本实用新型专利技术为同位素源转换装置,包括位于样品环(3)内的样品(2),样品环(3)位于样品架(4)上,同位素源(1)和探测器(5)位于样品架(4)下面,样品架(4)有可绕轴心旋转的框体,轴心有孔(6)贯穿屏蔽环中心,孔(6)的下面装有探测器(5),屏蔽环(11)的锥面上有至少一个孔(7)与框体内的至少一个同位素源架(8)上的同位素源(1)相对应。(*该技术在2013年保护过期,可自由使用*)
【技术实现步骤摘要】
本技术与同位素源激发的X荧光仪有关,尤其与X荧光仪的同位素源转换装置有关。
技术介绍
在能量色散X荧光分析中,人们采用同位素激发源来激发待测样品,使待测样品的元素产生特征X射线进行样品的定性定量分析。而特征X射线产生的机率与激发源的能量有很大的关系,当激发源的能量与被激发元素的特征X射线能量接近时,激发效率最高。为了分析不同的元素,得到最好的分析精度,通常会采用不同的同位素源作激发源,来测量某一能量段的元素。同位素源的转换机构就是解决源的转换问题,更好地满足测量要求的一种机构。在同位素源激发的X荧光仪中,人们为了测量不同的元素和获得最佳的激发效率,常常采用以下两种方案1、单源单探测器这种机构采用一个探测器上装一个同位素源,用于测量某一能量段的元素,如图1所示。分析另一个能量段的元素时,打开探测器,换上另一个同位素源,再重新测量,就这样一个样品需要测两次,况且换源比较麻烦,人身易受放射源释放的射线照射,造成不必要的伤害。换源后,源和待测样品之间的距离和位置得不到保证,就必须对仪器进行重新标定。2、双源双探测器这种仪器采用两个探测器(探测器A和探测器B),每个探测器上分别装一个同位素源(同位素源A和同位素源B),分别激发不同能量段的元素。测量时,用同一种待测样品做两个测量样品(样品A和样品B),分别送入两个探测器,如图2所示,从而避免了换源带来的麻烦,但探测器和主机分析器均为两套电路,增加了系统误差和硬成本,给用户带来了额外的经济负担。技术的内容本技术的目的提供一种结构简单,成本低、操作方便的同位素源转换装置。本技术是这样实现的 本技术同位素源转换装置,包括位子样品环(3)内的样品(2),样品环(3)位于样品架(4)上,同位素源(1)和探测器(5)位于样品架(4)下面,样品架(4)有可绕轴心旋转的框体,轴心有孔(6)贯穿屏蔽环中心,孔(6)的下面装有探测器(5),屏蔽环(11)的锥面上有至少一个孔(7)与框体内的至少一个同位素源架(8)上的同位素源(1)相对应。样品架(4)由底板(9)和圆筒形罩体(10)构成,环形分布的同位素源架(8)位于底板(9)上,底板(9)的中心孔(6)内有探测器(5),屏蔽环(11)位于罩体(10)的锥面上面,罩体(10)的锥面有孔与屏蔽环上的孔(7)对应,底板(9)上有环形槽或固定环(12)与罩体同轴心间隙配合。底板(9)有固定环(12)与罩体同轴心间隙配合,固定环(12)的壁上均布有若干定位螺钉(13),其圆头与圆筒形罩体(10)外壁的圆环形槽(14)动配合。同位素源架(8)为两个;为圆柱体,呈180°对称分布并固定于底板(9)上,其上部装有同位素源(1),底板(9)的中心孔(6)内有探测器(5)、屏蔽环(11)位于罩体(10)的内锥面上,屏蔽环和罩体的内锥面上有三个孔(7)分别位于同心圆上的0°,90°,180°的位置。本技术结构简单,实现了不同能量段的元素用不同的同位素源来激发,用同一个探测器来测量,减少了系统误差,降低了仪器的成本,本技术换源方便,操作简单,使仪器的测量效果更好。附图说明图1为已有的的单源探测器结构示意图。图2为已有的双源探测器结构示意图。图3为本技术的结构结构图。图4为图3的俯视图。图5为本技术的结构示意图之二。图6为图5的俯视图。图7为本技术的结构示意图之三。图8为图7的俯视图。具体实施方式本技术的样品架4由圆底板9和圆筒形罩体10构成,圆柱形同位素源架8和固定圆环12固定于底板9上。罩体10下端有环形槽14与固定圆环12壁上均布的四个螺钉13动配合。