缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质制造方法及图纸

技术编号:25953215 阅读:22 留言:0更新日期:2020-10-17 03:45
本申请提供一种缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质,该方法通过获取待测印刷品目标区域的不同角度的待测印刷图片,目标区域中含有待测对象。然后将各待测印刷图片组合得到对应于目标区域的待测平面图,介质获取待测平面图中的待测对象,与预设的标准底稿图中标准对象之间的差异区域。在差异区域不为空时,确定待测对象存在缺陷。这样,通过获取待测平面图中的待测对象,与预设的标准底稿图中标准对象之间的差异区域,即可有效实现对于待测对象是否存在缺陷的确定。整个方案实现简单,相对于传统的人工检测方式而言,成本更低、效率高、检测准确度也更高,能够有效适用于工业生产中。

【技术实现步骤摘要】
缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质
本申请涉及图像处理
,具体而言,涉及一种缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质。
技术介绍
在实际生活中存在着许多非平面的物体上印刷有相应内容的情况,比如罐装商品(如可口可乐的易拉罐等)上印刷有配料表、产地、保质期等文字。而对于这些非平面印刷品上的对象,若采用传统的人工检测方式来实现的话,存在有成本高、效率低、主观性强、易疲劳等缺点,无法满足工业生产的需求。
技术实现思路
本申请实施例的目的在于提供一种缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质,用以实现对于非平面印刷品上印刷的对象的缺陷检测。本申请实施例提供了一种缺陷检测方法,包括:获取待测印刷品目标区域的不同角度的待测印刷图片;所述目标区域中含有待测对象;将各所述待测印刷图片组合得到对应于所述目标区域的待测平面图;获取所述待测平面图中的待测对象,与预设的标准底稿图中标准对象之间的差异区域;在所述差异区域不为空时,确定所述待测对象存在缺陷。在上述实现过程中,通过获取待测印刷品目标区域的不同角度的待测印刷图片,将各个角度的待测印刷图片进行组合,得到对应于目标区域的待测平面图,从而使得待测平面图得以和标准底稿图进行对标。通过获取待测平面图中的待测对象,与预设的标准底稿图中标准对象之间的差异区域,即可有效实现对于待测对象是否存在缺陷的确定。整个方案实现简单,通过将不同角度的待测印刷图片进行组合,从而得到待测平面图,进而通过待测平面图与标准底稿图的比对,即可有效确定出待测对象是否存在缺陷,实现缺陷检测。相对于传统的人工检测方式而言,成本更低、效率高、检测准确度也更高,能够有效适用于工业生产中。进一步地,所述将各所述待测印刷图片组合得到对应于所述目标区域的待测平面图,包括:将各所述待测印刷图片分别与所述标准底稿图进行透视变换并对齐;将各所述待测印刷图片按照各自的对齐位置进行叠加,得到待测平面图。在上述实现过程中,先将各待测印刷图片分别与所述标准底稿图进行透视变换并对齐,从而可以使得每张待测印刷图片都会对齐成标准平面电子图的样式,进而将各待测印刷图片按照各自的对齐位置进行叠加,即可有效得到待测平面图。进一步地,所述获取所述待测平面图中待测对象,与预设的标准底稿图中标准对象之间的差异区域,包括:将所述待测平面图中的待测对象和所述标准底稿图中的标准对象的像素值设为A值,并将所述待测平面图中待测对象外的区域和所述标准底稿图中标准对象外的区域的像素值设为B值;所述A和B的值不相等;对标准底稿图中各像素点和待测平面图中各像素点的做差,得到差值图;根据所述差值图中非零像素点聚集形成的各非零像素区域,确定所述差异区域;所述非零像素点为像素值不为0的像素点。在上述实现过程中,将待测平面图和标准底稿图进行二值化,使得待测对象和标准对象的像素值为A值,其余内容的像素值为B值。从而将二值化后的待测平面图和标准底稿图相减后,若某处存在缺陷,那么相减后的差值即不为0,据此即可确定出待测平面图中待测对象,与预设的标准底稿图中标准对象之间的差异区域。整个实现过程基于图像二值化技术实现,实现方式简单可靠。进一步地,所述根据所述差值图中非零像素点聚集形成的各非零像素区域,确定所述差异区域,包括:对所述差值图进行去噪处理;确定去噪处理后的差值图中,非零像素点聚集形成的各非零像素区域为所述差异区域。应当理解的是,由于在相机拍摄各待测印刷图片时,可能存在相机成像过程中材料反光、油墨粗细、杂质、相机本身成像能力等原因,因此可能会造成待测平面图中可能存在部分内容与标准底稿图相比,具有微小差异,而这些微小差异并不属于缺陷,在差值图中是噪声的。因此,在上述实现过程中,通过对差值图进行去噪,可以实现对于非缺陷点的过滤,从而提高缺陷检测的准确性。进一步地,所述对所述差值图进行去噪处理,包括:判断所述差值图中,由非零像素点聚集形成的各非零像素区域内,像素点个数是否大于预设阈值;若是,保留所述非零像素区域;否则,将所述非零像素区域内的各像素点的值置0。在实际应用过程中,在得到差值图后,可能存在分布于差值图上不同位置的,由非零像素点所聚集形成的多个非零像素区域。这些非零像素区域中,有些是由于印刷缺陷所导致的,而有的则可能是因为相机拍摄过程中,由于材料反光、油墨粗细等原因导致形成的待测平面图和标准底稿图相比,具有微小差异,进而这些微小差异导致差值图中存在非缺陷导致的非零像素区域。通过设置像素点的数量阈值,从而将像素点个数小于等于阈值的非零像素区域内的各像素点的值置0,可以实现对于非缺陷导致的非零像素点的过滤,从而提高缺陷检测的准确性。进一步地,所述方法还包括:在所述差异区域不为空时,根据所述差值图中的差异区域,确定所述差异区域在所述待测平面图中对应的第一缺陷区域;根据各所述待测印刷图片组合成所述待测平面图时的位置关系,确定出所述第一缺陷区域在各所述待测印刷图片中对应的第二缺陷区域,并在各所述待测印刷图片中标记出所述第二缺陷区域。在上述实现过程中,通过差值图中的差异区域即可逆推得到各所述待测印刷图片中的缺陷区域,进而可以在各待测印刷图片中标记出缺陷区域,从而便于用户知晓。进一步地,所述待测对象为印刷文字。本申请实施例还提供了一种缺陷检测装置,包括:获取模块,组合模块和确定模块;所述获取模块,用于获取待测印刷品目标区域的不同角度的待测印刷图片;所述目标区域中含有待测对象;所述组合模块,用于将各所述待测印刷图片组合得到对应于所述目标区域的待测平面图;所述获取模块,还用于获取所述待测平面图中待测对象,与预设的标准底稿图中标准对象之间的差异区域;所述确定模块,用于根据所述差异区域确定所述待测对象存在缺陷的缺陷位置。本申请实施例还提供了一种电子设备,包括:数据接口、处理器、存储器及通信总线;所述数据接口用于获取待测印刷图片;所述通信总线用于实现所述数据接口、处理器和存储器之间的连接通信;所述处理器用于执行存储器中存储的一个或者多个程序,以实现上述任一种的缺陷检测方法。本申请实施例中还提供了一种可读存储介质,所述可读存储介质存储有一个或者多个程序,所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行,以实现上述任一种的缺陷检测方法。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案,下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本申请的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本申请实施例提供的一种缺陷检测方法的流程示意图;图2为本申请实施例提供的一种透视变换的示意图;图3为本申请实施例提供的一种较具体的缺陷检测过程的示意图;图4为本申请实施例提供的一种缺陷检测装置的结构示意图;图5为本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。具体实施方式下面将结合本申请实施例中的附图本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种缺陷检测方法,其特征在于,包括:/n获取待测印刷品目标区域的不同角度的待测印刷图片;所述目标区域中含有待测对象;/n将各所述待测印刷图片组合得到对应于所述目标区域的待测平面图;/n获取所述待测平面图中待测对象,与预设的标准底稿图中标准对象之间的差异区域;/n在所述差异区域不为空时,确定所述待测对象存在缺陷。/n

