一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备制造技术

本实用新型专利技术提供了一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备,包括装置主体，装置主体外部左右两侧固定安装有调节箱，装置主体内部上端固定安装有紫外灯管，装置主体内部下端固定安装有放置板。本实用新型专利技术通过摩擦层为金属、塑料任意一种设置，且放置板下端的连接杆一端设置在转盘的边缘处，则当第一电机与外部电源连接后能带动放置板进行水平方向圆周运动，使放置板上限位板内的存储卡与摩擦层进行摩擦，从而模拟存储卡在日常使用中放在智能设备里的状态，使得提高对储存卡使用寿命测试的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备
本技术涉及老化机试验设备
，具体为一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备。
技术介绍
紫外老化试验机是一种采用荧光紫外灯为光源，通过模拟自然阳光中的紫外辐射，对材料进行加速耐候性试验，以获得材料耐候性的结果的实验设备，但现有的老化机在对于储存卡使用寿命的测试中，只有模拟阳光照射则一种，无法进一步对储存卡在人们日常使用，可能产生的磨损进行模拟，从而降低了测试结果的准确性。基于上述描述，并检索一件申请号CN201920124988.0的技术专利，关于一种紫外老化试验机，包括箱体，其特征在于：箱体上设置有多层紫外灯，相邻紫外灯之间均设置有水平放置的成U形的固定架，固定架的开口朝外，固定架的两侧均设置有滑槽......滑动架的上表面设置有若干个插孔，挂钩穿入插孔内。所述滑动架的两端均设置有转轮，挂钩的上端抵触在滑槽的上沿。滑槽的前端设置有挡块。通过检索发现，现有的紫外线老化试验机，通过壳体两侧设置有挂钩，挂钩的上端抵触在滑槽的上沿，在向内滑动的过程中，由滑槽的上沿将挂钩压住，从而避免物料盘掉落，保证其稳定性。经过上述检索文件进行分析以及对现有技术进行对比后发现，现有的紫外线老化试验机在对储存卡进行老化试验时，大都没有安装对储存卡在人们日常使用可能产生的磨损进行模拟的装置，因此，需要对紫外线老化机，进行进一步的研究，提供一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备。
技术实现思路
本技术提供了一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备，以解决普通紫外线老化装置无法对储存卡在人们日常使用可能产生的磨损进行模拟，从而降低了测试结果的真实性的技术问题。为实现上述目的，本技术提供了一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备,包括装置主体，装置主体外部左右两侧固定安装有调节箱，所述装置主体内部上端固定安装有紫外灯管，所述装置主体内部下端固定安装有放置板，所述放置板下端固定连接有连接杆，所述连接杆下端固定连接有转盘，所述转盘下端固定安装有第一电机，所述放置板内部底端活动安装有摩擦层，所述摩擦层上端活动安装有限位板，所述限位板上端开设有限位槽，所述装置主体内部底端固定安装有滚球，所述装置主体正面活动安装有装置门体，所述调节箱内部固定安装有遮挡板，所述遮挡板上端固定安装有清洁棉，所述调节箱内部下端固定安装有驱动齿轮，所述驱动齿轮后端固定安装有第二电机，所述限位板内部固定安装有转轮。进一步的，所述摩擦层为金属、塑料任意一种设置，所述紫外灯管与外部电源电性连接，所述连接杆的一端设置在转盘的边缘处，所述第一电机与外部电源电性连接。进一步的，所述限位板与摩擦层为活动放置在放置板内部，所述限位板上均匀开设有圆形限位槽。进一步的，所述装置主体下端为包裹滚球三分之二设置，所述转轮分别设置在限位槽边缘处。进一步的，所述遮挡板下端边缘设置有与驱动齿轮咬合的齿条，所述第二电机与外部电源电性连接。进一步的，所述遮挡板内侧为栅格状设置。一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备具有以下有益效果:(1)该装置通过摩擦层为金属、塑料任意一种设置，且放置板下端的连接杆设置在转盘的边缘一点，使得第一电机能带动放置板进行水平方向圆周运动，让放置板上限位板内的存储卡与摩擦层进行摩擦，从而模拟存储卡在日常使用中放在人们口袋里的状态，使得提高对储存卡使用寿命测试的准确性。(2)该装置通过限位板内的转轮，分别设置在限位槽边缘处，使得当存储卡在限位槽内转动摩擦时能与转轮进行接触，从而触动转轮进行转动，则能减少碰撞限位槽的作用力，通过装置主体下端为包裹滚球三分之二设置，使得当放置板进行转动能减小与装置主体下端摩擦力，提高放置板转动效率，且同时能减小转盘承受的重量，提高转盘使用寿命。(3)该装置通过遮挡板下端边缘设置有与驱动齿轮咬合的齿条，使得第二电机能利用驱动齿轮带动遮挡板向装置主体内部移动，从而用遮挡板上的栅格部分对紫外灯管进行遮挡，使得在放置板上产生阴影让存储卡间歇与紫外线接触，则能对存储卡日常使用中放入设备或口袋中，或存储卡从设备或口袋内取出与阳光间断接触进行模拟。附图说明图1为本技术的装置主体立体图；图2为本技术的装置主体内部透视图；图3为本技术的图2中A处放大图；图4为本技术的图2中B处放大图；图5为本技术的放置板俯视及部分透视图；图6为本技术的遮挡板俯视图。图1-6中：1-装置主体、2-调节箱、3-紫外灯管、4-遮挡板、5-清洁棉、6-放置板、7-转盘、8-第一电机、9-摩擦层、10-限位板、11-限位槽、12-转轮、13-连接杆、14-装置门体、15-滚球、16-驱动齿轮、17-第二电机。具体实施方式请参阅图1至6，一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备分解结构示意图以及平面结构示意图。本实施例提供了一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备,包括装置主体1，装置主体1外部左右两侧固定安装有调节箱2，装置主体1内部上端固定安装有紫外灯管3，装置主体1内部下端固定安装有放置板6，放置板6下端固定连接有连接杆13，连接杆13下端固定连接有转盘7，转盘7下端固定安装有第一电机8，放置板6内部底端活动安装有摩擦层9，摩擦层9上端活动安装有限位板10，限位板10，限位板10上端开设有限位槽11，装置主体1内部底端固定安装有滚球15，装置主体1正面活动安装有装置门体14，调节箱2内部固定安装有遮挡板4，遮挡板4上端固定安装有清洁棉5，调节箱2内部下端固定安装有驱动齿轮16，驱动齿轮16后端固定安装有第二电机17，限位板10内部固定安装有转轮12。在具体实施时，摩擦层9为金属、塑料任意一种设置，紫外灯管3与外部电源电性连接，连接杆13的一端设置在转盘7的边缘处，第一电机8与外部电源电性连接，则当第一电机8与外部电源连接后能带动放置板6进行水平方向圆周运动，使放置板6上限位板10内的存储卡与摩擦层9进行摩擦，从而模拟存储卡在日常使用中放在人们口袋里的状态，使得提高对储存卡使用寿命测试的准确性。在具体实施时，限位板10与摩擦层9为活动放置在放置板6内部，限位板10上均匀开设有圆形限位槽11，使得能方便对摩擦层9进行更换，得到不同布料的测试数据的同时能减少存储卡在转动时与限位槽11的碰撞作用力，使得进一步提高测试数据的准确性。在具体实施时，装置主体1下端为包裹滚球15三分之二设置，转轮12分别设置在限位槽11边缘处，使得当存储卡在限位槽11内转动摩擦时能与转轮12进行接触，从而触动转轮12进行转动，则能进一步减少碰撞限位槽11的作用力，通过装置主体1下端为包裹滚球15三分之二设置，使得滚球15能自由滚动的同时不会离开装置主体1下端，使得当放置板6进行转动，能通过驱使滚球13进行转动，从而减小与装置主体1下端摩擦力，提高放置板6转动效率的同时减小转盘7承受的重量，提高转盘7使用寿命。...

