一种非接触式条纹光电传感器制造技术

技术编号:2617583 阅读:317 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术一种非接触式条纹光电传感器,它包括1点光源,2凸透镜,3分光镜,4凸透镜,5被测物,6凸透镜,7滤光片,8光电转换元件。用来检测印刷行业套印过程中的马克线条纹以及具有一定反差的任何色条或色块,测量精度可达0.01mm。(*该技术在2010年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术一种非接触式条纹光电传感器,它属于光电器件。已知中国专利技术专利申请号95107543.8公开了一种“光电传感器”它包括用于接收预定光显将其转换成电信号的光感测部件,用于封装光感测部件的外壳,以及装在外壳的前表面的透镜,其中设定透镜的形状,使其在垂直方向的上段的曲率大于下段的曲率,并且只能接收必要的信号,而不受干扰光的影响,从而避免了误操作。另外,中国技术专利申请号93209391.4公开了“一种检测液位的光电传感器”,它是用来测量透明容器或透明管道中透明液体的光电传感器,由一个光束发生器和一个光束接受器组成。其安装方式是使光束以倾斜的方式射入容器,利用光在不同介质中的不同折射率,达到测量液位的目的。本技术的目的是为了提供一种非接触式条纹光电传感器,用来检测在印刷行业套印过程中的马克线条纹,以及具有一定反差的任何色条或色块。本技术“一种非接触式条纹光电传感器”的具体结构见附图1,它包括1点光源,2凸透镜,3分光镜,4凸透镜,5被测物,6凸透镜,7滤光片,8光电转换元件。点光源1发出的光,经过透镜2变成平行光,透过一个与入射光轴线成45°角的分光镜3到达凸透镜4,并聚焦在被测物5上,被测物5的光,一部分被反射回来,经分光镜3反射到凸透镜6,透过滤光片7成像在光电转换元件8上,再通过信号处理,就可以检测出马克线条纹和具有一定反差的任何色条或色块。采用该光电传感器两只并排使用,再加上处理电路,就能够检测出相邻两个色条之间的间距。其精度能够达到0.01mm。点光源1采用白色高亮度的LED;分光镜3采用透射率与反射率之比1∶1;光电转换元件8采用波长范围在300nm-1100nm的TSL-250型宽频谱光电转换元件。其中2凸透镜、4凸透镜、6凸透镜曲率半径不同,即形状不同。本技术的优点是结构简单,工作可靠,测试准确,测量精度可达0.01mm,可广泛应用于印刷业。 附图说明图1为非接触式条纹光电传感器的光学原理图,其中1点光源,2凸透镜,3分光镜,4凸透镜,5被测物,6凸透镜,7滤光片,8光电转换元件。实施例按着附图1的结构进行安装,点光源1放在凸透镜2的焦点上,并采用白色高亮度的LED;分光镜3采用透射率与反射率之比为1∶1的分光镜;分光镜3与点光源1的入射轴线成45°角;光电转换元件8采用波长范围在300nm-1100nm的TS L-250型宽频谱光电转换元件。点光源1、凸透镜2、分光镜3、凸透镜4和被测物5安装在同一光轴上;凸透镜6、滤光片7和光电转换元件8安装在同一光轴上,并与上述光轴垂直。权利要求1.一种非接触式条纹光电传感器,它包括光源、透镜、分光镜、滤光片和光电转换元件,其特征在于通过点光源1发出的光,经凸透镜2变成平行光,透过一个与入射光轴线成45°角的分光镜3到达透镜4,并聚焦在被测物5上,到达被测物5的光,一部分被反射回来,经分光镜3反射到凸透镜6,透过滤光片7成像在光电转换元件8上,再通过信号处理检测出被测物5。2.按着权利要求1所述的非接触式条纹光电传感器,其特征在于点光源1是一种白色高亮度LED。3.按着权利要求1所述的非接触式条纹光电传感器,其特征在于光电转换元件8采用宽频谱范围光电转换元件,波长范围在300nm-1100nm之间。4.按着权利要求1所述的非接触式条纹光电传感器,其特征在于分光镜3采用透射率与反射率之比为1∶1的分光镜。5.按着权利要求1所述的非接触式条纹光电传感器,其特征在于2凸透镜、4凸透镜、6凸透镜曲率半径不同。专利摘要本技术一种非接触式条纹光电传感器,它包括1点光源,2凸透镜,3分光镜,4凸透镜,5被测物,6凸透镜,7滤光片,8光电转换元件。用来检测印刷行业套印过程中的马克线条纹以及具有一定反差的任何色条或色块,测量精度可达0.01mm。文档编号G01N21/25GK2476016SQ0026305公开日2002年2月6日 申请日期2000年11月23日 优先权日2000年11月23日专利技术者吴志勇 申请人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种非接触式条纹光电传感器,它包括光源、透镜、分光镜、滤光片和光电转换元件,其特征在于通过点光源1发出的光,经凸透镜2变成平行光,透过一个与入射光轴线成45°角的分光镜3到达透镜4,并聚焦在被测物5上,到达被测物5的光,一部分被反射回来,经分光镜3反射到凸透镜6,透过滤光片7成像在光电转换元件8上,再通过信号处理检测出被测物5。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:吴志勇
申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
类型:实用新型
国别省市:82[中国|长春]

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