一种X射线衍射样品架制造技术

本实用新型专利技术提供了一种Ｘ射线衍射样品架，该Ｘ射线衍射样品架包括样品台，该样品台上设置有样品孔，其中，所述Ｘ射线衍射样品架还包括支撑件，在使用时，所述支撑件位于所述样品孔内。按照本实用新型专利技术提供的Ｘ射线衍射样品架，在传统样品台的基础上，添加了支撑件。当需要对薄片状样品进行测试时，可以将该薄片状样品放置在支撑件上，这样，薄片状样品和支撑件一起组成块状体，完全适用于传统样品台对待测样品的要求，从而实现便于对薄片状样品进行测试的本实用新型专利技术的目的。而且不需对传统的样品台进行任何改造。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种用于x射线衍射仪的样品架。
技术介绍
x射线衍射仪用于利用衍射原理精确测定物质的晶体结构及应力，从而精确进行物相分析、定性分析、定量分析的重要仪器，广泛应用于冶金、石 油、化工、航空航天、材料生产等领域。用于X射线衍射仪的传统样品架主要有两种， 一种是用于测试块状样品 的样品台l，如图1和图2所示，该样品台1具有样品孔2，在样品孔2的 中心位置标记为3，样品台1还具有楔部4，当检测块状样品时，需要将块 状样品置入样品孔2中，并使该块状样品位于中心位置3处，然后通过楔部 4将带有块状样品的样品台1放置到X射线衍射仪，从而进行检测；另一种 是用于测试粉末状样品的槽状样品架(未显示)。对于样品台l而言，主要用于测试块状样品，而且仅能对一定尺寸范围 内的块状样品进行测试，例如，样品台l要求待测的块状样品的厚度必须大 于样品台l自身的厚度，只有这样才有可能将块状样品固定；对槽状样品架 而言，主要用于测试粉末状样品，不适用于测试块状样品和薄片状样品。因 而，传统的X射线衍射样品架均不适用于测试微米级甚至更薄的薄片状样P叩o
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有的X射线衍射样品架不适用于测试薄 片状样品的缺陷，而提供一种适用于测试薄片状样品的X射线衍射样品架。本技术提供了一种x射线衍射样品架，该X射线衍射样品架包括样品台，该样品台上设置有样品孔，其中，所述x射线衍射样品架还包括支撑件，在使用时，所述支撑件位于所述样品孔内。按照本技术提供的x射线衍射样品架，在传统样品台的基础上，添加了支撑件。当需要对薄片状样品进行测试时，可以将该薄片状样品设置在 支撑件上，这样，薄片状样品和支撑件一起在整体形状上形成块状体，完全 适用于传统样品架对待测样品的要求，从而实现便于对薄片状样品进行测试 的本技术的目的，而且不需对传统的样品台进行任何改造。附图说明图1为传统的样品台的立体示意图； 图2为图1中样品台的平面示意图；图3为本技术提供的X射线衍射样品架的立体示意图； 图4为图3中支撑件的立体示意图。具体实施方式下面参考附图，对本技术的具体实施方式进行详细的描述。 如图3所示，本技术提供的X射线衍射样品架包括样品台1，该样 品台1上设置有样品孔2，其中，所述X射线衍射样品架还包括支撑件5， 在使用时，所述支撑件5位于所述样品孔2内。在图3中的支撑件5上，还 放置有待测样品6，显然，待测样品6与支撑件5—起在整体形状上组成了 适用于样品台1进行测试的块状体，从而可以利用传统的样品台1方便地对 待测样品6进行测试。样品台1为用于检测块状样品的传统样品架，可以由铝合金或玻璃等材 料制成。样品台1的样品孔2用于放置待测样品，而且通常需要将待测样品 放置在样品孔2的中心位置3，以确保待测样品位于X射线入射光束的中心部分，从而可以准确地对待测样品进行测试。当使用时，支撑件5位于样品孔2内，样品孔2可以为多种形状，如长 方形、正方形、或圆形等，同时，支撑件5也可以为多种形状，如长方形、 圆形等，只要可以满足将支撑件5放置在样品孔2内即可。在优选情况下， 所述支撑件5与样品孔2为相同的形状，只是支撑件5的尺寸小于样品孔2 的尺寸，以便可以将支撑件5放置在样品孔2内。例如，样品孔2和支撑件 5均可以为正方形，且样品孔2的尺寸稍大于支撑件5的尺寸。由于放置在支撑件5上的待测样品6与支撑件5 —起在整体外形上形成 块状体，从而使样品台l适用于对待测样品6进行测试，而且不需要对传统 的样品台1进行任何结构上的改造。