，所述高分辨ADC电路与控制模块电性相连，所述无源滤波电路与第二通道切换单元电性相连。


4.根据权利要求3所述的微针电子测试系统，其特征在于，所述信号采集模块还包括光耦隔离接口电路，所述控制模块通过光耦隔离接口...

【专利技术属性】
技术研发人员：李志雄，赵伟林，梁树彬，郑荣达，蔡宇，薛日胜，杨进权，周家进，陈晓敏，
申请(专利权)人：珠海博杰电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44