测量非均匀气固两相流颗粒浓度同时得到速度的方法及探针技术

本发明专利技术涉及一种测量非均匀气固两相流中颗粒浓度和速度的方法及探针。其要点是通过限制测量颗粒浓度的光纤探针端部的测量体积来实现颗粒浓度测量的局域化和线性化，通过同时测量瞬时颗粒浓度和动压强，得到瞬时颗粒真实速度，然后对其进行浓度加权平均得到颗粒平均速度。本发明专利技术提出的测量方法和探针集浓度和速度测量于一体，结构简单，标定方便，解决了浓度测量中的标定和速度测量中的平均值问题，可用于石油、化工、冶金、能源、环境和材料等领域。（*该技术在2012年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于气固两相流测量技术，涉及一种可同时测量不均匀气固两相流中颗粒浓度和速度的方法及探针，该探针对颗粒浓度具有线性响应，可测量瞬时颗粒浓度和瞬时颗粒真实及表观速度，通过对瞬时颗粒真实速度进行浓度加权平均或对表观速度直接进行时间平均而得到颗粒速度平均值，可应用于石油、化工、冶金、能源、环境和材料等领域。气固两相流是物质转换、能源利用和环境保护过程中的重要操作方式之一，其特征为既存在局部不均匀性(表现为颗粒和气流分别聚集形成稀、密两相)，又存在整体不均匀性(表现为径向和轴向颗粒浓度的不均匀分布)。这种高度不均匀的流动结构对反应器性能影响很大，因此对于科研和工业过程控制来讲，测量这种非均匀结构是一项极为重要的工作，其中颗粒浓度和速度的测量是这项工作的两个重要内容。然而，由于稀密两相结构的存在，测量工作极其复杂，尽管许多研究者从事这一工作，目前仍然找不到测量颗粒速度和浓度的合理方法(R.A.Williams，C.G.Xie，F.J.Dickin，S.J.R.SimonsandM.S.Beck，PowderTechnology，Vol.66，p.203(1991))，其原因在于以下两方面的困难1.均匀的气固两相流是不存在的(尤其是颗粒浓度较高时)，而现有探针又都是非线性的，所以颗粒浓度测量的标定极为困难。2.在系统某一局部，稀、密两相随时间交替变化，因此，首先要测量瞬时颗粒速度，再求得其时间平均值，而瞬时速度的连续直接测量十分困难，其时间平均值的求取又存在很多异议。目前，已有的颗粒速度测量方法主要有互相关法、激光多普勒法、动量法和取样法等。尽管互相关法可以近似得到某些瞬时的颗粒速度(主要是聚团速度)，但很难连续测量颗粒速度的瞬时变化，激光多普勒法适用于很稀的流动，目前的动量法和取样法也只得到时间平均信号。已有的颗粒浓度测量方法主要有光纤法、X射线、γ射线、取样等，除光纤法可以进行局部和瞬时测量外，其它均为时间平均和整体测量，而现有的光纤探针大都由于有无限的测量体积(Krohn.，D.A.，SPIEVol.718，FiberOpticandLaserSensorsIV，p.122(1986))而很难实现局域化和线性化，难以标定。前人在颗粒浓度测量中注重于探针的标定，未提出过通过设计探针结构来解决标定的方案。在颗粒速度测量中，前人应用直接时间平均法或由平均浓度和平均动压强求取平均速度。分析表明，这两种方法实际上是不可行的。本专利技术的目的在于提出一种可以同时测量瞬时颗粒浓度和速度的方法及探针，使浓度测量线性化和局域化，克服目前颗粒速度测量中直接进行真实速度时间平均带来的误差，由瞬时浓度和瞬时速度通过加权时间平均得到正确的颗粒平均速度。为了实现这一目的，本专利技术通过缩小颗粒浓度测量中探针端部的测量体积，使探针仅仅接受这一有限体积内颗粒的反射光，满足局域化的要求。利用气固系统两相结构的特点，通过局域化来实现测量的线性化。本专利技术的另一个关键是同时测量某一局部的瞬时颗粒浓度和动压强，从而得到瞬时颗粒真实速度或表观速度，然后对真实速度进行浓度加权平均得到颗粒平均速度。 