异常检测电路及具有异常检测电路的电子装置制造方法及图纸

技术编号:26168586 阅读:169 留言:0更新日期:2020-10-31 13:27
一种异常检测电路连接于处理器和控制模块之间。异常检测电路用于同时检测处理器的插入状态以及供电状态,并根据处理器的插入状态以及供电状态的不同输出不同的侦测电压。在处理器的插入状态异常时,异常检测电路输出第一侦测电压;在处理器的供电状态异常时,异常检测电路输出第二侦测电压;在处理器的插入状态和供电状态均异常时,异常检测电路输出第三侦测电压;在处理器的插入状态和供电状态均正常时,异常检测电路输出第四侦测电压。本发明专利技术还提供了一种具有异常检测电路的电子装置。

Abnormal detection circuit and electronic device with abnormal detection circuit

【技术实现步骤摘要】
异常检测电路及具有异常检测电路的电子装置
本专利技术涉及一种异常检测电路及具有异常检测电路的电子装置。
技术介绍
现有技术中,电子设备,例如笔记本电脑,通常包括主板以及设置于主板上的多个电子器件。主板上通常设置有电源模块、中央控制器(Centerprocessingunit,CPU)、平台控制器中心(platformcontrollerhub,PCH)、内存、硬盘、光驱、读卡器以及接口结构等电子元件。电源模块包括电源管理模块。电源管理模块用于控制电源模块提供不同的电压给不同的电子元件,例如CPU和PCH。在电子设备运行时,无法针对CPU的插拔情况以及供电情况进行检测,则可能导致电子设备无法运行,更严重的可导致主板烧毁或损坏。
技术实现思路
有鉴于此,有必要提供一种检测处理器异常的异常检测电路。还有必要提供一种检测处理器异常的电子装置。一种异常检测电路,连接于处理器和控制模块之间。异常检测电路用于同时检测处理器的插入状态以及供电状态,并根据处理器的插入状态以及供电状态的不同输出不同的侦测电压。在处理器的插入状态异常时,异常检测电路输出第一侦测电压;在处理器的供电状态异常时,异常检测电路输出第二侦测电压;在处理器的插入状态和供电状态均异常时,异常检测电路输出第三侦测电压;在处理器的插入状态和供电状态均正常时,异常检测电路输出第四侦测电压。一种电子装置,包括处理器、异常检测电路以及控制模块。异常检测电路连接于处理器和控制模块之间。异常检测电路用于同时检测处理器的插入状态以及供电状态,并根据处理器的插入状态以及供电状态的不同输出不同的侦测电压。在处理器的插入状态异常时,异常检测电路输出第一侦测电压;在处理器的供电状态异常时,异常检测电路输出第二侦测电压;在处理器的插入状态和供电状态均异常时,异常检测电路输出第三侦测电压;在处理器的插入状态和供电状态均正常时,异常检测电路输出第四侦测电压。上述异常检测电路以及电子装置,同步侦测处理器的插入状态以及供电状态,并根据接收到的侦测电压产生提示信息,以使得用户可快速定位处理器的异常原因,提高异常处理速度,进而确保电子装置正常工作。附图说明图1为本专利技术较佳实施方式之异常检测电路应用于电子装置的模块示意图。图2为图1中所述异常检测电路的电路图。主要元件符号说明电子装置100处理器1电源模块2异常检测电路4第一开关电路41第二开关电路43输出电路45控制模块6插入侦测引脚P1供电侦测引脚P2异常侦测引脚P3电压源V1第一分压电阻R1第二分压电阻R1第一电容C1第一侦测晶体管M1第一开关晶体管M2第二侦测晶体管Q1第二开关晶体管Q2第三分压电阻R3第四分压电阻R4第五分压电阻R5第六分压电阻R6第七分压电阻R7第二电容C2如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案,下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本专利技术保护的范围。在本专利技术的实施方式的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接或可以相互通讯;可以是直接连接,也可以通过中间没接间接连接,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况立即上述术语在本专利技术中的具体含义。本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”和“第三”等是用于区别不同对象,而非用于描述特定顺序。此外,术语“包括”以及它们任何变形,意图在于覆盖不排他的包含。下面结合附图对本专利技术电子装置的具体实施方式进行说明。请一并参阅图1及图2,其为本专利技术一种实施方式的电子装置100的模块示意图和电路图。所述电子装置100包括可插拔设置于主板(图未示)上的处理器1、电源模块2、异常检测电路4以及控制模块6。所述处理器1可插拔的固定于所述主板上的指定插槽或插座内。所述电子装置100可以为笔记本电脑、手机、智能穿戴设备以及便携式电脑等电子装置,但并不限于此。在其他实施方式中,所述电子装置100还可以包括显示屏、存储器、连接器以及光驱等其他电子元件,但并不局限于此。所述处理器1可以包括一个或者多个微处理器、数字处理器。所述处理器1可调用存储器中存储的程序代码以执行相关的功能。所述处理器1又称中央处理器(CPU,CentralProcessingUnit),是一块超大规模的集成电路,是运算核心(Core)和控制核心(ControlUnit)。所述处理器1用于执行多个计算机指令以实现指定功能。所述处理器1具有插入侦测引脚P1。所述处理器1通过所述插入侦测引脚P1与所述异常检测电路4电性连接。所述插入侦测引脚P1用于提供状态侦测信号给所述异常检测电路4。在所述处理器1被插入且工作正常时,所述插入侦测引脚P1输出处于低电平的所述状态侦测信号;在所述处理器1被移除或所述处理器1损坏时,所述插入侦测引脚P1输出处于高电平的所述状态侦测信号。在本实施方式中,所述第一检测信号可以为0V,所述第二检测信号可以为0.5-0.6V范围内的任意值。在其他实施方式中,所述第一检测信号也可以为低于0V的值。所述电源模块2与所述处理器1和所述异常检测电路4电性连接。所述电源模块2用于提供工作电压给所述处理器1。在本实施方式中,所述工作点电压为12V。所述处理器1进一步还包括供电侦测引脚P2。所述处理器1通过所述供电侦测引脚P2与所述异常检测电路4电性连接。所述供电侦测引脚P2用于输出供电侦测信号给所述异常检测电路4。在所述处理器1接收到所述电源模块2提供的所述工作电压时,所述供电侦测引脚P2输出处于高电平的所述供电侦测信号;在所述处理器1未接收到所述电源模块2提供的所述工作电压时,所述供电侦测引脚P2输出处于低电平的所述供电侦测信号。所述异常检测电路4与所述处理器1和所述控制模块6电性连接。所述异常检测电路4用于同时检测所述处理器1的插入状态、工作状态以及供电状态,并产生侦测电压给所述控制模块6。在检测到所述处理器1的插入状态异常时,所述异常检测电路4输出第一侦测电压;在侦测到所述处理器1的供电状态异常时,所述异常检测电路4输出第二侦测电压;在侦测到所述处理器1的插入状态和供电状态同时异常时,所述异常检测电路4输出第三侦测电压;在所述处理器1的插入状态和供电状态正常时,所述异常检测电路4输出第四侦测电压;在侦测到所述处理本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种异常检测电路,连接于处理器和控制模块之间,其特征在于:所述异常检测电路用于同时检测所述处理器的插入状态以及供电状态,并根据所述处理器的插入状态以及供电状态的不同输出不同的侦测电压;在所述处理器的插入状态异常时,所述异常检测电路输出第一侦测电压;在所述处理器的供电状态异常时,所述异常检测电路输出第二侦测电压;在所述处理器的插入状态和供电状态均异常时,所述异常检测电路输出第三侦测电压;在所述处理器的插入状态和供电状态均正常时,所述异常检测电路输出第四侦测电压。/n

