投影系统照度测量方法、设备及可读存储介质技术方案

本申请公开了一种投影系统照度测量方法、设备及可读存储介质，所述投影系统照度测量方法包括：获取待测量投影屏的几何参数，并基于所述几何参数，确定初始测量点坐标，进而基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度。本申请解决了投影系统照度测量效率低和精度低的技术问题。

Illumination measurement method, equipment and readable storage medium of projection system

【技术实现步骤摘要】
投影系统照度测量方法、设备及可读存储介质
本申请涉及投影仪
，尤其涉及一种投影系统照度测量方法、设备及可读存储介质。
技术介绍
随着投影仪技术的不断发展，投影仪的应用也越来越广泛，目前，在测量投影画面的照度时，由于投影画面比较大，通常需要人工手持照度计在投影画面的多个测量点进行照度测量，其中，多个测量点的位置有人工预先贴好的位置标签进行确定，然而，由于不同投影比的投影画面的测量点的位置不同，不同投影比的投影画面每次测量时均需要重新调整位置标签，进而导致投影系统的测量点坐标测量效率较低，且由于位置标签由人工进行确定，位置标签调整时容易产生误差，而位置标签调整通常比较频繁，进而导致投影系统的测量点坐标测量精度较低，进而导致投影系统的照度测量效率低和精度低。
技术实现思路
本申请的主要目的在于提供一种投影系统照度测量方法、设备及可读存储介质，旨在解决现有技术中投影系统照度测量效率低和精度低的技术问题。为实现上述目的，本申请提供一种投影系统照度测量方法，所述投影系统照度测量方法应用于投影系统照度测量设备，所述投影系统照度测量方法包括：获取待测量投影屏的几何参数，并基于所述几何参数，确定初始测量点坐标；基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度。可选地，所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度的步骤包括：基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标；基于所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标，对所述待测量投影屏进行照度测量，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度。可选地，所述预设激光灯阵列包括第一激光灯和第二激光灯，所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标的步骤包括：基于所述初始测量点坐标，分别确定所述第一激光灯的第一初始位置和所述第二激光灯的第二初始位置；基于预设滑动步长，控制所述第一激光灯由所述第一初始位置进行横向滑动和所述第二激光灯由所述第二初始位置进行纵向滑动，以获取滑动后的所述第一激光灯和滑动后的所述第二激光灯共同对应的各第一激光交点；分别将各所述第一激光交点的坐标作为各所述目标测量点坐标，其中，一所述第一激光交点的坐标对应一所述目标测量点坐标。可选地，所述预设激光灯阵列包括横向激光灯组和纵向激光灯组，所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标的步骤包括：基于所述初始测量点坐标和预设激光灯位置间距，确定所述横向激光灯组对应的各横向激光灯位置和所述纵向激光灯组对应的各纵向激光灯位置；基于各所述横向激光灯位置和各所述纵向激光灯位置，分别布置所述横向激光灯组和所述纵向激光灯组，以获取布置后的所述横向激光灯组和布置后的所述纵向激光灯组共同对应的各第二激光交点；分别将各所述第二激光交点的坐标作为各所述目标测量点坐标，其中，一所述第二激光交点的坐标对应一所述目标测量点坐标。可选地，所述基于所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标，对所述待测量投影屏进行照度测量，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度的步骤包括：分别在所述初始测量点坐标处和各所述目标测量点坐标处进行照度测量，获得所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标共同对应的测量照度数据；对所述测量照度数据中各元素进行求平均，获得所述目标测量照度。可选地，所述几何参数包括投影屏宽和投影屏长，所述基于所述几何参数，确定初始测量点坐标的步骤包括：基于所述投影屏宽和所述投影屏长，计算所述待测量投影屏对应的几何中心坐标；将所述几何中心坐标作为所述初始测量点坐标。可选地，所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度的步骤还包括：测量所述初始测量点坐标处的照度，获得第一照度；基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，依次测量所述初始测量点坐标对应的各待测量点位置的照度，获得各第二照度；对所述第一照度和各所述第二照度求平均，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度。可选地，各所述待测量点位置包括第一待测量点位置和第二待测量点位置，各所述第二照度包括第一测量位置照度和第二测量位置照度，所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，依次测量所述初始测量点坐标对应的各待测量点位置的照度，获得各第二照度的步骤包括：基于所述初始测量点坐标和预设位置间隔，通过所述预设激光灯阵列，定位所述第一待测量点位置；测量所述第一待测量点位置的照度，获得所述第一测量位置照度；基于所述初始测量点坐标和所述预设位置间隔，通过所述预设激光灯阵列，定位所述第二待测量点位置；测量所述第二待测量点位置的照度，获得所述第二测量位置照度。本申请还提供一种投影系统照度测量装置，所述投影系统照度测量装置为虚拟装置，且所述投影系统照度测量装置应用于投影系统照度测量设备，所述投影系统照度测量装置包括：确定模块，用于获取待测量投影屏的几何参数，并基于所述几何参数，确定初始测量点坐标；测量模块，用于基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度。可选地，所述测量模块包括：坐标测量单元，用于基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标；照度测量单元，用于基于所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标，对所述待测量投影屏进行照度测量，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度。可选地，所述坐标测量单元包括：第一确定子单元，用于基于所述初始测量点坐标，分别确定所述第一激光灯的第一初始位置和所述第二激光灯的第二初始位置；第一获取子单元，用于基于预设滑动步长，控制所述第一激光灯由所述第一初始位置进行横向滑动和所述第二激光灯由所述第二初始位置进行纵向滑动，以获取滑动后的所述第一激光灯和滑动后的所述第二激光灯共同对应的各第一激光交点；第二确定子单元，用于分别将各所述第一激光交点的坐标作为各所述目标测量点坐标，其中，一所述第一激光交点的坐标对应一所述目标测量点坐标。可选地，所述坐标测量单元还包括：第三确定子单元，用于基于所述初始测量点坐标和预设激光灯位置间距，确定所述横向激光灯组对应的各横向激光灯位置和所述纵向激光灯组对应的各纵向激光灯位置；第二获取子单元，用于基于各所述横向激光灯位置和各所述纵向激光灯位置，分别布置所述横向激光灯组和所述纵向激光灯组，以获取布置后的所述横向激光灯组和布置后的所述纵向激光灯组共同对应的各第二激光交点；第四确定子单元，用于分别将各所述第二激光交点的坐标作为各所述目标测量点坐标，其中，一所述第二激光交点的坐标对应一所述目标测量点坐标。可选地，所述照度测量单本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种投影系统照度测量方法，其特征在于，所述投影系统照度测量方法包括：/n获取待测量投影屏的几何参数，并基于所述几何参数，确定初始测量点坐标；/n基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度。/n