罩体10上部有喇叭形屏蔽环11,其中心有孔6与固定于底板9中心孔的探测器5相对,其锥面上有三个孔7可与同位素源架8上的与轴心成180°角的两个同样素源1相对,三个孔7的圆心在轴心为圆心的圆上,两孔之间的圆心角为90°。同位素源转换机构如图3、图5、图7所示,在探测器中一次装入所需要的两种同位素源(A源和B源),当两个源同时使用时如图3所示。这时A、B源同时激发样品。当需要A源激发,B源关闭时,通过电机或手动旋转样品架4至图5位置。A源对准孔7,B源被屏蔽环11挡住,这时使用A源来激发某一能量段的元素,这个源对所测能量段的激发效果最佳,分析精度也最好。当需要测量另一能量段的元素(即需要B源激发,A源关闭)时,通过电机或手动将样品架4转动至图7位置,这时源B对准孔7,源A被屏蔽环11挡住,不对样品产生干涉,即能满足使用要求。权利要求1.同位素源转换装置,包括位于样品环(3)内的样品(2),样品环(3)位于样品架(4)上,同位素源(1)和探测器(5)位于样品架(4)下面,其特征在于样品架(4)有可绕轴心旋转的框体,轴心有孔(6)贯穿屏蔽环中心,孔(6)的下面装有探测器(5),屏蔽环(11)的锥面上有至少一个孔(7)与框体内的至少一个同位素源架(8)上的同位素源(1)相对应。2.根据权利要求1所述的同位素源转换装置,其特征在于样品架(4)由底板(9)和圆筒形罩体(10)构成,环形分布的同位素源架(8)位于底板(9)上,底板(9)的中心孔(6)内有探测器(5),屏蔽环(11)位于罩体(10)的锥面上面,罩体(10)的锥面有孔与屏蔽环上的孔(7)对应,底板(9)上有环形槽或固定环(12)与罩体同轴心间隙配合。3.根据权利要求2所述的同位素源转换装置,其特征在于底板(9)有固定环(12)与罩体同轴心间隙配合,固定环(12)的壁上均布有若干定位螺钉(13),其圆头与圆筒形罩体(10)外壁的圆环形槽(14)动配合。4.根据权利要求2所述的同位素源转换装置,其特征在于同位素源架(8)为两个;为圆柱体,呈180°对称分布并固定于底板(9)上,其上部装有同位素源(1),底板(9)的中心孔(6)内有探测器(5)、屏蔽环(11)位于罩体(10)的内锥面上,屏蔽环和罩体的内锥面上有三个孔(7)分别位于同心圆上的0°,90°,180°的位置。专利摘要本技术为同位素源转换装置,包括位于样品环(3)内的样品(2),样品环(3)位于样品架(4)上,同位素源(1)和探测器(5)位于样品架(4)下面,样品架(4)有可绕轴心旋转的框体,轴心有孔(6)贯穿屏蔽环中心,孔(6)的下面装有探测器(5),屏蔽环(11)的锥面上有至少一个孔(7)与框体内的至少一个同位素源架(8)上的同位素源(1)相对应。文档编号G01N23/22GK2618164SQ03234390公开日2004年5月26日 申请日期2003年5月16日 优先权日2003年5月16日专利技术者任家富, 陶永莉, 高岚 申请人:成都理工大学, 四川先达核测控设备有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
同位素源转换装置,包括位于样品环(3)内的样品(2),样品环(3)位于样品架(4)上,同位素源(1)和探测器(5)位于样品架(4)下面,其特征在于样品架(4)有可绕轴心旋转的框体,轴心有孔(6)贯穿屏蔽环中心,孔(6)的下面装有探测器(5),屏蔽环(11)的锥面上有至少一个孔(7)与框体内的至少一个同位素源架(8)上的同位素源(1)相对应。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:任家富,陶永莉,高岚,
申请(专利权)人:成都理工大学,四川先达核测控设备有限公司,
类型:实用新型
国别省市:90[中国|成都]
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