显示装置及其缺陷像素修复方法制造方法及图纸

显示装置具有其中分别包含驱动晶体管与电光学元件的多个像素。缺陷像素修复方法包括如下步骤：通过对形成于不同配线层且具有隔着绝缘膜在俯视时彼此重叠的部分的两条配线的重叠部分照射激光，使两条配线短路，从而将缺陷像素内的电光学元件的阳极电极与邻接的相同颜色的正常像素内的电光学元件的阳极电极电性连接的步骤；以及在缺陷像素中，将驱动晶体管与电光学元件电性切断的步骤。由此，能够容易地修复缺陷像素。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】显示装置及其缺陷像素修复方法
本专利技术涉及一种显示装置，尤其涉及一种具有包含电光学元件的像素的显示装置及其缺陷像素修复方法。
技术介绍
近年来，具备其中包含有机电致发光(ElectroLuminescence：以下，称为EL)元件的像素的有机EL显示装置已经投入实际使用。有机EL显示装置的像素包含有有机EL元件和驱动晶体管。有机EL元件是电光学元件的一种，其以与流过的电流量相对应的亮度发光。驱动晶体管与有机EL元件串联设置，并且控制流过有机EL元件的电流量。像素内的晶体管使用薄膜晶体管(ThinFilmTransistor：以下称为TFT)。在有机EL显示装置的制造工序中，在像素中发生缺陷。缺陷像素的亮度与正常像素的亮度不同。因此，在有机EL显示装置的检查工序中，进行例如基于施加检查用图案时的显示图像来检测缺陷像素的处理。此外，为了使缺陷像素不那么引人注目，有时进行将缺陷像素的颜色固定为黑色的处理(以下称为黑点化)。黑点化例如通过从像素电极分离有机EL元件的发光区域的方法、将有机EL元件的发光区域与驱动晶体管切断的方法来进行。在小型有机EL显示装置中，由于像素数少，因此缺陷像素数也少。因此，通过黑点化使缺陷像素不那么引人注目，从而可以将有机EL显示装置作为良品来出货。另一方面，在中型或大型的有机EL显示装置中，由于像素数多，因此缺陷像素数也多。因此，即使通过黑点化使缺陷像素不那么引人注目，有机EL显示装置也有可能无法作为良品来出货。由此，在中型或大型的有机EL显示装置中，优选修复缺陷像素。关于修复缺陷像素，以往已知有各种方法。在专利文献1中记载了一种制造显示装置的方法，其为在形成显示元件之前检测到开关晶体管的不良时，将从电源供给线到不良的开关晶体管的电流路径断线，并且以覆盖像素的方式在基板上形成钝化膜，使用钝化膜来接线已断线的开关晶体管的第二电极和邻接像素的驱动晶体管的第二电极。在专利文献2中记载了一种图像显示装置的修复方法，其为在形成驱动电路层时，在缺陷像素内的驱动晶体管的栅极端子的表面和正常像素内的驱动晶体管的栅极端子的表面上形成开口部，并且经由两个开口部形成直接连接两个驱动晶体管的栅极端子的跳线。现有技术文献专利文献专利文献1：日本国特开2008-262013号公报专利文献2：日本国特开2010-249883号公报
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题然而，在以往的缺陷像素修复方法中，由于在形成像素的期间检测缺陷像素并形成钝化膜或跳线，因此存在难以实施或成本高等问题。因此，提出以提供一种可以容易实施的显示装置的缺陷像素修复方法为课题。解决问题的方案上述问题可以通过如下缺陷像素修复方法来解决，例如，一种具有其中分别包含驱动晶体管与电光学元件的多个像素的显示装置的缺陷像素修复方法，缺陷像素修复方法的特征在于，包括如下步骤：通过对形成于不同配线层且具有隔着绝缘膜在俯视时彼此重叠的部分的两条配线的重叠部分照射激光，使两条配线短路，从而将缺陷像素内的电光学元件的阳极电极与邻接的相同颜色的正常像素内的电光学元件的阳极电极电性连接的步骤；以及在缺陷像素中，将驱动晶体管与电光学元件电性切断的步骤。专利技术效果根据上述缺陷像素修复方法，通过将缺陷像素内的电光学元件的阳极电极与正常像素内的电光学元件的阳极电极电性连接，并在缺陷像素中将驱动晶体管与电光学元件电性切断，由此，流过缺陷像素内的电光学元件的电流量几乎与流过共用驱动晶体管的正常像素内的电光学元件的电流量相同，并且缺陷像素的亮度变为几乎与共用驱动晶体管的正常像素的亮度相同。另外，仅对两条配线的重叠部分照射激光，并将驱动晶体管与电光学元件电性切断，缺陷像素的亮度就变得如上所述。