激光粒度分析仪制造技术

本实用新型专利技术涉及一种利用激光散射测量微粒直径的激光粒度分析仪。本实用新型专利技术主要克服现有的激光粒度分析仪不能全部收集散射光、测量精度低、准确性差的不足。本实用新型专利技术包括激光器、平面反射镜、扩束镜、傅立叶变换透镜、光电池阵列、光学导轨、样品窗、循环泵和电磁阀，样品窗置于傅立叶变化换透镜与光电池阵列之间的汇聚光路上，样品窗固定不动，所述的样品窗的一侧布置有１０－３０个辅助探测器。具有测量精度高、准确性好、样品窗不需要移动的优点。（*该技术在2015年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于光学仪器的
，特别涉及一种利用激光散射测量微粒直径的激光粒度分析仪。
技术介绍
许多工业生产领域的半成品或成品通常呈现粉未状，粉未的颗粒粒径大小是生产控制中最基本的参数，粒度及其分布的测试是生产与一项重要的测试项目。目前常用的测试方法有沉降法。筛析法、显微镜法和激光粒度分析法，其中后者测试速度快、重复性好、应用范围广，并可以实现快速测试，正逐渐得到广泛的应用。但目前国内外的激光粒度仪，如公开号为2195091的中国专利，公开号为2581978的中国专利，测量时，需要根据不同粒径的样品，样品窗左右移动，才能进行准确的测量。但由于样品移动的不确定性，造成同样的样品在不同的位置，其测量的粒径不同，造成测量精度低。另一方面，由于激光照射微粒后，散射光向四周发散，但目前的激光粒度仪，一般在样品的后侧放置探测器，对四周散射的光，无法进行测量，造成测量的误差。
技术实现思路
本技术为了克服以上技术的不足，提供了一种可以对四周的散射光进行全部收集、测量精度高、准确性好的激光粒度分析仪。本技术是通过以下措施来实现的本技术的激光粒度分析仪，包括激光器、平面反射镜、扩束镜、傅立叶变换透镜、光电池阵列、光学导轨、样品窗、循环泵和电磁阀，样品窗置于傅立叶变化换透镜与光电池阵列之间的汇聚光路上，其特别之处在于样品窗固定不动，所述的样品窗的一侧布置有10-30个辅助探测器。本技术的激光粒度分析仪，所述的辅助探测器最好分布在样品窗0-165℃范围内。所述的辅助探测器从0至165℃最好为渐稀式分布。在样品窗的一侧分布有10-30个辅助探测器，当激光照射样品后，散射光的一部分由光电池阵列进行探测，其余的散射光由分布在样品周围的辅助探测器进行探测，可以全部探测到散射光，因此，测量精度高。在测量不同粒径的样品时，不需要样品移动，通过辅助探测器的探测，完全可以将不同粒径进行准确测量。现有的激光粒度分析仪一般只能测量0.1-300微米的微粒，而且测量结果误差大，具有多重性。本技术的激光粒度分析仪可以测量0.01-1000微米的微粒。本技术的有益效果是，具有测量精度高、准确性好、样品窗不需要移动。附图说明附图为本技术的结构示意图图中，1激光器，2、3平面反射镜，4扩束镜，5傅立叶变换透镜，6样品窗，7光电池阵列，8辅助探测器。具体实施方式以下结合附图和具体实施方式对本技术作具体的说明。本技术的激光粒度分析仪的结构如图所示，包括激光器(1)、平面反射镜(2、3)、扩束镜(4)、傅立叶变换透镜(5)、光电池阵列(7)、光学导轨、固定不动的样品窗(6)、循环泵和电磁阀，样品窗置于傅立叶变化换透镜与光电池阵列之间的汇聚光路上，样品窗的一侧布置有20个辅助探测器(8)，所述的辅助探测器分布在样品窗0-165℃范围内，从0至165℃为渐稀式分布。傅立叶变换透镜焦距为70-180毫米，孔径为30-70毫米，光电池阵列为硅材料光电二极管，光电池中心孔为50-150微米，光电池最内环为100-200微米，由内向外逐渐变大，宽度不规则环间距为20-1000微米，环数为30-50之间。辅助探测器大角度探测器，为单晶硅材料，转换效率在＞5％，暗电流为＜60mA，开路电压＞400mV，短路电流＞2mA，输出电流＞5mA，辅助探测器的形状为圆环形，圆形，正方形，矩形，或其他特殊形状，探测器由两根引出电极。本技术由于辅助探测器数目的增多和角度的合理选择从而能够提高分辨率，普通的仪器虽然也有大角度辅助探测器，但是因为辅助探测器往往只有很少的几个，所以分辨率无法有根本的提高。本技术的操作步骤如下倒入纯净介质，测量基准；停止循环，向样品窗中加入样品、开超声分散、开循环，让样品流经样品窗，系统会自动计算颗粒的粒度分布。本技术的数据处理采用数字处理器，数据高速送到计算机处理，最后得出粒度分布。权利要求1.一种激光粒度分析仪，包括激光器(1)、平面反射镜(2、3)、扩束镜(4)、傅立叶变换透镜(5)、光电池阵列(7)、光学导轨、样品窗(6)、循环泵和电磁阀，样品窗置于傅立叶变化换透镜与光电池阵列之间的汇聚光路上，其特征在于样品窗固定不动，所述的样品窗的一侧布置有10-30个辅助探测器(8)。2.根据权利要求1所述的激光粒度分析仪，其特征在于所述的辅助探测器分布在样品窗0-165℃范围内。3.根据权利要求2所述的激光粒度分析仪，其特征在于所述的辅助探测器从0至165℃为渐稀式分布。专利摘要本技术涉及一种利用激光散射测量微粒直径的激光粒度分析仪。本技术主要克服现有的激光粒度分析仪不能全部收集散射光、测量精度低、准确性差的不足。本技术包括激光器、平面反射镜、扩束镜、傅立叶变换透镜、光电池阵列、光学导轨、样品窗、循环泵和电磁阀，样品窗置于傅立叶变化换透镜与光电池阵列之间的汇聚光路上，样品窗固定不动，所述的样品窗的一侧布置有10－30个辅助探测器。具有测量精度高、准确性好、样品窗不需要移动的优点。文档编号G01N21/51GK2824017SQ20052008701公开日2006年10月4日 申请日期2005年9月9日 优先权日2005年9月9日专利技术者刘文宾 申请人:刘文宾本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种激光粒度分析仪，包括激光器（１）、平面反射镜（２、３）、扩束镜（４）、傅立叶变换透镜（５）、光电池阵列（７）、光学导轨、样品窗（６）、循环泵和电磁阀，样品窗置于傅立叶变化换透镜与光电池阵列之间的汇聚光路上，其特征在于：样品窗固定不动，所述的样品窗的一侧布置有１０－３０个辅助探测器（８）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘文宾，
申请(专利权)人：刘文宾，
类型：实用新型
国别省市：88[中国|济南]