识别方法及装置、电子设备、存储介质制造方法及图纸

本申请提供了一种识别方法及装置、电子设备、存储介质。该方法包括：获取测试点对应的触摸变化量；计算所述测试点中符合第一预设条件的目标测试点个数；所述第一预设条件包括：所述测试点对应的触摸变化量大于触摸变化量平均值，且所述测试点是连通的；当所述目标测试点个数大于测试点个数预设值时，确定当前帧为叠屏放下有效帧。该方法实现了叠屏模式的识别，从而提高触摸识别的准确性。

【技术实现步骤摘要】
识别方法及装置、电子设备、存储介质
本申请涉及触控
，特别涉及一种识别方法及装置、电子设备、存储介质。
技术介绍
在触控系统中，屏幕上的触摸传感器会按照时间间隔采集屏幕触摸量，将实时的屏幕触摸量减去基准触摸量，可以获得触摸变化量。触摸变化量可以指示对屏幕的触摸行为。在一定的条件下，基准触摸量可以自动调整，以保证触摸识别的准确性。在两个触控设备亮屏的情况下，屏幕对着相互贴近时，在两块屏幕叠在一起的瞬间，两块屏幕的叠屏区域都会出现屏幕触摸量增大的情况。当前技术中，在无触摸情况下，会根据屏幕触摸量的变化，对基准触摸量进行微调，使其更加精确的表示最近邻时刻的数据触摸事件。在叠屏事件中，屏幕触摸量的增加会触发基准触摸量微调机制，使其调整到增大后的屏幕触摸量附近。实际测试情形中，需识别该事件，并在判定为该事件时采取方案，保证在抬起屏幕后基准触摸量恢复正常，不影响正常触摸事件的识别。
技术实现思路
本申请实施例提供了一种识别方法，实现了叠屏模式的识别，从而在后续触摸识别时可以根据是否出现叠屏模式，确定是否更新基准触摸量。本申请实施例提供了一种识别方法，所述方法包括：获取测试点对应的触摸变化量；计算所述测试点中符合第一预设条件的目标测试点个数；所述第一预设条件包括：所述测试点对应的触摸变化量大于触摸变化量平均值，且所述测试点是连通的；当所述目标测试点个数大于测试点个数预设值时，确定当前帧为叠屏放下有效帧。在一实施例中，所述方法还包括：按照预设的时间间隔，重复进行触摸变化量的获取和叠屏放下有效帧的判断操作，当所述叠屏放下有效帧持续帧数大于帧数预设值时，确定当前为叠屏放下模式。在一实施例中，所述获取测试点对应的触摸变化量，包括：获取全屏测试点对应的触摸感应量。在一实施例中，所述计算所述测试点中符合第一预设条件的目标测试点个数之前，所述方法还包括：遍历全屏测试点，统计触摸变化量大于触摸变化量平均值的第一测试点个数；判断是否存在触摸变化量处在预设区间的第二测试点；判断是否满足第二预设条件，在满足第二预设条件时计算所述全屏测试点中的目标测试点个数；所述第二预设条件包括：存在所述第二测试点、所述触摸变化量平均值大于第一预设值、所述第一测试点个数大于第二预设值。在一实施例中，所述遍历全屏测试点，统计触摸变化量大于触摸变化量平均值的第一测试点个数，包括：判断全屏触摸变化量的最大值是否处于预设范围；在处于预设范围时，统计触摸变化量大于触摸变化量平均值的第一测试点个数。在一实施例中，所述计算所述测试点中符合第一预设条件的目标测试点个数，包括：选取一个第二测试点为第一起始测试点；搜索所述第一起始测试点的上、下、左、右位置的测试点中大于触摸变化量平均值的测试点；以大于触摸变化量平均值的测试点为第二起始测试点，重复搜索过程，直至不存在大于触摸变化量平均值的测试点；统计搜索到的大于触摸变化量平均值的测试点个数；其中，统计得到的所述测试点个数作为目标测试点个数。在一实施例中，所述测试点个数预设值采用以下步骤计算得到：根据触摸变化量平均值，计算触摸变化量等级；如果触摸变化量等级等于0，测试点个数预设值为所述第二预设值；否则，测试点个数预设值为所述第二预设值除以所述触摸变化量等级所得结果。在一实施例中，所述确定当前为叠屏放下模式之后，所述方法还包括：将触发基准触摸量更新机制的标志位置为否。在一实施例中，所述确定当前为叠屏放下模式之后，所述方法还包括：获取测试点对应的触摸变化量；遍历测试点，获取触摸变化量小于第三预设值的第三测试点个数，以及触摸变化量大于触摸变化量平均值的第一测试点个数；判断是否满足第三预设条件，在满足第三预设条件时确定当前帧为叠屏抬起有效帧；所述第三预设条件包括：触摸变化量平均值小于第一预设值、第一测试点个数小于测试点个数预设值、第三测试点个数小于测试点个数预设值。在一实施例中，所述方法还包括：按照预设的时间间隔，重复进行触摸变化量的获取和叠屏抬起有效帧的判断操作，当所述叠屏抬起有效帧持续帧数大于帧数预设值时，确定当前为叠屏抬起模式。在一实施例中，所述确定当前为叠屏抬起模式之后，所述方法还包括：开启对基准触摸量的更新。另一方面，本申请还提供了一种识别装置，所述装置包括：变化量获取模块，用于获取测试点对应的触摸变化量；个数计算模块，用于计算所述测试点中符合第一预设条件的目标测试点个数；所述第一预设条件包括：所述测试点对应的触摸变化量大于触摸变化量平均值，且所述测试点是连通的；叠屏判断模块，用于当所述目标测试点个数大于测试点个数预设值时，确定当前帧为叠屏放下有效帧。进一步地，本申请还提供了一种电子设备，所述电子设备包括：处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为执行本申请实施例提供的识别方法。进一步地，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序可由处理器执行以完成本申请实施例提供的识别方法。本申请上述实施例提供的技术方案，通过获取测试点对应的触摸变化量，计算所述测试点中符合第一预设条件的目标测试点个数，当所述目标测试点个数大于测试点个数预设值时，确定当前帧为叠屏放下有效帧，实现了对于叠屏模式的识别，从而在后续触摸识别时可以根据是否出现叠屏模式，确定是否更新基准触摸量，提高触摸识别的准确性。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。图1为本申请一实施例提供的识别方法的应用场景示意图；图2为本申请另一实施例提供的识别方法的应用场景示意图；图3为本申请又一实施例提供的识别方法的应用场景示意图；图4为本申请一实施例提供的识别方法的流程示意图；图5为图3对应实施例中步骤S320之前的流程示意图；图6为图3对应实施例中步骤S320的细节流程图；图7为图3对应实施中步骤S330之后的流程示意图；图8为本申请另一实施例提供的识别方法的过程示意图；图9为本申请一实施例提供的识别装置的框图。具体实施方式下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述。相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。图1为本申请实施例提供的识别方法的场景示意图。如图1所示，该场景包括：第一触控设备110和第二触控设备120。第一触控设备110和第二触控设备120可以是手机、平板电脑等，第一触控设备11本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种识别方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取测试点对应的触摸变化量；/n计算所述测试点中符合第一预设条件的目标测试点个数；所述第一预设条件包括：所述测试点对应的触摸变化量大于触摸变化量平均值，且所述测试点是连通的；/n当所述目标测试点个数大于测试点个数预设值时，确定当前帧为叠屏放下有效帧。/n