如图4所示，支撑件5包括固定件7和由该固定件7固定支撑的载样板 8，从而基本形成块状的立体形状。支撑件5可以由多种材料制成，如玻璃、塑料等。在优选情况下，所述 载样板8由质量轻且表面光滑的材料制成，如单晶片，如果待测样品6为纳 米级厚度，为了减少背底干扰，可以使用硅单晶片制造载样板8;固定件7 由质量轻且粗糙度大的材料制成，如粗糙载波片、泡沫、塑料或木片等。包括固定件7和载样板8的支撑件5可以一体制成，或将分开的固定件 7与载样板8结合而成。例如，支撑件5可以通过传统的制作玻璃的工艺制 成一体的部件，也可以分别先制造两个板状的固定件7以及载样板8，然后 通过粘结剂将固定件7和载样板8粘接起来。在优选情况下，所述固定件7为分别与载样板8固定连接的至少两个板， 优选为两个，且各个板所在的平面垂直于载样板8所在的平面。通过这样的 结构，板可以更加平稳、可靠地支撑载样板8，从而确保载样板8处于水平 稳定的工作状态。根据支撑件5的一个实施例，载样板8由一块载波片制成，固定件7由 两块载波片制成。先将三块载波片裁剪为预定的规格；然后将用作固定件7的两块载波片固定在用作载样板8的载波片的两个边缘处(该两个边缘可以 是相对的，也可以是相邻的，能确保将用作固定件7的两块载波片有效地起 到支撑作用即可)，同时使固定件7与载样板8处于垂直关系。为了确保将待测样品6放置在载样板8上的正确位置上，在优选情况下， 在载样板8上设置有标记3'，用于指示载样板8的中心位置，即确保待测样 品6位于X射线入射光束的中心部分，如图3和图4所示。当带有待测样品 6的支撑件5放置在样品台1的样品孔2中时，为了进一步确保待测样品6 位于X射线入射光束的中心部分，优选地，标记3'与样品孔2的中心位置3 重合，从而可以准确地对待测样品6进行测试。待测样品6通常为薄片状样品，可以具有微米级厚度。如果待测样品6 较薄(如厚度为纳米级)，为了准确地对该样品进行测试，优选地，待测样 品6固定(如通过胶水)在由单晶硅制成的衬垫上，该衬垫的形状与待测阳 平6的形状完全相同，以形成适宜的厚度，如微米级厚度。为了将待测样品 6固定于载样板8上，优选地，在载样板8上设置有粘结部件，如双面胶或 胶水等。当将待测样品6贴合于载样板8的中心位置3'上时，需要保持待测 样品6的平整，避免气泡或褶皱的产生，从而有利于对待测样品6进行准确当将待测样品6贴合于支撑件5的载样板8上后，需要将支撑件5与样 品台1固定在一起，从而再通过楔部4将与支撑件5固定连接的样品台1安 装到X射线衍射仪上，对待测样品6进行测试。支撑件5与样品台1之间通过固定元件固定连接，该固定元件具有多种 形式，如可以通过橡胶泥将支撑件5粘结在样品台1的样品孔2的周壁上； 还可以在支撑件5与样品孔2的周壁之间通过楔形插入件实现支撑件5的固 定。只要实现样品附件5与样品台1的固定连接，同时确保二者之间的相对 位置关系即可。为了能够对待测样品6进行精确测试，位于样品孔2内的支撑件5与样品台1之间需要满足以下的相对位置关系支撑件5的顶表面低于样品台1的顶表面，二者之间的距离恰为待测样品6的厚度。也就是说，待测样品6 的顶表面与样品台1的顶表面处于同一平面内。支撑件5与样品台1之间的 位置关系可以在通过支撑件5与样品台1的装配过程中得以实现，为本领域 普通技术人员所公知。根据本技术的另一实施方式，在支撑件5的载样板8上设置有样品 槽(未显示)，这样，由该支撑件5组成的X射线衍射样品架还可以用于粉 末的测试。该样品槽可以通过多种方法形成，如化学腐蚀或机械加工等。优 选情况下，所述样品槽的中心位置与载样本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种Ｘ射线衍射样品架，该Ｘ射线衍射样品架包括样品台（１），该样品台（１）上设置有样品孔（２），其特征在于，所述Ｘ射线衍射样品架还包括支撑件（５），在使用时，所述支撑件（５）位于所述样品孔（２）内。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈靖华，李成章，江林，
申请(专利权)人：比亚迪股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94[中国|深圳]