由此，能够容易地修复缺陷像素。附图说明图1是示出第一实施方式所涉及的有机EL显示装置的构成的框图。图2是图1所示的有机EL显示装置的像素的电路图。图3是图1所示的有机EL显示装置的时序图。图4是示出图2所示的像素内的连接用配线的端部的图。图5是用于说明图1所示的有机EL显示装置的缺陷像素修复方法的图。图6是图1所示的有机EL显示装置的修复后的像素的电路图。图7是第二实施方式的第一例所涉及的有机EL显示装置的显示部的布局图。图8是第二实施方式的第二例所涉及的有机EL显示装置的显示部的布局图。图9是第二实施方式的第三例所涉及的有机EL显示装置的显示部的布局图。图10是第三实施方式的第一例所涉及的有机EL显示装置的显示部的布局图。图11是第三实施方式的第二例所涉及的有机EL显示装置的显示部的布局图。具体实施方式(第一实施方式)图1是示出第一实施方式所涉及的有机EL显示装置的构成的框图。图1所示的有机EL显示装置10包括显示部11、显示控制电路12、扫描线驱动电路13、数据线驱动电路14、控制线驱动电路15和电流测量电路16。以下设为，m为偶数，n为2以上的整数，i为1至m的整数，j为1至n的整数。另外，将附图的水平方向称为行方向，将附图的垂直方向称为列方向。显示部11包含有m条扫描线G1～Gm、n条数据线S1～Sn、m条控制线P1～Pm、n条监测线Q1～Qn以及(m×n)个像素20。扫描线G1～Gm和控制线P1～Pm在行方向上延伸并且彼此平行地配置。数据线S1～Sn和监测线Q1～Qn在列方向上延伸并且以与扫描线G1～Gm正交的方式彼此平行地配置。扫描线G1～Gm与数据线S1～Sn在(m×n)位置处相交。(m×n)个像素20对应于扫描线G1～Gm和数据线S1～Sn的交点二维地配置。使用未图示的配线或电极向像素20提供高电平电源电压ELVDD和低电平电源电压ELVSS。显示控制电路12将控制信号CS1输出到扫描线驱动电路13，并且将控制信号CS2和视频信号VS输出到数据线驱动电路14。扫描线驱动电路13基于控制信号CS1来驱动扫描线G1～Gm。更具体地，扫描线驱动电路13基于控制信号CS1，从扫描线G1～Gm之中依次选择一条扫描线，并将高电平电压施加到所选择的扫描线。由此，与所选择扫描线连接的n个像素20被共同选择。数据线驱动电路14基于控制信号CS2和视频信号VS来驱动数据线S1～Sn。更具体地，数据线驱动电路14基于控制信号CS2，将与视频信号VS相对应的n个电压(以下称为数据电压)分别施加到数据线S1～Sn。由此，将n个数据电压分别写入与所选择的扫描线连接的n个像素中。像素20的亮度根据被写入到像素20中的数据电压而变化。控制线驱动电路15驱动控制线P1～Pm。更具体地，控制线驱动电路15在消隐期间等的非显示期间内，从控制线P1～Pm之中选择一条控制线，并将高电平电压施加到所选择的控制线。由此，与所选择的控制线连接的n个像素20被共同选择。电流测量电路16测量流过被选择的n个像素20和监测线Q1～Qn的n个电流。被测量的电流用于校正视频信号VS等。此外，也可本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种缺陷像素修复方法，其为具有其中分别包含驱动晶体管与电光学元件的多个像素的显示装置的缺陷像素修复方法，所述缺陷像素修复方法的特征在于，包括如下步骤：/n通过对形成于不同配线层且具有隔着绝缘膜在俯视时彼此重叠的部分的两条配线的重叠部分照射激光，使所述两条配线短路，从而将缺陷像素内的所述电光学元件的阳极电极与邻接的相同颜色的正常像素内的所述电光学元件的阳极电极电性连接的步骤；以及/n在所述缺陷像素中，将所述驱动晶体管与所述电光学元件电性切断的步骤。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种缺陷像素修复方法，其为具有其中分别包含驱动晶体管与电光学元件的多个像素的显示装置的缺陷像素修复方法，所述缺陷像素修复方法的特征在于，包括如下步骤：
通过对形成于不同配线层且具有隔着绝缘膜在俯视时彼此重叠的部分的两条配线的重叠部分照射激光，使所述两条配线短路，从而将缺陷像素内的所述电光学元件的阳极电极与邻接的相同颜色的正常像素内的所述电光学元件的阳极电极电性连接的步骤；以及
在所述缺陷像素中，将所述驱动晶体管与所述电光学元件电性切断的步骤。


