一种铁素体含量的无损检测探头制造技术

一种铁素体含量的无损检测探头，其特征在于该探头由永磁体、外套导磁体外壳构成磁路，外壳端部凸出并留有缝隙，其间设置磁敏元件。本实用新型专利技术不象现行涡流法那样影响因素多，因而，信号处理简单易行，调节方便，经过标定，能达到较高的精度。（*该技术在2007年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本技术涉及检测技术，特别提供了一种对铁素体含量进行无损检测的探头。在冶金及焊接领域，为保证某些产品质量，要测量和控制材质的铁素体含量。目前的测定方法大致可分为破坏性和非破坏性两种。利用磁天平能比较精确地测定铁素体含量，但它需要取样，是一种破坏性检测方法，适用范围受到限制。无损检测方法包括计算法，图表法和涡流法。计算法是根据有关各合金元素的含量把当量铁素体含量计算出来。由于合金的铁素体含量不仅取决于有关各合金元素含量，还于零件的热处理条件有密切关系，因而，计算结果并不可靠。图表法使用的图表是根据计算法的结果绘制的。这两种方法均以已知有关各合金元素含量为前提，结果同样不准确。涡流法是长期以来普遍使用的方法，它具有携带方便，性能可靠等优点。但是，涡流法受材料的电导率，磁导率，提高效应，激励信号频率等多种因素的影响，因而信号处理复杂，检测仪器调节旋钮多，操作步骤繁琐。本技术的目的在于提供一种铁素体含量的无损检测探头，其原理简单，影响因素少，因而信号易于处理，仪器调节简单。本技术提供了一种铁素体含量的无损检测探头，其特征在于该探头由永磁体(1)、外套导磁体外壳(2)构成磁路，外壳(2)前端部凸出并留有缝隙，其间设置磁敏元件(3)。永磁体(1)立式放置，磁敏元件(3)卧式放置，或永磁体(1)卧式放置，磁敏元件(3)立式放置。众所周知，处于静磁场中的铁磁性材料会被强烈磁化，从而引起铁磁性材料附近的磁场畸变。待测件的铁磁性材料含量越大，磁化强度越大，引起的磁场畸变也越大，因而，磁场畸变程度间接反映了铁素体含量，如附图说明图1所示。如果用一磁敏元件，测出磁场强度增量与铁素体含量增量的关系，并用现有铁素体含量测定仪或已知铁素体含量的试样标定仪表，就可以制造一台铁素体含量测定仪。本技术正是基于这一基本原理设计的，显然，本技术不象现行涡流法那样影响因素多，因而，信号处理简单易行，调节方便，经过标定，能达到较高的精度。以下结合附图通过实施例详述本技术。附图1磁场畸变与铁素体含量的关系曲线。附图2立式永磁体探头结构原理图。附图3卧式永磁体探头结构原理图。实施例如图2所示，铁素体含量的无损检测探头，由永磁体(1)立式放置，与导磁体外壳(2)构成磁路，外壳(2)端部凸出并留有缝隙，其间卧式放置设置磁敏元件(3)。实施例如图3所示，与实施例1不同的是永磁体(1)卧式放置，磁敏元件(3)立式放置。权利要求1.一种铁素体含量的无损检测探头，其特征在于该探头由永磁体(1)、外套导磁体外壳(2)构成磁路，外壳(2)端部凸出并留有缝隙，其间设置磁敏元件(3)。2.按照权利要求1所述铁素体含量的无损检测探头，其特征在于永磁体(1)立式放置，磁敏元件(3)卧式放置。3.按照权利要求1所述铁素体含量的无损检测探头，其特征在于永磁体(1)卧式放置，磁敏元件(3)立式放置。专利摘要一种铁素体含量的无损检测探头,其特征在于该探头由永磁体、外套导磁体外壳构成磁路,外壳端部凸出并留有缝隙,其间设置磁敏元件。本技术不象现行涡流法那样影响因素多,因而,信号处理简单易行,调节方便,经过标定,能达到较高的精度。文档编号G01N27/72GK2296008SQ97219128公开日1998年10月28日 申请日期1997年7月3日 优先权日1997年7月3日专利技术者王会民, 董瑞琪, 李依依 申请人:中国科学院金属研究所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种铁素体含量的无损检测探头，其特征在于该探头由永磁体（１）、外套导磁体外壳（２）构成磁路，外壳（２）端部凸出并留有缝隙，其间设置磁敏元件（３）。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：王会民，董瑞琪，李依依，
申请(专利权)人：中国科学院金属研究所，
类型：实用新型
国别省市：89[中国|沈阳]