本发明专利技术涉及一种可见光测量装置，涉及一种与分光光度计配合使用的附件，更具体地说是涉及一种反射光谱装置，其特征在于由一根入射传导光纤（１）和一根反射传导光纤（２）组成，所述的入射传导光纤（１）接样品室（１１）的出光口（３）与反射传导光纤（２）接样品室（１１）的入光口（４）并联成一体。本发明专利技术所述的反射光谱装置不仅光传递损失特别小，而且分光光度计与被测样品之间的位置可以任意摆放，使用方便灵活。
【技术实现步骤摘要】
技术介绍
本专利技术涉及一种可见光测量装置，涉及一种与分光光度计配合使用的附件，更具体地说是涉及一种反射光谱装置。现有技术分光光度计用于溶液的吸收光谱测量，在国内广泛用于生产、科研和教学中。但是要用分光光度计来检测固体或粉末样品，则要使用反射附件——积分球来测量其反射光谱。这种使用积分球及其测量方法，不仅积分球的价格昂贵，而且测量时样品必须覆盖在积分球的上方或侧面，测量粉末样品必须经过压片处理，同时也不便于进行痕量样品分析。国家知识产权局1999年6月2日授权公告的一种“固相反射装置”(授权公告号为2322135)的技术专利，该专利的主要技术特征是，外壳上设有一入光口和一向下的出光口，外壳内设有一透镜和一平面反射镜，且透镜的轴线与平面反射镜的法线成一夹角。该技术所披露的技术方案尽管较好地解决了上述技术问题，但尚存在下述不足1、通过透镜把入射光聚焦于平面反射镜，再折射到被测样品上，光通量损失大，直接影响检测精度；2、分光光度计、被测样品和所述的“固相反射装置”三者的相对位置固定不变，况且光的传输必须还要在暗室内进行，因此使用十分不便。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是减小光通量损失，提供一种使用方便灵活的反射光谱装置。本专利技术解决上述问题的技术解决方案是一种反射光谱装置，其特征在于由一根入射传导光纤和一根反射传导光纤组成，所述的入射传导光纤接样品室的出光口与反射传导光纤接样品室的入光口并联成一体。由于入射传导光纤和反射传导光纤接样品室的两个端口是独立的，光线在由入射传导光纤传递到反射传导光纤的过程中，必然受到传导光纤管壁的阻挡而损失。本专利技术上述技术方案的最佳实施方案是，所述的入射传导光纤接样品室的出光口与反射传导光纤接样品室的入光口由一三通传导光纤探头并联成一体。本专利技术所述的反射光谱装置的另一附加技术特征在于所述的三通传导光纤探头的横截面面积等于入射传导光纤与反射传导光纤横截面面积之和的0.5～1.5倍。由于专利技术使用光导纤维传递被测样品的入射光和反射光，因此不仅光传递损失特别小，而且使用方便灵活，分光光度计与被测样品之间的位置可以任意摆放，因为光导纤维十分柔软，可任意弯曲。其次，本专利技术所述的反射光谱装置的经济性也是显而易见的。具体实施例方式附图说明图1为本专利技术所述的反射光谱装置的一个最佳实施例的结构示意图；图2为本专利技术所述的反射光谱装置与分光光度计配合使用检测样品的原理图(图中箭头表示光线的传递方向)； 图3是把被测样品置于本专利技术所述的反射光谱装置之下的使用状态示意图(图中箭头表示光线的传递方向)；图4是把被测样品置于本专利技术所述的反射光谱装置之上的使用状态示意图(图中箭头表示光线的传递方向)；图5为使用现有分光光度计附件与使用本专利技术所述的反射光谱装置实测钴蓝的反射光谱的比较图；图6为使用本专利技术所述的反射光谱装置与不使用本专利技术所述的反射光谱装置实测耐尔蓝反射光谱及吸收光谱的比较图。实施例本专利技术所述的反射光谱装置的一个最佳实施方式如图1所示，并冠以标号8。参见图1，入射传导光纤1的出光口3与反射传导光纤2的入光口4由一三通传导光纤探头5并联成一体，三通传导光纤探头5的横截面积为入射传导光纤1与反射传导光纤2横截面积之和。入射传导光纤1与反射传导光纤2的长度和直径以及三通传导光纤探头5的横截面积可根据需要选用，以能够达到测量精度要求为宜。本例中所选用的入射传导光纤1与反射传导光纤2的长度均为30cm，直径都是1cm。