一种震动开关的检测电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种震动开关的检测电路，包括MCU，所述MCU的频率输出端PWM1用于连接负载，所述MCU的电平输出引脚Vc串接电阻R6后连接震动开关SW2，其中电阻R6与震动开关SW2相连的一端接入MCU的检测键key2中，所述检测键key2与震动开关SW2之间桥接有电容C1。通过上述方式，本实用新型专利技术通过检测震动开关SW2的工作状态，即可判断产品的震动情况，从而简化了检测产品震动状态的结构和降低了成本，使用更为方便。

【技术实现步骤摘要】
一种震动开关的检测电路
本技术涉及电子电路
，尤其是一种震动开关的检测电路。
技术介绍
震动开关是一种感应震动力大小将感应结果传递到电路装置，并使电路启动工作的电子开关。震动开关以为拥有灵活且灵敏的触发性，成为许多电子产品中常应用到的电子元件。震动开关设置在电子产品中，可检测及反馈电子产品的震动情况或者通过震动开关用于启动电子产品的工作。因此，震动开关的动作关系到采用震动开关控制的电子产品的质量的好坏。而现如今在对产品的震动状态进行检测时，多通过震动测试仪感应并测试产品的动作。这样就使得检测的成本升高，需要将震动测试仪与产品连接，使用起来较为烦琐。因此，设计一种便于检测电子产品震动状态的电路，实为必要。
技术实现思路
本技术为克服上述现有技术所述的缺陷(不足)，提供一种震动开关的检测电路。为解决上述技术问题，本技术采用的一个技术方案是：提供一种震动开关的检测电路，包括MCU，所述MCU的频率输出端PWM1用于连接负载，所述MCU的电平输出引脚Vc串接电阻R6后连接震动开关SW2，其中电阻R6与震动开关SW2相连的一端接入MCU的检测键key2中，所述检测键key2与震动开关SW2之间桥接有电容C1。本技术由于采用上述技术方案，震动开关动作过程中，使得桥接的电容C2被反复充放电，此时与电容C2连接的检测键key2感应到电容C2的电量变化后其电平产生变化，MCU通过检测键key2的电平的高低变化可检测到震动开关是否动作，从而判断产品的震动状态。优选地，所述检测电路还包括直流电源BT，所述直流电源BT通过电阻R4和电容C4整流后接入MCU的电源输入端VDD。优选地，所述MCU的启动键key1连接电阻R3后连接轻触开关SW1。轻触开关SW1可集成在MCU中用于开启和关闭电子产品。优选地，所述MCU的频率输出端PWM1连接有由电阻R1、电阻R2和高频率开关Q2组成的开关管。优选地，所述检测电路的输出回路中连接有发光二极管LED1和电阻R5。本技术采用上述技术方案，其优点在于：通过MCU中的检测键key2的电平高低的变化辅助MCU判断震动开关是否被震动即震动开关是否接通或断开，可以准确的获取检测信息，减少了外部检测设备，使用更为方便；通过手动开关可启动和关闭电子设备的工作，操作简单，功能集中，便于用户使用。附图说明图1是本技术实施例的电路结构示意图。具体实施方式下面结合附图和实施方式对本技术进行详细说明。本实施例中，MCU为微控制单元，高频率开关Q2包括但不限于MOS管；本检测电路可内置与电子产品中，通过检测震动开关的状态进而进一步检测产品的震动状态，MCU可作为产品的控制单元用于启停产品。参照图1所示，一种震动开关的检测电路，包括MCU，所述MCU的频率输出端PWM1用于连接负载，MCU的电平输出引脚Vc串接电阻R6后连接震动开关SW2，其中电阻R6与震动开关SW2相连的一端接入MCU的检测键key2中，检测键key2与震动开关SW2之间桥接有电容C1。本实施例中，检测电路还包括直流电源BT，直流电源BT通过电阻R4和电容C4整流后接入MCU的电源输入端VDD。MCU的启动键key1连接电阻R3后连接轻触开关SW1。其中，MCU的启动键key1设置为高电平，当轻触开关SW1按下后，通过电阻R3，使得启动键key1变成低电平。