一种高速高精度探针电测机构制造技术

本发明专利技术公开一种高速高精度探针电测机构，包括送料机构，以及置于送料机构下方的接料机构、置于接料机构侧的夹持张紧机构、置于两夹持张紧机构旁的测试机构；所述接料机构接住的FPC经夹持张紧机构夹持张紧后，送料机构将夹持张紧的FPC运送至待测位给测试机构进行测试。本发明专利技术兼容范围广，FPC产品尺寸L:120～500mm，W:80～270mm范围内可以兼容测试；不需要定制治具，降低了生产检测成本；配合手动/自动机使用，能够匹配大批量生产，消除机器的假测，提高良率。

【技术实现步骤摘要】
一种高速高精度探针电测机构
本专利技术涉及FPC软板电路测试
，特别涉及一种高速高精度探针电测机构。
技术介绍
FPC：英文全拼FlexiblePrintedCircuit，其中文意思是柔性印制线路板，简称软板；FPC具有组装工时短，配线密度高，体积小，重量轻，厚度薄，弯折性能好等特点；由于密度高，焊盘较小，有一定的涨缩性，因此在进行电测时，有一定几率会造成假测(即将好的产品检测为不良的)。FPC常见用电测方式是：定制治具，用治具在机器上进行手动/自动测试，并对不良品做好标记。使用治具测量，对工人的技术要求不高，可以大量点数(几百上千点)同时进行电测，测试效率高，因此适用于大批量测试。对于多样少量的生产模式，需要定制治具，造成生产成本提高；由于FPC的涨缩特性，治具固定后不能自行移动测试位置，需要靠机构/人工确保位置精度，所以会存在治具探针不能准确接触焊盘，导致假测。
技术实现思路
针对现有技术存在的问题，本专利技术提供一种高速高精度探针电测机构。为了实现上述目的，本专利技术技术方案如下：一种高速高精度探针电测机构，包括送料机构、置于送料机构下方的接料机构、置于接料机构两侧且与送料机构滑动连接的夹持张紧机构、置于夹持张紧机构旁的测试机构；所述接料机构接住的FPC经夹持张紧机构夹持张紧后，送料机构将夹持张紧的FPC运送至待测位给测试机构进行测试。较佳地，所述测试机构包括若干两相对设置的X轴滑动机构、与若干两相对设置的X轴滑动机构滑动连接的若干两相对设置的Y轴滑动机构、以及设置在每一Y轴滑动机构上且与之滑动连接的一探针组件。较佳地，每一所述X轴滑动机构均包括一龙门底座、设置在龙门底座上的第一驱动机构与第一滑轨、与第一驱动机构输出端连接的第一丝杆、以及与第一滑轨滑动连接上第一滑块。较佳地，每一所述Y轴滑动机构均包括一滑板、设置在滑板上的第二驱动机构、与第二驱动机构输出端连接的第二丝杆、以及置于滑板上且置于第二驱动机构旁的第一导轨；所述滑板每一端均依次与第一丝杆、第一滑块连接。较佳地，每一所述探针组件均包括一连接板、设置在连接板上的第三驱动机构、与第三驱动机构输出端连接的同步带、置于同步带旁的第二导轨、置于同步带上且与第二导轨滑动连接的探针连接件、设置在探针连接件上的探针、以及置于探针旁且置于连接板上的拍照机构；所述拍照机构包括一相机、镜头、LED光源；所述镜头一端与相机连接，另一端穿过LED光源。较佳地，所述高速高精度探针电测机构还包括一工作平台，所述送料机构与接料机构置于工作平台上；所述工作平台包括一高精度大理石平台、设置在大理石平台两侧的两支撑架。较佳地，所述送料机构包括置于两支撑架上的第三导轨、置于一支撑架上且置于对应第三导轨旁的第四驱动机构、与第四驱动机构输出端连接的同步齿形带；所述接料机构包括一支撑件、设置在支撑件上的一升降机构、与升降机构输出端连接的接料板。较佳地，所述夹持张紧机构均包括两相对设置的夹持机构、设置夹持机构两侧的锁紧机构、以及贯通两夹持机构两端且与锁紧机构配合的两张紧机构；所述高速高精度探针电测机构还包括与张紧机构配合的若干锁紧机构，该锁紧机构置于夹持机构两侧。较佳地，每一所述夹持机构包括一支撑板、设置在支撑板上的若干第六驱动机构、若干上夹子、与若干上夹子配合的一下夹子、以及依次穿设若干上夹子头部的一第一自由旋转转轴；所述第六驱动机构输出端通过第一自由旋转转轴与上夹子连接。较佳地，每一所述锁紧机构均包括第七驱动机构、与第七驱动机构输出端连接的锁块、置于锁块下且与之滑动连接的第四导轨；每一所述张紧机构均包括第八驱动机构、与第八驱动机构输出端连接的齿条；所述齿条贯通支撑板且置于与之配合的锁块旁。采用本专利技术的技术方案，具有以下有益效果：本专利技术能测试不同的FPC无需定制治具，降低了生产检测成本，夹持机构夹紧FPC后，4个探针分别接触需要测试的焊盘和通路孔，从而测试在测单元的单个元件，通过探针连接到测试系统，根据需要检测短路，开路和元件值；四个探针中，上下各分布两个探针，因此可以测单面板，也可以测双面板；本技术能精细节距，不受FPC网格限制，测试灵活，速度极快，兼容范围广；与手动/自动电侧机配合，能够匹配大批量生产，消除机器的假测，提高良率可以提高电测良率，减少浪费。附图说明图1为本专利技术结构示意图；图2为本专利技术测试机构示意图一；图3为本专利技术测试机构示意图二；图4为本专利技术探针组件示意图；图5为本专利技术送料机构结构示意图；图6为本专利技术接料机构与夹持张紧机构结构示意图；图7为本专利技术锁紧机构结构示意图。具体实施方式以下结合附图和具体实施例，对本专利技术进一步说明。参照图1至图7，本专利技术提供一种高速高精度探针电测机构，其特征在于，包括送料机构2、置于送料机构2下方的接料机构1、置于接料机构1两侧且与送料机构2滑动连接的夹持张紧机构3，置于夹持张紧机构3旁的测试机构；所述接料机构1接住的FPC经夹持张紧机构3夹持张紧后，送料机构2将夹持张紧的FPC运送至待测位给测试机构进行测试。所述测试机构包括若干两相对设置的X轴滑动机构5、与若干两相对设置的X轴滑动机构5滑动连接的若干两相对设置的Y轴滑动机构6、以及设置在每一Y轴滑动机构6上且与之滑动连接的一探针组件7；所述Y轴滑动机构6能沿着X轴滑动机构5滑动；所述探针组件7能沿着Y轴滑动机构6滑动。每一所述X轴滑动机构5均包括一龙门底座501、设置在龙门底座501上的第一驱动机构502与第一滑轨504、与第一驱动机构502输出端连接的第一丝杆503、以及与第一滑轨504滑动连接上第一滑块505。每一所述Y轴滑动机构6均包括一滑板601、设置在滑板601上的第二驱动机构603、与第二驱动机构603输出端连接的第二丝杆604、以及置于滑板601上且置于第二驱动机构603旁的第一导轨602；所述滑板601每一端均依次与第一丝杆503、第一滑块505连接。所述探针测组件置于第一导轨602上且与第二驱动机构603输出端的第二丝杆604连接。每一所述探针组件7均包括一连接板708、设置在连接板708上的第三驱动机构701、与第三驱动机构701输出端连接的同步带702、置于同步带702旁的第二导轨703、置于同步带702上且与第二导轨703滑动连接的探针连接件、设置在探针连接件上的探针707、以及置于探针707旁且置于连接板708上的拍照机构；所述拍照机构包括一相机704、镜头705、LED光源706；所述镜头704一端与相机704连接，另一端穿过LED光源706。所述第三驱动机构701驱动同步带702时，同步带702带着探针707伸出是进行检测，缩回是回安全位避让。若干所述探针组件包括两上探针组件、以及与置于两上探针组件下方的两下探针组件；所述两上探针组件包括左上探针组件与右上探针组件；所述两下探针组件包括左下探针组件与右下探针组件。所述相机70本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高速高精度探针电测机构，其特征在于，包括送料机构，以及置于送料机构下方的接料机构、置于接料机构两侧且与送料机构滑动连接的夹持张紧机构、置于夹持张紧机构旁的测试机构；所述接料机构接住的FPC经夹持张紧机构夹持张紧后，送料机构将夹持张紧的FPC运送至待测位给测试机构进行测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种高速高精度探针电测机构，其特征在于，包括送料机构，以及置于送料机构下方的接料机构、置于接料机构两侧且与送料机构滑动连接的夹持张紧机构、置于夹持张紧机构旁的测试机构；所述接料机构接住的FPC经夹持张紧机构夹持张紧后，送料机构将夹持张紧的FPC运送至待测位给测试机构进行测试。