【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法,其特征在于,包括:
获取待测印刷品目标区域的不同角度的待测印刷图片;所述目标区域中含有待测对象;
将各所述待测印刷图片组合得到对应于所述目标区域的待测平面图;
获取所述待测平面图中待测对象,与预设的标准底稿图中标准对象之间的差异区域;
在所述差异区域不为空时,确定所述待测对象存在缺陷。


2.如权利要求1所述的缺陷检测方法,其特征在于,所述将各所述待测印刷图片组合得到对应于所述目标区域的待测平面图,包括:
将各所述待测印刷图片分别与所述标准底稿图进行透视变换并对齐;
将各所述待测印刷图片按照各自的对齐位置进行叠加,得到待测平面图。


3.如权利要求1所述的缺陷检测方法,其特征在于,所述获取所述待测平面图中待测对象,与预设的标准底稿图中标准对象之间的差异区域,包括:
将所述待测平面图中的待测对象和所述标准底稿图中的标准对象的像素值设为A值,并将所述待测平面图中待测对象外的区域和所述标准底稿图中标准对象外的区域的像素值设为B值;所述A和B的值不相等;
对标准底稿图中各像素点和待测平面图中各像素点的做差,得到差值图;
根据所述差值图中非零像素点聚集形成的各非零像素区域,确定所述差异区域;所述非零像素点为像素值不为0的像素点。


4.如权利要求3所述的缺陷检测方法,其特征在于,所述根据所述差值图中非零像素点聚集形成的各非零像素区域,确定所述差异区域,包括:
对所述差值图进行去噪处理;
确定去噪处理后的差值图中,非零像素点聚集形成的各非零像素区域为所述差异区域。


5.如权利要求4所述的缺陷检测方法,其特征在于,所述对所述差值图进行去噪处理,包括:
判断所述差值图中,由非零像素点聚集形成的各非零像...

【专利技术属性】
技术研发人员:汤寅航林国森张发恩
申请(专利权)人:创新奇智上海科技有限公司
类型:发明
国别省市:上海;31

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