触控光膜的检测方法和检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种触控光膜的检测方法和检测装置，所述检测方法包括：获取投影光幕投影面的参考图像，依据所述参考图像获取参考线的参考坐标；其中，所述投影面设置有参考线；获取触控光膜在所述投影光幕投影面的投影图像，依据所述投影图像获取所述触控光膜的投影坐标；将所述参考线的实际尺寸和所述参考坐标与所述投影坐标相结合确定所述触控光膜的投影参数。本发明专利技术的技术方案能够有效检测出触控光膜的投影参数。

【技术实现步骤摘要】
触控光膜的检测方法和检测装置
本专利技术涉及光检测
，尤其涉及一种触控光膜的检测方法和检测装置。
技术介绍
投影光膜作为一种新的触控输入方式，由于设置灵活而应用领域逐渐拓展。通常投影出的触控光膜具有一定的有效触控区域范围，需要对触控光膜在有效触控区域内的参数进行检测，确保投影出的触控光膜合格。但是目前并无有效检测触控光膜的方案。上述内容仅用于辅助理解本申请的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
技术实现思路
基于此，针对目前缺乏有效检测触控光膜参数的方案的问题，提供一种触控光膜检测方法和检测装置，旨有效检测出触控光膜的参数。为实现上述目的，本专利技术提出的一种触控光膜的检测方法，获取投影光幕投影面的参考图像，依据所述参考图像获取参考线的参考坐标；其中，所述投影面设置有参考线；获取触控光膜在所述投影光幕投影面的投影图像，依据所述投影图像获取所述触控光膜的投影坐标；将所述参考线的实际尺寸和所述参考坐标与所述投影坐标相结合确定所述触控光膜的投影参数。可选地，所述获取投影光幕投影面的参考图像的步骤之前，包括：获取触控光膜的有效触控范围，依据所述有效触控范围确定所述投影光幕距离光膜发生器的触控近端和触控远端；其中，所述光膜发生器用于发射触控光膜；所述获取投影光幕投影面的参考图像，依据所述参考图像获取参考线的参考坐标的步骤，包括：将所述投影光幕移动至所述触控近端，获取所述投影光幕投影面的第一参考图像，依据所述第一参考图像获取参考线的第一参考坐标；其中，所述参考图像包括第一参考图像，所述参考坐标包括第一参考坐标；所述获取触控光膜在所述投影光幕投影面的投影图像，依据所述投影图像获取所述触控光膜的投影坐标的步骤，包括：获取触控光膜在所述投影光幕投影面的第一投影图像，依据所述第一投影图像获取第一投影坐标；其中，所述投影图像包括第一投影图像，所述投影坐标包括第一投影坐标。可选地，所述参考线和所述投影面的反射率不同；所述依据所述第一参考图像获取参考线的第一参考坐标的步骤，包括：获取所述第一参考图像的参考亮度，对所述第一参考图像的参考亮度进行二值化处理；依据二值化处理后的明暗位置确定所述参考线的第一参考坐标。可选地，所述依据所述第一投影图像获取第一投影坐标的步骤，包括：获取所述第一投影图像的投影亮度，对所述第一投影图像的投影亮度进行二值化处理；依据二值化处理后的明暗位置确定所述第一投影图像的第一投影坐标。可选地，所述参考线包括垂直于所述触控光膜的纵向边和平行于所述触控光膜的横向边，所述纵向边长度为A，所述横向边长度为B，所述第一参考坐标的纵向坐标包括纵向两端的L0和L1，所述第一投影坐标的纵向坐标包括纵向两端的L0`和L1`，所述触控光膜的纵向下方设置触控基准面，所述投影参数包括所述第一投影图像纵向方向的中心点距离所述触控基准面的第一距离C0，则C0＝[((L1`+L0`)/2)－((L1+L0)/2)]×[A/(L1－L0)]。可选地，所述获取投影光幕投影面的参考图像，依据所述参考图像获取参考线的参考坐标的步骤，包括：将所述投影光幕移动至所述触控远端，获取所述投影光幕投影面的第二参考图像，依据所述第二参考图像获取参考线的第二参考坐标；其中，所述参考图像还包括第二参考图像，所述参考坐标还包括第二参考坐标；所述获取触控光膜在所述投影光幕投影面的投影图像，依据所述投影图像获取所述触控光膜的投影坐标的步骤，包括：获取所述投影光幕投影面的第二投影图像，依据所述第二投影图像获取所述触控光膜的第二投影坐标；其中，所述投影图像还包括第二投影图像，所述投影坐标还包括第二投影坐标。可选地，所述投影参数还包括所述第二投影图像纵向方向的中心点与所述触控基准面的第二距离C1，依据所述第二参考坐标和所述第二投影坐标确定C1；所述投影参数还包括所述触控光膜的倾斜角δ，则其中，F0为所述投影光幕处于所述触控近端与所述光膜发生器的距离，F1为所述投影光幕处于所述触控远端与所述光膜发生器的距离。可选地，所述参考线包括垂直于所述触控光膜的纵向边和平行于所述触控光膜的横向边，所述纵向边长度为A，所述横向边长度为B，所述第一参考坐标的纵向坐标包括纵向两端的L0和L1，所述第一投影坐标的纵向坐标包括纵向两端的L0`和L1`，所述投影参数包括触控光膜厚度H，则H＝[(L1`－L0`)/(L1－L0)]×A。可选地，所述投影参数还包括所述触控光膜的亮度均匀值，所述检测方法还包括：获取所述第一投影图像所有像素点的亮度信息，依据所述亮度信息计算亮度平均值；依据所述亮度平均值计算所述触控光膜的亮度均匀值；其中，亮度信息为Di，亮度平均值n为像素点数量，则所述触控光膜的亮度均匀值σ，则此外，为了实现上述目的，本专利技术还提供一种触控光膜的检测装置，所述检测装置包括：获取模块，用于获取投影光幕投影面的参考图像，依据所述参考图像获取参考线的参考坐标；其中，所述投影面设置有参考线；获取模块，还用于获取触控光膜在所述投影光幕投影面的投影图像，依据所述投影图像获取所述触控光膜的投影坐标；控制模块，用于将所述参考线的实际尺寸和所述参考坐标与所述投影坐标相结合确定所述触控光膜的投影参数。本专利技术提出的技术方案中，在投影光幕的投影面设置参考线，获取带有参考线的参考图像，依据参考图像确定参考线的参考坐标，可以理解的是，参考线的实际尺寸和参考坐标之间具有相对应的对应关系。获取触控光膜在投影光幕投影面的投影图像，依据投影图像获取触控光膜的投影坐标，利用参考线的实际尺寸和参考坐标之间的对应关系，将参考线的实际尺寸和参考坐标与投影坐标相结合确定触控光膜的投影参数。本专利技术的技术方案，依据在投影光幕的投影面设置参考线，有效的计算得出触控光膜的投影参数。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1为本专利技术触控光膜检测方法第一实施例的流程示意图；图2为本专利技术触控光膜检测方法第二实施例的流程示意图；图3为本专利技术触控光膜检测方法第三实施例的流程示意图；图4为本专利技术触控光膜检测方法第四实施例的流程示意图；图5为本专利技术触控光膜检测方法第六实施例的流程示意图；图6为本专利技术触控光膜检测方法第九实施例的流程示意图；图7为本专利技术触控光膜检测装置的结构示意图；图8为本专利技术触控光膜检测装置中投影光幕投影面的示意图。附图标号说明：标号名称标号名称<本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种触控光膜的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：/n获取投影光幕投影面的参考图像，依据所述参考图像获取参考线的参考坐标；其中，所述投影面设置有参考线；/n获取触控光膜在所述投影光幕投影面的投影图像，依据所述投影图像获取所述触控光膜的投影坐标；/n将所述参考线的实际尺寸和所述参考坐标与所述投影坐标相结合确定所述触控光膜的投影参数。/n

