一种针孔反散射成像装置制造方法及图纸

技术编号:2598894 阅读:186 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种针孔反散射成像装置,包括X光源、扇形准直器及探测器。其结构特点是,所述X光源发射的射线经扇形准直器形成扇形束,扇形束射线射在被测物体上经过散射后通过所设的针孔准直器由阵列探测器接收。本发明专利技术同现有技术相比,可充分利用X光源,大大提高了成像速度、分辨率及机械稳定性能。适用于X射线检查系统的所有X射线成像装置,尤其是海关所用的各类集装箱检查系统。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及X射线检查系统的X射线成像装置。适用于各行业所用的X射线检查系统,特别是海关所用的集装箱检查系统。现有的X射线反散射成像已有许多装置,这些装置都是采用笔形束飞点扫描完成的。其工作原理如下X光源发射的射线经准直器成形为笔形束,射在被测物体上,射线经散射后由探测器接收。当准直器绕X光源旋转时,笔形束对被测物体形成飞点扫描。由于不同位置的信号不同,探测器的信号也相应变化,因此形成了一系列反散射图象。这种反散射成像的方法,虽然收集反散射射线的效率较高,但由于笔形束准直器在扫描中需要不断地旋转,因此存在着X光源的利用率低、扫描速度慢、机械性能不稳定缺点。为了克服上述现有技术中存在的缺点,本专利技术的目的是提供一种针孔反散射成像装置。使用它可充分利用X光源,提高扫描速度及其机械稳定性能。为了达到上述的目的,本专利技术的技术方案采用如下方式实现针孔反散射成像装置,包括X光源、扇形准直器及探测器。其结构特点是所述X光源发射的射线经扇形准直器形成扇形束,扇形束射线射在被测物体上经过反散射后通过所设的针孔准直器由阵列探测器接收。按照上述的技术方案,所述被测物体的透过方、与X光源发射的射线正面也设有接收X射线的探测器。本专利技术由于采用了X射线以扇形束形式成像,因而可充分利用X光源,大大提高成像速度及分辨率。又由于扇形准直器及针孔准直器属不运动部件,因而提高了成像装置的稳定性。同现有技术相比,虽然反散射射线的收集率低于飞点式扫描形式,但由于X光源利用率高,所以总探测效率并不低。本专利技术具有设计合理、结构简单、机械性能稳定的特点。下面结合附图和具体的实施方式对本专利技术作进一步的描述附图说明图1是本专利技术的一种实施方式原理示意图;图2是本专利技术的另一种实施方式原理示意图。实施例1.参看图1,针孔反散射成像装置,它包括X光源1、扇形准直器2及阵列探测器6,X光源1可以是X光管、直线电子加速器、同位素放射源或者其它光源。所述X光源1发射的射线经扇形准直器2形成扇形束3,扇形束3射线射在被测物体4上,射线经过反散射后通过所设的针孔准直器5由阵列探测器6接收。实施例2.参看图2,针孔反散射成像装置的另一种实施方式,技术特征相同部分省略叙述,与上述实施方式所不同的是,在被测物体4的透过方、与X光源发射的射线正面也设有接收X射线的探测器7。本专利技术实施例1适用于采用X射线检查系统的所有X射线成像装置。包括海关所用的各类集装箱检查系统、航空货物X射线检查系统、邮件X射线检查系统、旅客行李X射线检查系统及其它射线无损检测设备。本专利技术实施例2也适用上述的各种检查系统,尤其适用于海关所用的各类集装箱检查系统。权利要求1.一种用于X射线检查系统的针孔反散射成像装置,它包括X光源、扇形准直器及探测器,其特征在于所述X光源(1)发射的射线经扇形准直器(2)形成扇形束(3),扇形束(3)射线射在被测物体(4)上经过反散射后通过所设的针孔准直器(5)由阵列探测器(6)接收。2.按照权利要求1所述的针孔反散射成像装置,其特征在于所述被测物体(4)的透过方、与X光源(1)发射的射线正面也设有接收X射线的探测器(7)。3.按照权利要求1或2所述的针孔反散射成像装置,其特征在于所述X光源(1)可以是X光管、直线电子加速器、同位素放射源或者其它X光源。全文摘要一种针孔反散射成像装置,包括X光源、扇形准直器及探测器。其结构特点是,所述X光源发射的射线经扇形准直器形成扇形束,扇形束射线射在被测物体上经过散射后通过所设的针孔准直器由阵列探测器接收。本专利技术同现有技术相比,可充分利用X光源,大大提高了成像速度、分辨率及机械稳定性能。适用于X射线检查系统的所有X射线成像装置,尤其是海关所用的各类集装箱检查系统。文档编号G01N23/083GK1325025SQ00107479公开日2001年12月5日 申请日期2000年5月18日 优先权日2000年5月18日专利技术者刘以农, 高文焕, 李元景, 康克军, 金永杰, 李玉兰, 唐传祥, 李君利, 李荐民, 陈志强, 苗齐田, 程建平, 李政, 刘亚强 申请人:清华同方核技术股份有限公司, 清华大学 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于X射线检查系统的针孔反散射成像装置,它包括X光源、扇形准直器及探测器,其特征在于:所述X光源(1)发射的射线经扇形准直器(2)形成扇形束(3),扇形束(3)射线射在被测物体(4)上经过反散射后通过所设的针孔准直器(5)由阵列探测器(6)接收。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘以农高文焕李元景康克军金永杰李玉兰唐传祥李君利李荐民陈志强苗齐田程建平李政刘亚强
申请(专利权)人:清华同方威视技术股份有限公司清华大学
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]

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