通过检测key1的高低电平即可判断轻触开关SW1是否被按下。在实际应用时，可设置若轻触开关SW1被持续按下超过1s时，开启产品，同样的，在产品处于工作状态下，持续按下轻触开关SW1超过1s时，关闭产品。进一步地，MCU的频率输出端PWM1连接有由电阻R1、电阻R2和高频率开关Q2组成的开关管。检测电路的输出回路中连接有发光二极管LED1和电阻R5，具体地，发光二极管LED1与电阻R5串联，在MCU的频率输出端PWM1输出频率至高频率开关Q2中启动产品工作时，发光二极管LED1可用于显示产品的工作状态。下面结合本技术的原理作进一步说明：产品开启后，MCU将电平输出引脚Vc设置为高电平输出，在震动开关SW2未动作时，电平输出引脚Vc通过电阻R6连接检测键key2后，将检测键key2变为高电平，同时电容C1通过充电后其与检测键key2连接的一端变为高电平；在产品受到震动触发时，震动开关SW2受到触发，震动开关SW2内部导通，电容C1两端电压放电，使得其储存的电量变为0，此时检测键key2的电平降低，从高电平变为低电平。当产品未经震动触发时，在震动开关SW2内部不导通，形成开路，此时电平输出引脚Vc对电容C1继续充电，使得电容C1储存电量，检测键key2的电平升高变为高电平。应理解的是，震动开关在震动时为谐振运动，电容C1到的电量未充满时震动开关内部再次瞬间短路，使得电容C1再次放电至0，经过多次重复，最终震动开关会保持静止状态，为开路状态。在该过程中，检测键key2随电容C1电量的变化，在高低电平之间反复变化，因此MUC可通过检测键key2的电平变化信号判断震动开关是否被震动。当产品待机时，电平输出引脚Vc和检测键key2设置为低电平输出，启动键key1设置为高电平以及作为检测轻触开关SW1动作，MCU进入睡眠状态，仅通过启动键key1触发环形MCU。当产品进入工作模式，负载需要关闭的情况下，电平输出引脚Vc设置为高电平输出，检测键key2设置为高电平，此时MCU仍为睡眠状态，可通过启动键key1和检测键key2的触发环形MCU。本实施例中，长按轻触开关SW1启动工作状态时，可直接将产品设置为工作状态，当产品为关闭负载的模式下，长按轻触开关SW1均为开启产品的工作状态；当产品为负载工作的模式下，长按轻触开关SW1为关闭负载，同时关闭工作模式。以上所述仅为本专利技术的实施方式，并非因此限制本专利技术的专利范围，凡是利用本专利技术说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的
，均同理包括在本专利技术的专利保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种震动开关的检测电路，包括MCU，所述MCU的频率输出端PWM1用于连接负载，其特征在于：所述MCU的电平输出引脚Vc串接电阻R6后连接震动开关SW2，其中电阻R6与震动开关SW2相连的一端接入MCU的检测键key2中，所述检测键key2与震动开关SW2之间桥接有电容C1。/n

【技术特征摘要】
1.一种震动开关的检测电路，包括MCU，所述MCU的频率输出端PWM1用于连接负载，其特征在于：所述MCU的电平输出引脚Vc串接电阻R6后连接震动开关SW2，其中电阻R6与震动开关SW2相连的一端接入MCU的检测键key2中，所述检测键key2与震动开关SW2之间桥接有电容C1。


2.根据权利要求1所述的震动开关的检测电路，其特征在于：所述检测电路还包括直流电源BT，所述直流电源BT通过电阻R4和电容C4整流后接入MCU的电源输入...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄植富，林铁英，
申请(专利权)人：广东金莱特智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44