2.根据权利要求1所述的高速高精度探针电测机构，其特征在于，所述测试机构包括若干两相对设置的X轴滑动机构、与若干两相对设置的X轴滑动机构滑动连接的若干两相对设置的Y轴滑动机构、以及设置在每一Y轴滑动机构上且与之滑动连接的一探针组件。


3.根据权利要求2所述的高速高精度探针电测机构，其特征在于，每一所述X轴滑动机构均包括一龙门底座、设置在龙门底座上的第一驱动机构与第一滑轨、与第一驱动机构输出端连接的第一丝杆、以及与第一滑轨滑动连接上第一滑块。


4.根据权利要求2所述的高速高精度探针电测机构，其特征在于，每一所述Y轴滑动机构均包括一滑板、设置在滑板上的第二驱动机构、与第二驱动机构输出端连接的第二丝杆、以及置于滑板上且置于第二驱动机构旁的第一导轨；所述滑板每一端均依次与第一丝杆、第一滑块连接。


5.根据权利要求2所述的高速高精度探针电测机构，其特征在于，每一所述探针组件均包括一连接板、设置在连接板上的第三驱动机构、与第三驱动机构输出端连接的同步带、置于同步带旁的第二导轨、置于同步带上且与第二导轨滑动连接的探针连接件、设置在探针连接件上的探针、以及置于探针旁且置于连接板上的拍照机构；所述拍照机构包括一相机、镜头、LED光源；所述镜头一端与相机连接，另一端穿...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓文明，黄永升，黄祥怀，
申请(专利权)人：深圳市大首自动化技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44