附图说明图1为本专利技术的复合探针结构图，其中(1)入射光纤;(2)反射光纤;(3)光纤交叉角度定位头;(4)固定物;(5)光学玻璃;(6)外套;(7)受力元件1;(8)受力元件2图2为测量颗粒浓度的光纤探针原理示意图，其中(1)入射光;(2)光导纤维;(3)光学玻璃;(4)测量体积;(5)反射物;(6)反射光图3为本专利技术与常规光纤探针(两光纤平行排列，即β＝0)对颗粒浓度响应的比较，其中(1)常规光纤探针对颗粒浓度的响应;(2)本专利技术探针对颗粒浓度的响应图4为本专利技术的复合探针对颗粒浓度和动压强的响应信号，其中(1)探针对颗粒浓度的瞬时响应;(2)探针对颗粒动压强的瞬时响应图5为由图4信号转化的瞬时颗粒真实速度和表观速度，其中(1)瞬时颗粒表观速度;(2)瞬时颗粒真实速度图6为用本专利技术的复合探针测量的垂直气固两相流系统中颗粒浓度和颗粒平均速度的径向分布，其中(1)颗粒真实速度直接时间平均所得径向分布;(2)颗粒真实速度浓度加权时间平均所得径向分布以下结合附图进一步说明本专利技术的原理和实施例。颗粒流体两相流由稀密两相组成，颗粒浓度和速度变化的波形如图4、图5所示。对于浓度测量，其时间平均值为 其中， 平均空隙率;∈C浓相空隙率;∈f稀相空隙率;f浓相体积百分比。对应的信号的时间平均值Y＝Ycf+Yf(1-f)其中，Y光纤探针输出信号平均值;Yc光纤探针对应浓相的输出信号;Yf光纤探针对应稀相的输出信号。在探针具有局域化的条件下，探针对稀相(气泡)的响应为零，即∈f＝1.0时，Yf＝0.，可以推得 对于气固两相流而言，∈c可以看作常量，因此Yc也为常量。由此可见，如果探针具有很好的局域性，平均浓度与信号输出的时间平均值应成线性关系。为此，本专利技术通过致力于设计很小的测量体积来实现探针的局域性，从而解决了标定问题，实现线性测量。如前所述，在颗粒速度测量中，一般的方法是将如图5所示真实颗粒速度进行时间平均，即 其中，V′d:颗粒真实速度直接时间平均值;T积分时间;υd(t)瞬时颗粒真实速度。然而，这样的平均是不合理的，因为在不均匀系统中，尽管稀相中颗粒速度很高，但颗粒数目却很少，因而对平均速度的贡献并不大，而密相中颗粒速度低，但由于其数目很多，对平均速度的贡献很大，以上直接时间平均值未考虑稀密相中的这一差别，因而是不正确的。正确的平均值应考虑浓度的加权。然而，颗粒流率可以直接时间平均，即GS=1TOTgs( t ) d t =ρPTOTυd( t ) ( 1 - ∈ ( t ) ) d t]]>其中，Gs平均颗粒流率;gs(t)瞬时颗粒流率;ρp颗粒密度;∈(t)瞬时空隙率。因此，正确的真实颗粒速度平均值为 其中，Vd颗粒真实速度浓度加权时间平均值。很显然，Vd≠V′d也就是说，正确的颗粒速度的平均值应考虑浓度的加权。为此，本专利技术通过同时测量瞬时颗粒浓度和速度，然后进行加权平均，或将表观速度进行时间平均来测量颗粒速度的平均值。图1中探针外套(6)内用固定物(4)固定入射光纤(1)和反射光纤(2)，用光纤交叉角度定位头(3)固定入射光和反射光的交角，受力元件(7)和受力元件(8)分别固定在光纤探针前端，光学玻璃(5)固定在光纤探针外套的前端。入射光纤和反射光纤可以是单根，也可是多根组成的光纤束，传输入射光的光纤和传输反射光的光纤形成大于其捕捉角的交角。入射光和反射光的交角可以通过调整两光纤的几何角度，也可以通过任何可以改变两光纤捕捉角重叠区域大小的手段如附加光学器件来实现，测量的线性性取决于测量体积的大小;受力元件可以是任何具有一定响应频率可连续感受颗粒动压强的传感器如应力应变片、压电晶体、微型压力传感器等。由(1)和(2)为主体的光纤探针，两光纤的捕捉角的重叠区域(即测量体积)很小(见图2)，只有这一很小区域的信号可以被探针响应，所以实现了区域化测量，局域化的程度取决于测量体积的长度lmax(见图2定义)。由前述可知，局域化的探针对颗粒浓度呈线性响应，图3为本专利技术与常规光纤探针(两光纤平行排列本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种同时测量非均匀气固两相流中颗粒浓度和速度的方法。其特征是通过限制测量颗粒浓度的光纤探针端部的测量体积，实现浓度测量的局域化和线性化；和通过同时测量颗粒的瞬时浓度和动压强，然后得到瞬时颗粒真实速度，并对其进行浓度加权时间平均求取颗粒平均真实速度或对表观速度直接时间平均得到颗粒平均表观速度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李静海，钱贵华，
申请(专利权)人：中国科学院化工冶金研究所，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]