【技术特征摘要】
1.一种投影系统照度测量方法，其特征在于，所述投影系统照度测量方法包括：
获取待测量投影屏的几何参数，并基于所述几何参数，确定初始测量点坐标；
基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度。


2.如权利要求1所述投影系统照度测量方法，其特征在于，所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度的步骤包括：
基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标；
基于所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标，对所述待测量投影屏进行照度测量，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度。


3.如权利要求2所述投影系统照度测量方法，其特征在于，所述预设激光灯阵列包括第一激光灯和第二激光灯，
所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标的步骤包括：
基于所述初始测量点坐标，分别确定所述第一激光灯的第一初始位置和所述第二激光灯的第二初始位置；
基于预设滑动步长，控制所述第一激光灯由所述第一初始位置进行横向滑动和所述第二激光灯由所述第二初始位置进行纵向滑动，以获取滑动后的所述第一激光灯和滑动后的所述第二激光灯共同对应的各第一激光交点；
分别将各所述第一激光交点的坐标作为各所述目标测量点坐标，其中，一所述第一激光交点的坐标对应一所述目标测量点坐标。


4.如权利要求2所述投影系统照度测量方法，其特征在于，所述预设激光灯阵列包括横向激光灯组和纵向激光灯组，
所述基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标，测量所述初始测量点坐标对应的各目标测量点坐标的步骤包括：
基于所述初始测量点坐标和预设激光灯位置间距，确定所述横向激光灯组对应的各横向激光灯位置和所述纵向激光灯组对应的各纵向激光灯位置；
基于各所述横向激光灯位置和各所述纵向激光灯位置，分别布置所述横向激光灯组和所述纵向激光灯组，以获取布置后的所述横向激光灯组和布置后的所述纵向激光灯组共同对应的各第二激光交点；
分别将各所述第二激光交点的坐标作为各所述目标测量点坐标，其中，一所述第二激光交点的坐标对应一所述目标测量点坐标。


5.如权利要求2所述投影系统照度测量方法，其特征在于，所述基于所述初始测量点坐标和各所述目标测量点坐标，对所述待测量投影屏进行照度测量，获得所述待测量投影屏对应的目标测量照度的步骤包括：<...

【专利技术属性】
技术研发人员：李敬，徐振宾，宋青林，
申请(专利权)人：歌尔股份有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37