以下结合附图简单介绍使用本专利技术所述的反射光谱装置的测量方法和实际测量结果，以便公众进一步了解本专利技术的优点和效果。图3是把被测样品置于本专利技术所述的反射光谱装置8之下的使用状态示意图。参见图3，图中标号9为721型分光光度计的样品室，先把本专利技术所述的反射光谱装置8的入射传导光纤1的进光口6和反射传导光纤2的出光口7从样品置入口伸进样品室9，再分别将入射传导光纤1的进光口6和反射传导光纤2的出光口7与样品室9的进光口和出光口连接，然后把被测样品10置于反射光谱装置8的三通传导光纤探头5下并调整好距离，即可接上分光光度计开始测量。图4是把被测样品置于本专利技术所述的反射光谱装置8之上的使用状态示意图。参见图4，反射光谱装置8与样品室9的连接方法与图3相同，所不同的是把被测样品10放在一微型样品室11内(具有光学玻璃底，容积为0.5ml)。测量时，以标准反射物(BaSO4、Al2O3等)调节仪器100％反射率，测量试样的相对反射率。采用Kubelka-Munk方程进行定量计算F(R′∞)＝(1-R′∞)2/2R′∞＝K′C图5中曲线a为使用专利技术所述的反射光谱装置8测量(以BaSO4为标准反射物)，曲线b为使用UV-365(日本岛津)分光光度计反射附件测量。两种仪器所测定的钴蓝反射光谱很好地吻合，均在450nm处有一最大反射峰，在495nm处有一较小反射峰，在570～640nm处出现一最小反射平台。图6中曲线a为专利技术所述的反射光谱装置8测量耐尔蓝的反射光谱(滤纸吸附)，曲线b为卸去专利技术所述的反射光谱装置8测定耐尔蓝溶液的吸收光谱。经比较表明反射光谱的反射峰与吸收光谱的吸收峰相对应。创造者用Al2O3稀释的CoAl2O4试样在600nm处做平行实验(如附表所示)，结果表明本专利技术所述的反射光谱装置性能稳定可靠，并已用于教学和科研中。附表平行实验结果 权利要求1.一种反射光谱装置，其特征在于由一根入射传导光纤(1)和一根反射传导光纤(2)组成，所述的入射传导光纤(1)接样品室(11)的出光口(3)与反射传导光纤(2)接样品室(11)的入光口(4)并联成一体。2.根据权利要求1所述的一种反射光谱装置，其特征在于所述的入射传导光纤(1)接样品室(11)的出光口(3)与反射传导光纤(2)接样品室(11)的入光口(4)由一三通传导光纤探头(5)并联成一体。3.根据权利要求2所述的一种反射光谱装置，其特征在于所述的三通传导光纤探头(5)的横截面面积等于入射传导光纤(1)与反射传导光纤(2)横截面面积之和的0.5～1.5倍。全文摘要本专利技术涉及一种可见光测量装置，涉及一种与分光光度计配合使用的附件，更具体地说是涉及一种反射光谱装置，其特征在于由一根入射传导光纤(1)和一根反射传导光纤(2)组成，所述的入射传导光纤(1)接样品室(11)的出光口(3)与反射传导光纤(2)接样品室(11)的入光口(4)并联成一体。本专利技术所述的反射光谱装置不仅光传递损失特别小，而且分光光度计与被测样品之间的位置可以任意摆放，使用方便灵活。文档编号G01N21/31GK1769864SQ200410052060公开日2006年5月10日 申请日期2004年11月5日 优先权日2004年11月5日专利技术者张平, 姚淼 申请人:广州大学本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种反射光谱装置，其特征在于由一根入射传导光纤（１）和一根反射传导光纤（２）组成，所述的入射传导光纤（１）接样品室（１１）的出光口（３）与反射传导光纤（２）接样品室（１１）的入光口（４）并联成一体。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张平，姚淼，
申请(专利权)人：广州大学，
类型：发明
国别省市：81[中国|广州]
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