【技术特征摘要】
1.一种识别方法，其特征在于，所述方法包括：
获取测试点对应的触摸变化量；
计算所述测试点中符合第一预设条件的目标测试点个数；所述第一预设条件包括：所述测试点对应的触摸变化量大于触摸变化量平均值，且所述测试点是连通的；
当所述目标测试点个数大于测试点个数预设值时，确定当前帧为叠屏放下有效帧。


2.根据权利要求1所述的识别方法，其特征在于，所述方法还包括：
按照预设的时间间隔，重复进行触摸变化量的获取和叠屏放下有效帧的判断操作，当所述叠屏放下有效帧持续帧数大于帧数预设值时，确定当前为叠屏放下模式。


3.根据权利要求1所述的识别方法，其特征在于，所述获取测试点对应的触摸变化量，包括：
获取全屏测试点对应的触摸变化量。


4.根据权利要求3所述的识别方法，其特征在于，所述计算所述测试点中符合第一预设条件的目标测试点个数之前，所述方法还包括：
遍历全屏测试点，统计触摸变化量大于触摸变化量平均值的第一测试点个数；
判断是否存在触摸变化量处在预设区间的第二测试点；
判断是否满足第二预设条件，在满足第二预设条件时计算所述全屏测试点中的目标测试点个数；所述第二预设条件包括：存在所述第二测试点、所述触摸变化量平均值大于第一预设值、所述第一测试点个数大于第二预设值。


5.根据权利要求4所述的识别方法，其特征在于，所述遍历全屏测试点，统计触摸变化量大于触摸变化量平均值的第一测试点个数，包括：
判断全屏触摸变化量的最大值是否处于预设范围；
在处于预设范围时，统计触摸变化量大于触摸变化量平均值的第一测试点个数。


6.根据权利要求4所述的识别方法，其特征在于，所述计算所述测试点中符合第一预设条件的目标测试点个数，包括：
选取一个第二测试点为第一起始测试点；
搜索所述第一起始测试点的上、下、左、右位置的测试点中大于触摸变化量平均值的测试点；
以大于触摸变化量平均值的测试点为第二起始测试点，重复搜索过程，直至不存在大于触摸变化量平均值的测试点；
统计搜索到的大于触摸变化量平均值的测试点个数；其中，统计得到的所述测试点个数作为目标测试点个数。


7.根据权利要求4所述的识别方法，其特征在于，所述测试点个数预设值采用以下步骤计算...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫俊超，
申请(专利权)人：北京集创北方科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11