一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法技术

本发明专利技术公开了一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，该检测方法包括以下步骤：分别准备一个黑体源，一个高精度红外热像仪，将热像仪与黑体源通电足够长时间，确保设备运行稳定；将黑体源温度值调节至预设温度值T，直至黑体源温度稳定；将高精度红外热像仪与黑体源之间距离设置为两米，红外热像仪正对黑体源，确保黑体源位于热成像画面正中间；记录当前时间，每隔一段时间后截取当前时间红外热像图，记录并保存对应时间和红外热像图；结合记录数据与热像图，分析黑体源均匀性与一致性，本发明专利技术能够分析黑体源辐射面源整体的均匀性和稳定性，可以有效提升检测效率，确保黑体源的均匀性与稳定性。

【技术实现步骤摘要】
一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法
本专利技术涉及红外辐射面源
，具体来说，涉及一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法。
技术介绍
黑体源具有体积小、精度高、安装方便等优点，因此黑体源的需求量和种类也不断增加。在黑体源的实际生产和使用过程中，多数厂家和使用者是利用红外辐射温度计对辐射面源的中心以及四周的部分区域温度进行单点测量，从而判断整个辐射面源的均匀性和稳定性是否正常。一方面，由于黑体源在使用过程中可以调节不同的温度点，因此，如果每个温度点都用红外辐射温度计进行单点测试，则会降低检测效率。另一方面，随着市场上黑体源的使用场景不断增加，黑体源的辐射面源的面积也逐渐增加，红外辐射温度计的测试方法无法覆盖黑体源辐射面源的所有区域，从而无法保证黑体源辐射面源的温度均匀性和稳定性。因此，如何确保和检测黑体源表面辐射源温度的均匀性尤为重要。因此现有技术中：(1)利用辐射温度计对黑体源辐射面源进行单点测试，无法快速判断辐射面源的均匀性和稳定性情况；(2)利用辐射温度计对黑体源辐射面源进行单点测试，测试点无法覆盖整个辐射面源，无法确保辐射面源的均匀性和稳定性；(3)利用辐射温度计对黑体源辐射面源进行单点测试，无法分析辐射面源温度值的稳定情况。针对相关技术中的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
针对相关技术中的问题，本专利技术提出一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，以克服现有相关技术所存在的上述技术问题。为此，本专利技术的技术方案是这样实现的：根据本专利技术的一个方面，提供了一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法。具体的：本专利技术一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，该检测方法包括：环境搭建、均匀性分析、稳定性分析，其中所述环境搭建，包括如下步骤：a)分别准备一个黑体源，一个高精度红外热像仪，一台终端设备，将热像仪与黑体源通电足够长时间，确保运行稳定；b)将黑体源温度值调节并稳定至预设温度值T；c)将高精度红外热像仪与黑体源之间距离设置为N米，红外热像仪正对黑体源以确保黑体源位于热成像画面正中间；所述均匀性分析，包括如下步骤：d)获取当前时间红外热像图，记录并保存当前时间红外热像图和像素对应温度值；e)取当前时间像素对应温度值与预设温度值T差的绝对值以计算温度差值，将获得的温度差值与预设差值A比较以断黑体源均匀性是否达到要求；所述稳定性分析，包括如下步骤：f)每隔一段时间后截取当前时间红外热像图，记录并保存当前时间红外热像图和像素对应温度值；g)任意选择两个截取的时间，分别计算两个时间对应的温度差值；每一个温度差值均为当前时间像素对应温度值与预设温度值T差的绝对值；h)再计算步骤g)中两个温度差值的差的绝对值，并将计算结果与预设差值B比较以判断黑体源稳定性是否达到要求。作为一种优选，记录并保存当前时间像素对应温度值的方法：确定红外热像图中黑体辐射面源区域的位置，对应每个像素点获取黑体辐射面源区域内的所有温度值Txiyi，其中，xi表示i时间水平像素点的温度值，yi表示i时间垂直像素点的温度值；x的范围是0～639，y的范围是0～479。作为一种优选，步骤e)中温度差值A为ΔTxiyi，其计算公式为ΔTxiyi＝|Txiyi-T|；当ΔTxiyi的值小于或等于预设值，则均匀性符合要求，否则不符合要求。作为一种优选，步骤g)中两个温度差值的差的绝对值为ΔTi,j，其计算公式为ΔTi,j＝|ΔTxiyi-ΔTxjyj|；当ΔTi,j的值小于或等于预设值B，则稳定性符合要求，否则不符合；ΔTi,j中的i、j表示选择的i时间和j时间，其中，xj表示j时间水平像素点的温度值，yj表示j时间垂直像素点的温度值。作为一种优选，所述ΔTxiyi预设值A为0.2。作为一种优选，所述ΔTi,j预设值B为0.1。作为一种优选，所述高精度红外热像仪的分辨率为640*480。作为一种优选，所述N取值范围为2-10。作为一种优选，预设温度值T范围为35℃-60℃。作为一种优选，步骤f)中间隔时间为5-20min。作为一种优选，所述红外热像仪和所述黑体源的供电处均设置有与外界电源连接的充电接口。作为一种优选，所述红外热像仪和所述黑体源上均设置有与所述充电接口电性连接的串联电池，所述串联电池的额定电压为48V。作为一种优选，所述黑体源为圆柱体形结构。作为一种优选，所述黑体源采用重结晶碳化硅块。本专利技术的有益效果为：利用高精度红外热像仪测试合适范围内部的黑体源温度值，通过热像仪获得红外热像图，从而获取热成像全屏温度图，确定目标对象黑体源辐射面源区域的位置，并按每个像素点获取目标对象区域内的所有温度值，然后针对同一时刻不同像素点的温度差值情况来分析黑体源辐射面源整体的均匀性，同时针对不同时刻每个像素点温度差值情况来分析黑体源辐射面源整体稳定性。这样，可以用同一套系统来同时检测黑体源的均匀性和稳定性，从而有效提升检测效率，确保黑体源的均匀性与稳定性符合要求。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术整体流程框图。图2是根据本专利技术实施例的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法的流程图。具体实施方式为进一步说明各实施例，本专利技术提供有附图1、附图2，这些附图为本专利技术揭露内容的一部分，其主要用以说明实施例，并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理，配合参考这些内容，本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本专利技术的优点，图中的组件并未按比例绘制，而类似的组件符号通常用来表示类似的组件。为了方便理解本专利技术的上述技术方案，以下结合附图对本专利技术的上述方案的流程进行详细说明，具体如下：实施例一：提供了一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法。如图2所示，在实际生产过程中，该黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，包括以下步骤；步骤S101，分别准备一个黑体源，一个高精度红外热像仪，将热像仪与黑体源通电足够长时间，确保设备运行稳定；为方便分析，可将高精度红外热像仪接入智能终端(如笔记本电脑等)，这样可对高精度红外热像仪获取的数据进行分析；当然，也可将红外热像仪的数据上传至服务器进行分析，不再赘述。步骤S103，将黑体源温度值调节至预设温度值T，直至黑体源温度稳定；此一温度值T一般为黑体源中心温度，其周边区域温度可能与该温度值T存在一定波动，这也就是本专利技术实施例要检测的均匀性与稳定性情况。步骤S105，将高精度红外热像仪与黑体源之间距离设本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，其特征在于，该检测方法包括：环境搭建、均匀性分析、稳定性分析，其中所述环境搭建，包括如下步骤：/na)分别准备一个黑体源，一个高精度红外热像仪,将热像仪与黑体源通电足够长时间，确保运行稳定；/nb)将黑体源温度值调节并稳定至预设温度值T；/nc)将高精度红外热像仪与黑体源之间距离设置为N米，红外热像仪正对黑体源以确保黑体源位于热成像画面正中间；/n所述均匀性分析，包括如下步骤：/nd)获取当前时间红外热像图，记录并保存当前时间红外热像图和像素对应温度值；/ne)取当前时间像素对应温度值与预设温度值T差的绝对值以获得温度差值，将获得的温度差值与预设差值A比较以判断黑体源均匀性是否达到要求；/n所述稳定性分析，包括如下步骤：/nf)每隔一段时间后截取当前时间红外热像图，记录并保存当前时间红外热像图和像素对应温度值；/ng)任意选择两个截取的时间，分别计算两个时间对应的温度差值；每一个温度差值均为当前时间像素对应温度值与预设温度值T差的绝对值；/nh)再计算步骤g)中两个温度差值的差的绝对值，并将计算结果与预设差值B比较以判断黑体源稳定性是否达到要求。/n...