【技术特征摘要】
1.一种触控光膜的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：
获取投影光幕投影面的参考图像，依据所述参考图像获取参考线的参考坐标；其中，所述投影面设置有参考线；
获取触控光膜在所述投影光幕投影面的投影图像，依据所述投影图像获取所述触控光膜的投影坐标；
将所述参考线的实际尺寸和所述参考坐标与所述投影坐标相结合确定所述触控光膜的投影参数。


2.如权利要求1所述的触控光膜的检测方法，其特征在于，所述获取投影光幕投影面的参考图像的步骤之前，包括：
获取触控光膜的有效触控范围，依据所述有效触控范围确定所述投影光幕距离光膜发生器的触控近端和触控远端；其中，所述光膜发生器用于发射触控光膜；
所述获取投影光幕投影面的参考图像，依据所述参考图像获取参考线的参考坐标的步骤，包括：
将所述投影光幕移动至所述触控近端，获取所述投影光幕投影面的第一参考图像，依据所述第一参考图像获取参考线的第一参考坐标；其中，所述参考图像包括第一参考图像，所述参考坐标包括第一参考坐标；
所述获取触控光膜在所述投影光幕投影面的投影图像，依据所述投影图像获取所述触控光膜的投影坐标的步骤，包括：
获取触控光膜在所述投影光幕投影面的第一投影图像，依据所述第一投影图像获取第一投影坐标；其中，所述投影图像包括第一投影图像，所述投影坐标包括第一投影坐标。


3.如权利要求2所述的触控光膜的检测方法，其特征在于，所述参考线和所述投影面的反射率不同；
所述依据所述第一参考图像获取参考线的第一参考坐标的步骤，包括：
获取所述第一参考图像的参考亮度，对所述第一参考图像的参考亮度进行二值化处理；
依据二值化处理后的明暗位置确定所述参考线的第一参考坐标。


4.如权利要求3所述的触控光膜的检测方法，其特征在于，所述依据所述第一投影图像获取第一投影坐标的步骤，包括：
获取所述第一投影图像的投影亮度，对所述第一投影图像的投影亮度进行二值化处理；
依据二值化处理后的明暗位置确定所述第一投影图像的第一投影坐标。


5.如权利要求4所述的触控光膜的检测方法，其特征在于，所述参考线包括垂直于所述触控光膜的纵向边和平行于所述触控光膜的横向边，所述纵向边长度为A，所述横向边长度为B，所述第一参考坐标的纵向坐标包括纵向两端的L0和L1，所述第一投影坐标的纵向坐标包括纵向两端的L0`和L1`，所述触控光膜的纵向下方设置触控基准面，所述投影参数包括所述第一投影图像纵向方向的中心点距离所述触控基准面的第一距离C0，则
C0＝[((L1`+L0`)/2)－((L1+L0)/2)]×[A/(L...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋林东，
申请(专利权)人：歌尔光学科技有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37