2.根据权利要求1所述的缺陷像素修复方法，其特征在于，
所述像素还包含连接用配线，所述连接用配线的一端连接于所述电光学元件的阳极电极，
所述像素内的连接用配线与相同颜色的邻接像素内的连接用配线形成于不同配线层，且具有隔着所述绝缘膜在俯视时彼此重叠的部分，
在所述连接的步骤中，对所述缺陷像素内的连接用配线与所述正常像素内的连接用配线彼此重叠的部分照射所述激光。


3.根据权利要求1所述的缺陷像素修复方法，其特征在于，
所述像素还包含第一连接用配线，所述第一连接用配线的一端连接于所述电光学元件的阳极电极，
所述显示装置还包含第二连接用配线，所述第二连接用配线与以不同颜色各被包含两个以上的像素的像素组对应设置而电性独立，
所述第二连接用配线形成于与所述第一连接用配线不同的配线层，且具有针对所述像素组内的像素的每一个隔着所述绝缘膜在俯视时与所述第一连接用配线彼此重叠的部分，
在所述连接的步骤中，对所述缺陷像素内的第一连接用配线与所述第二连接用配线彼此重叠的部分以及所述正常像素内的第一连接用配线与所述第二连接用配线彼此重叠的部分照射所述激光。


4.根据权利要求1至3中的任一项所述的缺陷像素修复方法，其特征在于，
所述驱动晶体管的一个导通端子被电性连接至所述电光学元件的阳极电极，
在所述切断的步骤中，在所述缺陷像素中，将所述驱动晶体管的一个导通端子与所述电光学元件的阳极电极电性切断。


5.根据权利要求3所述的缺陷像素修复方法，其特征在于，
所述像素组包含：第一颜色像素，其在同列中配置有两个以上；第二颜色像素，其在同列中配置有两个以上，
所述第二连接用配线具有针对所述第一颜色像素的每一个隔着所述绝缘膜在俯视时与所述第一连接用配线彼此重叠的部分和针对所述第二颜色像素的每一个隔着所述绝缘膜在俯视时与所述第一连接用配线彼此重叠的部分。


6.根据权利要求3所述的缺陷像素修复方法，其特征在于，
所述像素组中包含的多个像素共用所述第二连接用配线。


7.根据权利要求3所述的缺陷像素修复方法，其特征在于，
所述像素组包含两个红色像素和两个绿色像素。


8.根据权利要求7所述的缺陷像素修复方法，其特征在于，
所述第二连接用配线具有隔着所述绝缘膜在俯视时与蓝色像素内的所述电光学元件的阳极电极彼此重叠的部分。


9.根据权利要求7所述的缺陷像素修复方法，其特征在于，
所述第二连接用配线以在俯视时不与蓝色像素内的所述电光学元件的阳极电极重叠的方式形成。


10.根据权利要求3所述的缺陷像素修复方法，其特征在于，
所述像素组包含两个红色像素、四个绿色像素和两个蓝色像素。


11.根据权利要求3所述的缺陷像素修复方法，其特征在于，
所述第一连接用配线具有相同的形状。


12.一种显示装置，其特征在于，包括：
多条扫描线；
多条数据线；以及
多个像素，其分别包含：驱动晶体管；电光学元件；和连接用配线，其一端连接于所述电光学...

【专利技术属性】
技术研发人员：北角英人，
申请(专利权)人：夏普株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP