一种分光光度计的开机自检系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种分光光度计的开机自检系统，包括安装在分光光度计内的主控模块、光源模块、光束接收模块、参照光强存储模块以及报警模块，光源模块发射光束，光束接收模块接收光源发出的光束，并将接收的光束的光强发送至主控模块，主控模块向光源模块发送启动信号，并接收光束接收模块接收到的光强信号，参照光强存储模块向主控模块中提供存储的参照光强数据，主控模块将接收到的光强数据以及参照光强存储模块提供的参照光强数据进行对比，得出光度室的清空信号，报警模块接收主控模块发出的报警信息。本实用新型专利技术能够在分光光度计开机时进行自检，判断光度室是否清空，防止误检。

【技术实现步骤摘要】
一种分光光度计的开机自检系统
本技术涉及一种分光光度计，特别涉及一种分光光度计的开机自检系统。
技术介绍
分光光度计是最常用的光学仪器之一，根据通过比色皿位置的光束数量可分为：单光束分光光度计、双光束分光光度计；根据单色光的波长范围可分为：可见分光光度计、紫外可见分光光度计、紫外可见近红外分光光度计。分光光度计在开机时需要自检，检测部分关键零部件是否能正常工作，保证仪器工作在最佳状态，同时开机自检也是为了以自检结果作为本次开机测量的基准，这就要求自检时要求清空光度室，不能有挡光物，以保证自检时的测量精度，因此，一般在分光光度计的操作手册中对此都会有要求。但是，清空光度室通常都是人工操作的，在清空光度室时，操作人员难免会有失误，忘记清空光度室，导致错误的自检结果，影响测量精度。
技术实现思路
为了解决上述现有技术中的不足，本技术的目的在于提供一种分光光度计的开机自检系统，该系统能够在分光光度计开机时进行自检，判断光度室是否清空，防止误检。本技术解决其技术问题所采用的技术方案为：一种分光光度计的开机自检系统，包括安装在分光光度计内的主控模块、光源模块、光束接收模块、参照光强存储模块以及报警模块，所述主控模块分别通过I/O接口与光源模块、光束接收模块、参照光强存储模块以及报警模块连接；其中：所述光源模块设于分光光度计的光度室的一侧，所述光源发射光束，并使光源发出的光束穿过所述光度室；所述光束接收模块设于分光光度计的光度室的另一侧，所述光束接收模块接收光源发出的光束，并将接收的光束的光强发送至所述主控模块；所述主控模块设于分光光度计的MCU主控板中，所述主控模块向所述光源模块发送启动信号，并接收所述光束接收模块接收到的光强信号；所述参照光强存储模块设于分光光度计的MCU主控板中，所述参照光强存储模块向所述主控模块中提供存储的参照光强数据，所述主控模块将接收到的光强数据以及参照光强存储模块提供的参照光强数据进行对比，得出所述光度室的清空信号；所述报警模块设于分光光度计的MCU主控板中，所述报警模块接收所述主控模块发出的报警信息，并且所述报警模块通过RJ45接口与一个显示装置连接。可选的，所述分光光度计还连接有上位机，所述显示装置是上位机的显示屏。可选的，所述光源模块的光源为单光源。可选的，所述光源模块的光源为双光源。采用上述技术方案，本技术能使分光光度计在自检时自动检测光度室是否清空，防止误操作，消除因光度室没有清空而进行自检所带来的不利影响。附图说明图1是本技术的系统框图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关技术，而非对该技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与技术相关的部分。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。如图1所示，本技术公开了一种分光光度计的开机自检系统，包括安装在分光光度计内的主控模块1、光源模块2、光束接收模块3、参照光强存储模块4以及报警模块5。其中，主控模块1分别是通过I/O接口与光源模块2、光束接收模块3、参照光强存储模块4以及报警模块5连接的。光源模块2设于分光光度计的光度室的一侧，光源模块2在分光光度计开机自检时，发射光束，光源模块2发出的光束穿过光度室，然后被光束接收模块3接收。在此过程中，如果光度室在未清空的情况下，光束接收模块3接收到的光束的光强因被异物吸收而减弱，因此，如果以此自检结果作为测量基准时，则造成测量结果不准确的现象。因此，在本技术中，还设有参照光强存储模块4以及报警模块5，以便于对自检结果进行监控。主控模块1集成在分光光度计的MCU主控板中，例如在可见分光光度计中，可使用STM32F103C8T6作为主控板，主控模块1以及参照光强存储模块4、报警模块5则集成于该主控板中。在分光光度计开机自检时，主控模块1向光源模块2发送启动信号，光源模块2启动，并发射光束，接收光束接收模块3接收穿过光度室后的光强信号。然后，参照光强存储模块4向主控模块1中提供存储的参照光强数据，主控模块1将接收到的光强数据以及参照光强存储模块4提供的参照光强数据进行对比，从而得出光度室是否清空，如果未清空，则主控模块1发出报警信号，报警模块5接收主控模块1发出的报警信号后，将报警信息上传至显示装置6中，在本技术中，报警模块5是通过RJ45接口与显示装置6进行连接的。在本技术中，分光光度计还连接有上位机7，而上述的显示装置6则是上位机7的显示屏，当光度室未清空时，报警信息显示在上位机7的显示屏上。下面以安徽皖仪科技股份有限公司的单光源紫外可见分光光度计和双光源紫外可见分光光度计为例，分别对本技术进行具体说明。实施例1在本实施例1中，光源模块2的光源为单光源。在初始自检前，对分光光度计进行校准。分光光度计的校准条件是：1、光源波长(nm)：560；2、光谱带宽(nm)：1.0；3、测量方式：能量；4、光电倍增管负高压(V)：310；在校准时，首先清空光度室，然后启动分光光度计，主控模块1将光强I1记录在参照光强存储模块4内。在开机自检时，主控模块1获取自检时的光强I1自，同时，将|I1自-I1|/I1与设定的常数K1进行对比，如果|I1自-I1|/I1＞K1，则表明光度室未清空，否则表明光度室已清空。主控模块1将清空状态下的I1自作为下一次开机自检的参照值，并将I1自存储在参照光强存储模块4内。需要指出的时，分光光度计在开机自检时的条件与校准条件是保持一致的。实施例2实施例2与实施例1的不同之处在于，实施例2采用光源分光光度计，其余条件与实施例1相同。在校准时，主控模块1分别将两个光源的光强I2、I3记录在参照光强存储模块4内。在开机自检时，主控模块1获取自检时的光强I2自、I3自，同时，将|I2自-I2|/I2与设定的常数K2进行对比，将|I3自-I3|/I3与设定的常数K3进行对比，如果|I2自-I2|/I2＞K2，或者|I3自-I3|/I3＞K3，则表明光度室未清空，否则表明光度室已清空。主控模块1将清空状态下的I2自、I3自作为下一次开机自检的参照值，并将I2自、I3自存储在参照光强存储模块4内。在实施例1和实施例2中，K1、K2、K3都是稍大于0的正常数，如果太大，可能将光度室没有清空误判为光度室已经清空，如果太小，可能将光度室已经清空误判为光度室没有清空。因此，K1、K2、K3的数值范围可在0.02～0.05内获取。以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的技术范围，并不限于上述技术特本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种分光光度计的开机自检系统，其特征在于，包括安装在分光光度计内的主控模块、光源模块、光束接收模块、参照光强存储模块以及报警模块，所述主控模块分别通过I/O接口与光源模块、光束接收模块、参照光强存储模块以及报警模块连接；其中：/n所述光源模块设于分光光度计的光度室的一侧，所述光源发射光束，并使光源发出的光束穿过所述光度室；/n所述光束接收模块设于分光光度计的光度室的另一侧，所述光束接收模块接收光源发出的光束，并将接收的光束的光强发送至所述主控模块；/n所述主控模块设于分光光度计的MCU主控板中，所述主控模块向所述光源模块发送启动信号，并接收所述光束接收模块接收到的光强信号；/n所述参照光强存储模块设于分光光度计的MCU主控板中，所述参照光强存储模块向所述主控模块中提供存储的参照光强数据，所述主控模块将接收到的光强数据以及参照光强存储模块提供的参照光强数据进行对比，得出所述光度室的清空信号；/n所述报警模块设于分光光度计的MCU主控板中，所述报警模块接收所述主控模块发出的报警信息，并且所述报警模块通过RJ45接口与一个显示装置连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种分光光度计的开机自检系统，其特征在于，包括安装在分光光度计内的主控模块、光源模块、光束接收模块、参照光强存储模块以及报警模块，所述主控模块分别通过I/O接口与光源模块、光束接收模块、参照光强存储模块以及报警模块连接；其中：
所述光源模块设于分光光度计的光度室的一侧，所述光源发射光束，并使光源发出的光束穿过所述光度室；
所述光束接收模块设于分光光度计的光度室的另一侧，所述光束接收模块接收光源发出的光束，并将接收的光束的光强发送至所述主控模块；
所述主控模块设于分光光度计的MCU主控板中，所述主控模块向所述光源模块发送启动信号，并接收所述光束接收模块接收到的光强信号；
所述参照光强存储模块设于分光光度计的MCU主控板中，所述参照光强存...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙杰，
申请(专利权)人：安徽皖仪科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽;34