【技术特征摘要】
1.一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，其特征在于，该检测方法包括：环境搭建、均匀性分析、稳定性分析，其中所述环境搭建，包括如下步骤：
a)分别准备一个黑体源，一个高精度红外热像仪,将热像仪与黑体源通电足够长时间，确保运行稳定；
b)将黑体源温度值调节并稳定至预设温度值T；
c)将高精度红外热像仪与黑体源之间距离设置为N米，红外热像仪正对黑体源以确保黑体源位于热成像画面正中间；
所述均匀性分析，包括如下步骤：
d)获取当前时间红外热像图，记录并保存当前时间红外热像图和像素对应温度值；
e)取当前时间像素对应温度值与预设温度值T差的绝对值以获得温度差值，将获得的温度差值与预设差值A比较以判断黑体源均匀性是否达到要求；
所述稳定性分析，包括如下步骤：
f)每隔一段时间后截取当前时间红外热像图，记录并保存当前时间红外热像图和像素对应温度值；
g)任意选择两个截取的时间，分别计算两个时间对应的温度差值；每一个温度差值均为当前时间像素对应温度值与预设温度值T差的绝对值；
h)再计算步骤g)中两个温度差值的差的绝对值，并将计算结果与预设差值B比较以判断黑体源稳定性是否达到要求。


2.根据权利要求1所述的一种黑体源辐射面源温度均匀性和稳定性的检测方法，其特征在于，记录并保存当前时间像素对应温度值的方法：确定红外热像图中黑体辐射面源区域的位置，对应每个像素点获取黑体辐射面源区域内的所有温度值Txiyi，其中，xi表示i时间水平像素点的温度值，yi表示i时间垂直像素点的温度值；x的范围是0-Xmax，y的范围是0-Ymax。


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【专利技术属性】
技术研发人员：吴永东，张利平，
申请(专利权)人：浙江双视红外科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33