【技术保护点】
1.一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备,包括装置主体(1)，其特征在于：装置主体(1)外部左右两侧固定安装有调节箱(2)，所述装置主体(1)内部上端固定安装有紫外灯管(3)，所述装置主体(1)内部下端固定安装有放置板(6)，所述放置板(6)下端固定连接有连接杆(13)，所述连接杆(13)下端固定连接有转盘(7)，所述转盘(7)下端固定安装有第一电机(8)，所述放置板(6)内部底端活动安装有摩擦层(9)，所述摩擦层(9)上端活动安装有限位板(10)，所述限位板(10)上端开设有限位槽(11)，所述装置主体(1)内部底端固定安装有滚球(15)，所述装置主体(1)正面活动安装有装置门体(14)，所述调节箱(2)内部固定安装有遮挡板(4)，所述遮挡板(4)上端固定安装有清洁棉(5)，所述调节箱(2)内部下端固定安装有驱动齿轮(16)，所述驱动齿轮(16)后端固定安装有第二电机(17)，所述限位板(10)内部固定安装有转轮(12)。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备,包括装置主体(1)，其特征在于：装置主体(1)外部左右两侧固定安装有调节箱(2)，所述装置主体(1)内部上端固定安装有紫外灯管(3)，所述装置主体(1)内部下端固定安装有放置板(6)，所述放置板(6)下端固定连接有连接杆(13)，所述连接杆(13)下端固定连接有转盘(7)，所述转盘(7)下端固定安装有第一电机(8)，所述放置板(6)内部底端活动安装有摩擦层(9)，所述摩擦层(9)上端活动安装有限位板(10)，所述限位板(10)上端开设有限位槽(11)，所述装置主体(1)内部底端固定安装有滚球(15)，所述装置主体(1)正面活动安装有装置门体(14)，所述调节箱(2)内部固定安装有遮挡板(4)，所述遮挡板(4)上端固定安装有清洁棉(5)，所述调节箱(2)内部下端固定安装有驱动齿轮(16)，所述驱动齿轮(16)后端固定安装有第二电机(17)，所述限位板(10)内部固定安装有转轮(12)。


2.根据权利要求1所述的一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭超，
申请(专利权)人：深圳市友林电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44