【技术特征摘要】
1.一种异常检测电路,连接于处理器和控制模块之间,其特征在于:所述异常检测电路用于同时检测所述处理器的插入状态以及供电状态,并根据所述处理器的插入状态以及供电状态的不同输出不同的侦测电压;在所述处理器的插入状态异常时,所述异常检测电路输出第一侦测电压;在所述处理器的供电状态异常时,所述异常检测电路输出第二侦测电压;在所述处理器的插入状态和供电状态均异常时,所述异常检测电路输出第三侦测电压;在所述处理器的插入状态和供电状态均正常时,所述异常检测电路输出第四侦测电压。


2.如权利要求1所述的异常检测电路,其特征在于:所述异常检测电路进一步地可检测所述处理器的运行状态;在所述处理器的运行状态异常时,所述异常检测电路输出第五侦测电压。


3.如权利要求1所述的异常检测电路,其特征在于:所述异常检测电路包括第一开关电路、第二开关电路以及输出电路;所述第一开关电路和所述第二开关电路连接于所述处理器和所述输出电路之间;所述第一开关电路用于在所述处理器的插入状态正常时输出第一检测信号;所述第二开关电路用于在所述处理器的供电状态正常时输出第二检测信号;所述输出电路用于根据所述第一检测信号和所述第二检测信号输出不同的侦测电压。


4.如权利要求3所述的异常检测电路,其特征在于:所述第一开关电路包括电压源、第一侦测晶体管、第一开关晶体管、第一分压电阻、第二分压电阻及第三分压电阻;所述第一分压电阻和所述第二分压电阻串联连接于所述处理器的供电侦测引脚和地之间;所述第一侦测晶体管的栅极电性连接于所述第一分压电阻和所述第二分压电阻之间,所述第一侦测晶体管的源极接地,所述第一侦测晶体管的漏极通过第三分...

【专利技术属性】
技术研发人员:彭章龙
申请(专利权)人:鸿富锦精密工业武汉有限公司鸿海精密工业股份有限公司
类型:发明
国别省市:湖北;42

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